如圖所示為反射光強度的檢測電路。該電路由紅外發(fā)光二極管、光電二極管、CMOS模擬開關(guān)、運算放大器等組成。
電路正常工作時，首先使紅外發(fā)光二極管(LED)不發(fā)光，光電二極管接收到的外部干擾信號轉(zhuǎn)換為電信號后加至負方向積分電路，設(shè)此段時間為T1；然后使LED發(fā)光，光電二極管接收到的光信號轉(zhuǎn)換為電信號后加至正方向積分電路，設(shè)此段時間為T2。設(shè)T1=T2。則電路顯示出來所保持的信號與外部干擾無關(guān)，僅與反射光強度有關(guān)。保持信號的這段時間稱為保持時間，記為T3。相應積分器復位對應的時間為T4。
在工作頻率(50Hz或60Hz)下，為了有效地避免同步外部干擾，最好使T1=T2=N/f(N取整數(shù)，f為工作頻率)，或者取T1=T2<<1/f。
該電路結(jié)構(gòu)簡單，使用輸出功率為5～10mW的紅外發(fā)光二極管和光電二極管，可在距離10～100mm處檢測反射光強度。電路中運算放大器的輸入偏置電流應遠小于光電流。電路增益取決于積分時間和積分電容Ci。
本電路除了可以排除干擾檢測反射光強度(反射光率)外，還可用于檢測距離、傾斜和通過率，特別適用于檢測各種光強。此外，本電路還可用于霍爾元件的磁性測量及其他測量。
