《電子技術(shù)應(yīng)用》
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一種抑制電路溫度漂移影響的高溫測量系統(tǒng)
2014年電子技術(shù)應(yīng)用第11期
管國云,孫向陽,汪 浩
電子科技大學 電子工程學院,四川 成都610054
摘要: 設(shè)計了一種耐155 ℃高溫的井下測量系統(tǒng),為了滿足多通道信號的測量,其前置放大電路采用分時復(fù)用的工作機制,刻度信號與目標信號通過模擬開關(guān)分時送至前置放大器。發(fā)射電流經(jīng)取樣后得到參考信號,運用數(shù)字相敏檢波算法計算其幅度和相位,為分時導(dǎo)通的刻度信號和目標信號提供相位基準。通過對模擬通道進行實時的刻度,確保測量結(jié)果不隨電路的溫度漂移而發(fā)生變化。實驗結(jié)果表明,該方法能有效地抑制溫漂對測量系統(tǒng)的影響。
中圖分類號: TP216+.1
文獻標識碼: A
文章編號: 0258-7998(2014)11-0071-04
High temperature measuring system suppressing impacts of temperature drift of circuits
Guan Guoyun,Sun Xiangyang,Wang Hao
School of Electronic Engineering, University of Electronic Science and Technology of China,Chengdu 610054,China
Abstract: This paper proposes a design of an under well measuring system for high temperature up to 155 ℃. In order to measure multi-channel signals, the pre-amplifiers employ a time-division scheme, calibration signal and sensor signals are sent to the amplifier separately through an analog multiplexer. The reference signal is sampled from transmitter circuit, so as to provide phase reference to both calibration and sensor signals. Amplitudes and phases are calculated in a digital phase sensitive detection algorithm. Due to the real-time calibration of analog channels, the measurement remains stable regardless the temperature drift of circuits in the channels. Experiment result shows that, this method can effectively suppress the impact of temperature drift.
Key words : well logging tool;high temperature;temperature drift;digital phase sensitive detection

0 引言

  目前新型的測井儀器為了獲得豐富的探測信息,其傳感器大都采用陣列的形式,如陣列感應(yīng)測井儀、聲波陣列測井儀和陣列側(cè)向測井儀等[1-4]。傳感器陣列的結(jié)構(gòu)比較復(fù)雜,與其對應(yīng)的電子測量與控制系統(tǒng)的規(guī)模也比較龐大。由于井下的工作環(huán)境比較惡劣(高溫與高壓),測井作業(yè)要求儀器系統(tǒng)必須具備很高的可靠性。除了機械部分必須耐受很高的壓強外,還要求電子測量系統(tǒng)適應(yīng)最低150 ℃的高溫。電子系統(tǒng)中諸多器件的性能參數(shù)都對溫度的變化比較敏感,如電感器、電容器、運算放大器等。而由這些器件組成的調(diào)理電路不可避免地會出現(xiàn)溫度漂移的現(xiàn)象。因此,儀器的溫漂問題主要有兩個方面的原因,分別來自傳感器陣列和電子線路。目前,大部分的測井儀器都需要經(jīng)過復(fù)雜的溫度校正流程。為了保證測量精度,需要在地面測得儀器的溫度漂移曲線,用來對測量的數(shù)據(jù)作后續(xù)的溫度校正。而與傳感器陣列相對單調(diào)的溫漂曲線相比,電子線路由于受諸多電子元器件溫漂的影響,其溫度漂移趨勢一般都比較復(fù)雜。如果能抑制電路溫度漂移的影響,就能提升儀器的可靠性,并簡化整機的溫度校正工作。

1 測量系統(tǒng)的設(shè)計

  1.1 測量電路

  測井儀電路系統(tǒng)一般可由電源、通信、發(fā)射、前置放大、測量和控制等幾部分構(gòu)成。其中測量和控制電路集中體現(xiàn)儀器的功能結(jié)構(gòu),是完成信號測量和邏輯控制的核心。本文的設(shè)計中包括測量控制電路、發(fā)射電路和前置放大電路,三者的結(jié)構(gòu)如圖1所示。發(fā)射電流經(jīng)過取樣后,一方面作為參考信號直接送入測量控制電路,另一方面經(jīng)過衰減網(wǎng)絡(luò)得到不同幅度的刻度信號。

001.jpg

  前置放大電路共有3路,每路包含1路刻度信號和5路目標(線圈)信號,通過模擬開關(guān)進行切換。因此該系統(tǒng)能實現(xiàn)15路目標信號的采集。前置放大電路根據(jù)目標信號的強度從衰減網(wǎng)絡(luò)中選擇幅度相當?shù)目潭刃盘???潭刃盘柡湍繕诵盘柋磺爸梅糯笃鞣謺r放大,然后送入測量控制電路,完成模數(shù)轉(zhuǎn)換和DPSD運算。

  1.2 測控電路


002.jpg

  測控電路主要包括數(shù)字信號處理器(DSP)、現(xiàn)場可編程門陣列(FPGA)以及4個模數(shù)轉(zhuǎn)換電路。其中3個用于完成前置放大電路信號的轉(zhuǎn)換,另一個用于參考信號的轉(zhuǎn)換。如圖2所示,4路ADC的并行數(shù)據(jù)同時輸入FPGA,利用FPGA并行運算特性,高效地完成4路信號的DPSD運算。運算結(jié)果通過高速同步串行傳輸總線(SPI)送入DSP,利用DSP較強的浮點運算能力,完成數(shù)據(jù)的進一步處理。DSP通過異步串口(SCI)將最終的測量結(jié)果傳輸至地面測控系統(tǒng)。

2 數(shù)據(jù)處理流程

  為了滿足多通道信號的測量要求,這里將刻度信號和目標信號分時復(fù)用一個前置放大器,以簡化電路結(jié)構(gòu)。為了在分時復(fù)用過程中,確保能夠準確測量接收信號與發(fā)射信號的相位差,本文從發(fā)射電流取樣,將獲得的參考信號送入測量控制電路,通過DPSD算法計算出其相位,并將其作為刻度信號和目標信號的相位基準。

003.jpg

  圖3以一路前置放大電路為例給出了信號分時導(dǎo)通的時序圖。參考信號R作為相位基準,在測量過程中需要一直導(dǎo)通??潭刃盘朇與目標信號S1,S2,S3,S4,S5則依次通過前置放大電路。為測得各個信號的幅度和相位信息,本文采用DPSD算法[5]對信號進行計算。ADC輸出的數(shù)據(jù)直接與FPGA內(nèi)部歸一化正弦和余弦函數(shù)完成DPSD運算[6-8],計算出信號的幅度和相位值。

  在FPGA中同時對刻度信號C和參考信號R作上述正交化的DPSD運算,得到兩者的幅度UC、UR和相位?茲C、?茲R,則兩信號可以表示為UC e和UR e。在DSP中對兩者作除法運算,得到:

  1.png

  因為對刻度信號和參考信號的DPSD運算是同時進行的,所以C、R是在相同參考相位下測得的。式(1)中的C-R為刻度信號與參考信號的相位差。同樣地,當輸入的是目標信號S時,重復(fù)上述計算,得到目標信號與參考信號的幅度比和相位差,即:

  2.png

  雖然參考信號R相位未發(fā)生變化,但由于刻度信號與目標信號分時導(dǎo)通,新一輪的DPSD運算的參考相位已經(jīng)改變,故式(2)中的參考信號相位用R示。在實際的測量過程中,由于受溫度的影響,信號調(diào)理電路的溫度漂移會導(dǎo)致放大器的傳遞參數(shù)發(fā)生改變。當溫度的變化范圍較寬時,溫漂引起測量結(jié)果會發(fā)生很大的變化,若沒有校正,便難以真實地反映目標的實際信息。為了考察前置放大器的溫漂對測量結(jié)果的影響,這里假設(shè)前置放大電路的傳遞系數(shù)為Aej?漬,其中,A為前置放大電路的增益。當溫度變化時,電路的溫漂就體現(xiàn)在A和?漬的漂移。若考慮溫漂對刻度信號C和目標信號S測量結(jié)果的影響,則將前置放大電路傳遞系數(shù)帶入式(1)和式(2)中,得到:

  ]S2{(G4M}2O6R_(LG[$@0VQ.jpg

  不難看出,經(jīng)過上述運算后,S的測量結(jié)果與前置放大器的A和?漬無關(guān),從而消除了前置放大電路的溫漂對測量結(jié)果的影響。將參考信號幅值乘以網(wǎng)絡(luò)的衰減系數(shù)便可以得到刻度信號的幅度UC,最后將式(5)乘以UC,即可算出目標信號的幅值和相位。

3 實驗數(shù)據(jù)

  為驗證該方法對電路系統(tǒng)溫度漂移影響的抑制作用,本文在實驗室環(huán)境下完成了測試。通過單獨加熱儀器的測量電路部分,排除傳感器陣列在加熱過程中對測量數(shù)據(jù)的影響。測試過程中儀器被加熱到155 ℃左右,基本符合實際作業(yè)時儀器對耐高溫性能的要求。本文對加熱和降溫過程中的測量數(shù)據(jù)都做了記錄,一共大約6 000組測量結(jié)果,如圖4~圖7所示。

  儀器先從室溫32 ℃加熱到最高溫度155 ℃,隨后停止加熱,讓儀器自然降溫到80 ℃,此過程模擬了儀器在常規(guī)作業(yè)時的溫度變化過程。圖5記錄了一路前置放大電路的增益值在測試過程中隨溫度的變化曲線。增益值A(chǔ)在儀器升溫和降溫的過程中有明顯的漂移,說明前置放大電路的溫漂是比較明顯的。圖6和圖7分別為對應(yīng)的5路目標信號幅值和相位的變化曲線。在電路升溫和降溫的過程中,目標信號的幅值和相位的測量結(jié)果始終保持穩(wěn)定,并未受到溫漂的影響。

006.jpg

  對數(shù)據(jù)作統(tǒng)計分析,結(jié)果如表1所示。其中的平均值(Mean)取決于各傳感器的輸出,均方差值(Rms)則反映了儀器的測量精度。0.255 39 V和0.033 50°的最大均方差能夠滿足系統(tǒng)對精度的要求。

007.jpg

  在實際測量過程中,主要關(guān)注的是目標信號與發(fā)射信號同相位的分量,也可稱其為實部分量,對應(yīng)的虛部分量則稱為直耦信號。本文用幅值和相位分析數(shù)據(jù),可以更直觀地考察溫漂對測量的影響。另外兩個前置放大器對應(yīng)的測量曲線也表現(xiàn)出同樣的抑制效果。

4 結(jié)論

  針對油田測井儀器的需求,本文設(shè)計的耐高溫測量系統(tǒng)采用分時復(fù)用的機制以簡化系統(tǒng)的結(jié)構(gòu),為多組目標信號的測量提供了可能。

  高溫實驗數(shù)據(jù)表明,通過對模擬調(diào)理電路進行實時的內(nèi)刻度,并結(jié)合適當?shù)臄?shù)據(jù)處理方法,有效地抑制了信號調(diào)理電路中的溫漂對測量的影響。

  本文所設(shè)計的測量系統(tǒng)的最高工作溫度是150 ℃。通過對系統(tǒng)中的數(shù)字與模擬電路作處理后,能達到175 ℃的耐溫指標,從而滿足大多數(shù)測井儀器對耐溫的要求。采用這種測量機制的測井儀可以省略電子線路的溫度校正,有利于簡化儀器生產(chǎn)與維護流程。

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