CMOS與非門4011接成反相器組成的電平測試電路

2016-11-18 10:22
關(guān)鍵詞： 檢測電路 電路 CMOS
CMOS與非門4011接成反相器組成的電平測試電路 如圖為使用CMOS與非門4011接成反相器組成的電平測試電路。在該電路中，也可用非門代替4011。高電平顯示H，低電平顯示L。由于R2～R4已起限流作用，因此數(shù)碼管及其陽極端直接與正電源Vcc相連。將高、低電平均需發(fā)光的常亮筆段e、f經(jīng)R4接地，可減少驅(qū)動電流。