在快速變遷的市場環(huán)境下，設(shè)備性能不斷挑戰(zhàn)著ATE系統(tǒng)功能的極限，測試設(shè)備的淘汰速度加快，測試成本也隨之增加，因而需要與日益嚴苛的性能需求保持同步。 成本效益是NI吸引半導體測試客戶的最大亮點，NI基于PXI的半導體測試系統(tǒng)(STS)通過在半導體生產(chǎn)測試環(huán)境中引入NI和工業(yè)標準的PXI模塊降低了射頻和混合信號設(shè)備的測試成本。與傳統(tǒng)半導體自動化測試設(shè)備(ATE)相比，NI STS前沿用戶正在獲益于降低的生產(chǎn)成本和提高的吞吐量，并且可使用相同的硬件和軟件工具中進行特征性測試和生產(chǎn)。特別是對于混合信號測試，基于PXI的NI STS相比傳統(tǒng)ATE，以非常低的成本提供了最佳測試覆蓋率。

　　NI STS的開放模塊化架構(gòu)使得工程師能夠使用最前沿的PXI儀器，這是采用傳統(tǒng)具有封閉結(jié)構(gòu)的ATE無法實現(xiàn)的。這對于RF和混合信號測試尤其重要，因為最新半導體技術(shù)要求的測試覆蓋率往往超越了傳統(tǒng)ATE所能提供的。NI STS結(jié)合了TestStand測試管理軟件和LabVIEW系統(tǒng)設(shè)計軟件，具有一組針對半導體生產(chǎn)環(huán)境的豐富功能，包括可定制的操作界面、分選機/探針集成、具有引腳-通道映射且以設(shè)備為中心的編程、標準測試數(shù)據(jù)格式（STDF）報告以及集成式多點支持。

　　據(jù)NI中國自動化測試產(chǎn)品市場經(jīng)理陳宇睿介紹， NI半導體測試系統(tǒng)(STS)的開放式PXI架構(gòu)提供了客戶所需的靈活性，借助該架構(gòu)，客戶能夠重新配置和擴展測試平臺來滿足不斷提高的性能需求，而且可以沿用原有的投資設(shè)備，而不需要像傳統(tǒng)ATE系統(tǒng)那樣，除了得淘汰舊設(shè)備之外除了需要淘汰舊設(shè)備之外，隨著測試系統(tǒng)持續(xù)改良，通常還需要高成本、大規(guī)模的測試車間重新啟動作業(yè)。 IDT定時業(yè)務(wù)部門的測試演變正好成為這一產(chǎn)品應(yīng)用的典型案例。 一開始IDT使用昂貴的現(xiàn)成ATE系統(tǒng)。 很快便發(fā)現(xiàn)這么做的成本太高，所以IDT決定自行開發(fā)測試系統(tǒng)。 但是這又面臨新的問題，那就是硬件的淘汰率很高，而每次硬件的更新都需要重新設(shè)計整個系統(tǒng)，他們內(nèi)部支持團隊的人力支持也非常有限。最理想的解決方案就是開發(fā)或?qū)ふ乙环N基于開放式架構(gòu)的測試平臺，可以讓用戶繼續(xù)利用測試裝置，以原有的投資為基礎(chǔ)開發(fā)所需的系統(tǒng)，而非外加新功能，或是重新購買昂貴的大型ATE系統(tǒng)。 IDT需要的架構(gòu)必須能夠應(yīng)對硬件淘汰的問題，而且還可以隨著技術(shù)的發(fā)展重新開發(fā)。   NI STS正好就是這種架構(gòu)。NI STS的PXI平臺非常適合解決上述問題。 該系統(tǒng)在單個測試主機內(nèi)容納了多個PXI 機箱，提供了擴展功能，使得用戶可在測試儀內(nèi)部添加更強大的測試功能。 靈活的PXI開放式標準可以讓用戶根據(jù)需求選擇不同廠商的儀器，而不必受限于單個ATE硬件廠商所提供的有限產(chǎn)品。

　　其實模塊化在半導體ATE市場的玩家并不僅是NI一家，傳統(tǒng)巨頭愛德萬也將模塊化理念帶入自己的物聯(lián)網(wǎng)芯片測試解決方案中，當然相比于NI具有的PXI技術(shù)，愛德萬則是用插卡式模塊組合不同的測試系統(tǒng)以降低客戶測試的成本并提高靈活性。也許對于NI殺入半導體測試ATE市場的評價中，愛德萬的態(tài)度最為中肯“這個市場并不能拒絕外來者，NI的加入不會動搖愛德萬在這個領(lǐng)域的優(yōu)勢地位，但給這個市場帶來了全新的競爭思維，并且會非常有效的提升這個市場的技術(shù)演進”。