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解決LTE手機射頻信道衰落測試方案
摘要: 傳統(tǒng)衰落特性測試方法采用外部衰落模擬器和噪聲源,通過常規(guī)射頻測試設備修改信號。這種設備顯著增加了整個測試系統(tǒng)的成本,并且需要額外的軟件控制并協(xié)調各個儀器。本文將介紹一種創(chuàng)新的全數(shù)字衰落模擬方法,這種方法可極大減少增加貴重設備所產生的成本,同時提高測量精度并縮短測試時間。
Abstract:
Key words :

     隨著全球蜂窩通信網(wǎng)絡運營商逐步采用LTE,滿足所有LTE要求的需求也在增長,其中包括衰落特性。第三代合作伙伴計劃(3GPP" title="3GPP">3GPP) 在其TS 36.521-1標準中規(guī)定了衰落的技術規(guī)格,用以測量LTE手機的衰落特性。

  傳統(tǒng)衰落特性測試方法采用外部衰落模擬器和噪聲源,通過常規(guī)射頻測試設備修改信號。這種設備顯著增加了整個測試系統(tǒng)" title="測試系統(tǒng)">測試系統(tǒng)的成本,并且需要額外的軟件控制并協(xié)調各個儀器。本文將介紹一種創(chuàng)新的全數(shù)字衰落模擬方法,這種方法可極大減少增加貴重設備所產生的成本,同時提高測量精度并縮短測試時間。

  模擬信號衰落

  如圖1所示,實際系統(tǒng)環(huán)境下,發(fā)射機與接收機之間存在無數(shù)條路徑。顯然,不可能模擬所有路徑,但為了滿足測試目的,那些損耗明顯大于“最佳”路徑且對接收信號質量造成負面影響的路徑將,我們將其忽略。同樣,延遲較長的路徑,也會產生很高損耗,不需要進行模擬。根據(jù)具有相似延遲的一組路徑,以及多普勒頻移效果的統(tǒng)計可進一步簡化模擬。而 Aeroflex 等效于基帶信號的射頻(RF)轉換,也許是最簡單的一種方法。

無線通信系統(tǒng)中的“衰弱”現(xiàn)象,源于多路徑信號傳輸

圖1 無線通信系統(tǒng)中的“衰弱”現(xiàn)象,源于多路徑信號傳輸

  如圖2(a)所示,射頻信道仿真一般采用兩種儀器進行測試,即衰落模擬器和加性高斯白噪聲(AWGN)源。衰落模擬器模仿基站與用戶設備之間隨時間變化的射頻路徑,AWGN信號源模仿其他小區(qū)或用戶產生干擾。

傳統(tǒng)的衰弱測試方法和Aeroflex 700<a class=射頻測試儀" title="射頻測試儀">射頻測試儀相比較" border="0" height="545" hspace="0" src="http://files.chinaaet.com/images/20110423/af713254-a549-40c8-97a6-a20a88971322.jpg" style="FILTER: ; WIDTH: 638px; HEIGHT: 545px" width="638" />

圖2 傳統(tǒng)的衰弱測試方法和Aeroflex 700射頻測試儀相比較

  除附加設備產生的成本外,這種傳統(tǒng)方法還存在以下局限:

  · 信號電平不穩(wěn),需要非常仔細的校準。

  · 外部組件產生介入損耗和延遲。

  · 不同測試需要手動改變連接。

  · 獨立的衰落RF信道數(shù)量有限—— 難以滿足軟切換(UMTS)、天線分集和MIMO(多路輸入/多路輸出)環(huán)境的測試要求。

  · 模擬組件降低信號質量。

  · 難以或不可能進行精確的重復測試。

  基帶衰落模擬

  相比之下,內置衰落模擬器選件的Aeroflex 7100射頻測試儀采用的測試方法如圖2(b)所示。7100 測試平臺(如圖3所示)衰落模擬功能滿足或優(yōu)于所有3GPP要求,并且可以根據(jù)LTE用戶設備空前靈活地分配小區(qū)和衰落路徑,不需要手動重新配置。內置衰落模擬器的7100測試儀可以進行完整的重復測試,包括模擬動態(tài)環(huán)境,可靠精確地測試MIMO系統(tǒng)。

Aeroflex 7100射頻測試儀

圖3 Aeroflex 7100射頻測試儀

  7100平臺中的每個基帶模塊是一種Micro-TCA卡,含有多種通用處理器(GPP)、DSP、FPGA和雙向高速數(shù)字鏈路。

  基帶模塊生成一個或大量小區(qū)輸出的基帶樣本,可以是SISO(單路輸入,單路輸出),也可以是MIMO。AWGN在信號到達RF模塊之前加入信號中,模擬其他干擾小區(qū)。這是一種全數(shù)字解決方案:增加衰落和噪聲不必采用任何 新的模擬器件。這樣可以消除校準問題,傳輸?shù)侥M器件的信號可以完全重用。

  每個基帶模塊中的多徑模擬器支持多達9個衰落路徑,每個路徑可在傳輸?shù)男盘栔屑尤腚S時間變化的獨立增益和延遲。

  Aeroflex 7100 射頻測試平臺提供可擴展的基帶和射頻源。由于加入基帶模塊,而不是射頻通道,衰落也是一種可擴展的信號源。通過添加7100單元,只需對物理連接稍做調整,即可增加小區(qū)、天線或衰落路徑。

  射頻工程師、系統(tǒng)集成人員和回歸測試工程師,需要隨時做好測試LTE新功能的準備。為滿足LTE未來需求,Aeroflex 7100衰落模擬器支持20 MHz 以下所有LTE帶寬,頻率范圍達6GHz。衰落模擬器支持所有3GPP衰落規(guī)格,便于用戶確定自己的設備是否符合3GPP測試技術要求。

  結束語

  Aeroflex 7100測試平臺的衰落模擬器和AWGN選件,專門用來克服傳統(tǒng)用戶設備測試方法在射頻通道中采用外部組件的局限性。此外,7100 測試儀還為滿足3GPP LTE的各種要求提供完整的測試解決方案,包括MIMO、天線分集和軟切換,相對于采購外部組件,可以極低的成本提供精確的、可重復的測試結果。

  7100數(shù)字射頻測試儀采用 Aeroflex 經(jīng)過驗證的 RF 和基帶技術,具有支持LTE 終端設備RF參數(shù)和協(xié)議測試的獨特功能。7100測試儀可從物理層到核心網(wǎng)絡IP基礎設施進行全面網(wǎng)絡模擬,以小型臺面測試儀為LTE移動設備提供完整的測試系統(tǒng)。

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