晶體管和共陰極數(shù)碼管組成的測(cè)試電路

2016-11-18 10:19
晶體管和共陰極數(shù)碼管組成的測(cè)試電路 如圖所示電路,正電源Vcc和地端GND用夾子與被測(cè)電路相連,UIN端通過探針接被測(cè)點(diǎn)。當(dāng)被測(cè)點(diǎn)為高電平時(shí),VT1導(dǎo)通,h、c、g筆段為高電平并發(fā)光,同時(shí)經(jīng)隔離管VD1使e、f筆段也發(fā)光,數(shù)碼管顯示出H字形;被測(cè)點(diǎn)為低電平時(shí),VT2導(dǎo)通,d、e、f筆段發(fā)光,顯示1字形。VD1、VD2起隔離作用,并完成邏輯“或”的功能(也可用二輸入端或門代替),使顯示H或L時(shí)e、f筆段均發(fā)光。調(diào)整R3、R4大小可改變高、低電平的檢測(cè)閾值,調(diào)整R5可改變數(shù)碼管發(fā)光亮度。