文獻(xiàn)標(biāo)識碼: A
DOI:10.16157/j.issn.0258-7998.2016.03.015
中文引用格式: 黃虎,湯惠. 一種金屬物體探測定位系統(tǒng)裝置的設(shè)計(jì)[J].電子技術(shù)應(yīng)用,2016,42(3):54-56,60.
英文引用格式: Huang Hu,Tang Hui. Design of a metal object detection positioning system device[J].Application of Electronic Technique,2016,42(3):54-56,60.
0 引言
金屬探測器作為一種常見的非接觸式安全檢測裝置,在工業(yè)生產(chǎn)領(lǐng)域及日常安檢、社會生活中有著十分廣泛的應(yīng)用。常見的金屬探測器以霍爾傳感器作為探測頭,需要配合較復(fù)雜的硬件電路,且誤差較大[1-3]。本設(shè)計(jì)通過步進(jìn)電機(jī)驅(qū)動的X、Y軸絲桿滑臺帶動金屬物體探頭LDC1000在水平放置的玻璃板掃描區(qū)域內(nèi)按照一定規(guī)則進(jìn)行快速檢測掃描,不接觸目標(biāo)物體,電感數(shù)字傳感器將金屬導(dǎo)體的檢測信號數(shù)字化,主控芯片實(shí)時(shí)分析處理傳感器的數(shù)據(jù),準(zhǔn)確定位金屬物體位置,實(shí)時(shí)顯示出掃描結(jié)果,整個(gè)掃描過程有語音提示,無人工干預(yù),完全實(shí)現(xiàn)自動掃描。系統(tǒng)具有較高的探測速度與精度,既方便又省時(shí)。系統(tǒng)可以應(yīng)用于火車站、碼頭和大型會場等地方的日常安檢及建筑施工中墻壁內(nèi)鋼筋、電線的檢測,可以幫助人們尋找身邊的金屬物件,也能夠在灰塵、污垢、油污及潮濕工業(yè)生產(chǎn)環(huán)境中實(shí)現(xiàn)導(dǎo)體目標(biāo)的低成本、高分辨率的感測。此外,電感數(shù)字傳感器采用線圈產(chǎn)生磁場,不需要磁體和復(fù)雜的校準(zhǔn)。
1 系統(tǒng)硬件設(shè)計(jì)
1.1 系統(tǒng)總體框架
系統(tǒng)CPU采用MSP430F169處理器[4],由控制模塊、傳感器模塊、機(jī)械掃描模塊、LCD液晶顯示及語音模塊四部分組成。系統(tǒng)整體設(shè)計(jì)框圖如圖1所示??紤]在小范圍內(nèi)定位精準(zhǔn)位置,使用絲桿作為導(dǎo)軌制作成H型滑臺,對檢測區(qū)域進(jìn)行無死角掃描檢測。通過42步進(jìn)電機(jī)控制滑臺在X和Y方向上的運(yùn)動導(dǎo)軌移動實(shí)現(xiàn)自主移動。LDC1000探測器搭載于導(dǎo)軌上,隨滑臺快速掃描檢測金屬,當(dāng)LDC1000傳回的阻抗值發(fā)生突變,即兩位數(shù)量級以上的變化時(shí),說明探頭已接近金屬物體。此時(shí)結(jié)束快速掃描檢測,再通過探測器進(jìn)行精確測量,完成對金屬物體的定位。金屬探測器向MCU傳回?cái)?shù)字信號,MCU經(jīng)過簡單的數(shù)據(jù)處理,得出探測器與金屬的相對位置,并不斷經(jīng)檢測更正,最終完成探測。同時(shí),由于滑臺使用步進(jìn)電機(jī)控制,在PWM的輸出控制下,可以實(shí)現(xiàn)金屬探頭的精確定位。當(dāng)掃描結(jié)束后,根據(jù)記錄的數(shù)據(jù),經(jīng)過單片機(jī)處理后,在LCD液晶顯示屏上顯示探頭坐標(biāo),聲-光提示檢測結(jié)束。
1.2 金屬探測器模塊電路
LDC1000電感數(shù)字轉(zhuǎn)換器基于感測技術(shù)利用電磁感應(yīng)的原理使金屬物體表面產(chǎn)生渦流效應(yīng)[5-6]來探測與金屬物體的間距,而且對于不同的金屬材質(zhì),其感應(yīng)的強(qiáng)度也不同。將LCD1000電感傳感器的數(shù)據(jù)傳輸至微控制器中,經(jīng)過軟件處理后最終確定金屬的位置。電感傳感器通過外接PCB線圈實(shí)現(xiàn)非接觸式電感測量,具有小封裝、低成本的優(yōu)點(diǎn)[7]。其內(nèi)部的AD轉(zhuǎn)換電路直接將模擬量轉(zhuǎn)換為數(shù)字量,而且可以測量金屬與傳感器的距離,并且可以通過測量并聯(lián)諧振阻抗來區(qū)分不同的金屬,有效地抵抗鐵絲邊框?qū)ο到y(tǒng)的干擾,極大地節(jié)省了系統(tǒng)資源。同時(shí),通過SPI接口可以方便地連接MCU,有效地減少了對外部驅(qū)動和數(shù)據(jù)處理電路的依賴。金屬探測器模塊電路圖如圖2所示。
電路將三線SPI接口與MCU相連,同時(shí)添加CSB使能信號控制SPI的讀寫。從MCU輸出一個(gè)8 MHz時(shí)鐘信號連接至LDC1000的TBCLK引腳作為頻率計(jì)數(shù)時(shí)鐘頻率。在SPI通信中,片選信號發(fā)出后,16個(gè)時(shí)鐘周期即可完成一次讀寫操作。
1.3 42步進(jìn)電機(jī)驅(qū)動電路
設(shè)計(jì)采用42BYGH兩相混合式步進(jìn)電機(jī)和配套驅(qū)動作為滑臺導(dǎo)軌的驅(qū)動[8]。42步進(jìn)電機(jī)具有高輸出扭矩、高步距角精度等特點(diǎn),通過MCU的硬件PWM波即可控制,同時(shí)可以通過MCU對電機(jī)進(jìn)行轉(zhuǎn)速調(diào)整、正反轉(zhuǎn)調(diào)整、使能等操作,功能強(qiáng)大操作難度低[9]。42步進(jìn)電機(jī)驅(qū)動電路圖如圖3所示。
驅(qū)動電路采用LV8731V作為驅(qū)動芯片,該驅(qū)動芯片外圍電路簡單,系統(tǒng)采用兩片LV8731V芯片分別驅(qū)動X、Y軸兩個(gè)電機(jī)。MCU向芯片的STEP輸出PWM波,以此驅(qū)動電機(jī)旋轉(zhuǎn)。同時(shí)MCU可以通過AT2/AT1控制驅(qū)動電流的大小,F(xiàn)R控制電機(jī)正反轉(zhuǎn),OE作為使能信號。
1.4 LCD12864液晶顯示電路
設(shè)計(jì)考慮到顯示探頭坐標(biāo)位置及方便確認(rèn)檢測完成等功能,采用LCD12864液晶模塊作為顯示模塊,12864液晶具有中文字庫,顯示內(nèi)容更豐富。模塊控制芯片提供兩套控制命令,操作簡單,使用方便。采用串行連接方式,RS、RW和E三條信號線作為控制信號,MCU的P4口作為串行數(shù)據(jù)輸出口。
2 系統(tǒng)軟件設(shè)計(jì)
系統(tǒng)基于IAR EW430 5.5平臺,利用C語言進(jìn)行軟件開發(fā)[10]。軟件部分以LDC1000金屬探測傳感器所采集到的信息處理為中心。系統(tǒng)軟件主要包括自動控制(快速掃描)、金屬準(zhǔn)確定位(精確檢測)、數(shù)據(jù)處理識別和顯示控制部分。其中,金屬準(zhǔn)確定位和數(shù)據(jù)處理識別是本軟件系統(tǒng)中的核心模塊。這一核心模塊分為兩個(gè)部分:(1)金屬檢測的數(shù)據(jù)處理,通過中垂線檢測算法,在水平方向檢測金屬信號,找到金屬強(qiáng)度最大的點(diǎn)后,進(jìn)行垂直方向掃描,最終確定金屬中心位置;(2)步進(jìn)電機(jī)的小距離步進(jìn)控制,由于精確檢測時(shí),步進(jìn)電機(jī)要根據(jù)金屬探測器傳回的數(shù)據(jù)進(jìn)行小距離的移動,因此對電機(jī)的控制提出了較高要求。
軟件設(shè)計(jì)主要分為快速掃描和精確檢測兩個(gè)階段??焖賿呙栌靡源_定金屬物體在檢測區(qū)域的大致位置,精確檢測用以確定金屬物體的準(zhǔn)確位置,并減小誤差。系統(tǒng)整體流程圖如圖4所示。
第一階段:主程序初始化完成后,開始進(jìn)入“快速掃描”階段,通過蛇形方式對檢測區(qū)域進(jìn)行掃描,當(dāng)LDC1000的傳回值發(fā)生兩位數(shù)量級以上的變化時(shí),說明探測器已接近金屬物體,此時(shí)停止“快速掃描”,開始“精確檢測”。
第二階段:利用中垂線檢測算法,先對水平方向的金屬強(qiáng)度進(jìn)行檢測,找到金屬強(qiáng)度最大的點(diǎn),然后以此點(diǎn)為中心,對垂直方向進(jìn)行金屬強(qiáng)度檢測,最終確定金屬物體的準(zhǔn)確位置。此時(shí),停止檢測,顯示探頭坐標(biāo)。
2.1 自制線圈N形掃描
自制線圈掃描過程中,步進(jìn)電機(jī)采用PWM驅(qū)動方式,使運(yùn)動變得更加柔和勻速。軟件上,結(jié)合單片機(jī)的定時(shí)器功能,實(shí)現(xiàn)勵磁信號按一定頻率不斷送出,使得步進(jìn)電機(jī)勻速轉(zhuǎn)動。利用自制線圈的大范圍掃描,采用N 形方式進(jìn)行掃描,檢測掃描區(qū)域內(nèi)是否有金屬物體。如果檢測到金屬物體,則停止快速掃描,進(jìn)入精確檢測過程。
2.2 中垂線檢測函數(shù)
當(dāng)收到檢測到金屬物體的信號后,系統(tǒng)停止N形掃描,開始進(jìn)行精確檢測,通過中垂線檢測方法,找到金屬強(qiáng)度最強(qiáng)的點(diǎn),即金屬物體中心。
2.3 鐵環(huán)檢測函數(shù)
在中垂線檢測完成后,探頭停留在金屬上方,此時(shí)系統(tǒng)判斷該金屬是否為鍍鎳鋼芯硬幣,如果是,則停止檢測啟動聲光提醒;如果不是,則表明是鐵環(huán)系統(tǒng)進(jìn)入鐵環(huán)掃描程序。由于經(jīng)過中垂線檢測,因此探頭將會停留在鐵環(huán)邊緣,即金屬強(qiáng)度最大的鐵環(huán)上某一點(diǎn)。此時(shí),進(jìn)入鐵環(huán)檢測的第一階段,檢測探頭四個(gè)方向的金屬強(qiáng)度,金屬強(qiáng)度衰減最快的方向則是鐵環(huán)外側(cè),因此應(yīng)朝其反方向前進(jìn)。
第二階段,根據(jù)前進(jìn)方向,選擇前進(jìn)方向及其相鄰方向進(jìn)行檢測。由于此時(shí)探頭已在鐵環(huán)內(nèi)部,而鐵環(huán)內(nèi)部的金屬強(qiáng)度由內(nèi)到外不斷增強(qiáng),此時(shí)不斷檢測探頭處的金屬強(qiáng)度,并向金屬強(qiáng)度減弱的方向前進(jìn),直到找到金屬強(qiáng)度最弱的點(diǎn)及鐵環(huán)中心。
3 系統(tǒng)測試
3.1 測試條件
測試環(huán)境:電子電裝標(biāo)準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室,常溫常濕常壓。
測試儀器清單如表1所示。
3.2 測試方案
測試采用整體測試的方案,初始化完成后,先進(jìn)行蛇形快速掃描,檢測到金屬物體后進(jìn)行精確檢測,以最終停止時(shí)探頭所停留位置與硬幣或鐵環(huán)圓心的相對距離,作為測試結(jié)果進(jìn)行誤差分析和改進(jìn)。
實(shí)際測試時(shí),對直徑約19 mm的鍍鎳鋼芯1角硬幣、直徑約25 mm的鍍鎳鋼芯1元硬幣、自制圓鐵環(huán)(用Φ2鐵絲繞制)鐵環(huán)外直徑4 cm這3種金屬物體進(jìn)行3組測試,每組測試5次數(shù)據(jù)。
3.3 測試結(jié)果
直徑約19 mm的鍍鎳鋼芯1角硬幣、直徑約25 mm的鍍鎳鋼芯1元硬幣、自制圓鐵環(huán)(用Φ2鐵絲繞制)鐵環(huán)外直徑4 cm的測試結(jié)果如表2所示。
4 結(jié)論
金屬物體探測定位系統(tǒng)裝置利用基于感測技術(shù)的LDC1000電感數(shù)字傳感器來實(shí)現(xiàn)金屬探測定位,采用了數(shù)字濾波技術(shù)消除干擾,提高了探測器的抗干擾能力,確保了系統(tǒng)的準(zhǔn)確性。試驗(yàn)在50 cm×50 cm范圍內(nèi)進(jìn)行,對不同金屬物進(jìn)行檢測,在2 min的檢測時(shí)間內(nèi)檢出率達(dá)100%。該方案定位精度高,定位誤差在3.1mm以內(nèi)。系統(tǒng)硬件電路成本低、結(jié)構(gòu)簡單、體積小,可以對狹小及惡劣環(huán)境中金屬物體進(jìn)行探測,具有精度高、速度快的特點(diǎn),結(jié)合液晶顯示和語音報(bào)警功能,其應(yīng)用范圍較廣。
參考文獻(xiàn)
[1] 董欣,孟令華,孫繼華,等.人機(jī)界面HMI在渦流探傷中的應(yīng)用[J].自動化與儀表,2011(8):66-69.
[2] 洪文峰,魏立峰.智能金屬探測器設(shè)計(jì)[J].工礦自動化,2013,39(4):40-43.
[3] 盧超.基于AT89S52的安檢金屬探測儀[J].儀表技術(shù)與傳感器,2010(12):26-28.
[4] 沈建華,楊艷琴.MSP430系列16位超低功耗單片機(jī)原理與實(shí)踐[M].北京:北京航空航天大學(xué)出版社,2008.
[5] 曹青松,周繼惠.基于電渦流的金屬種類識別技術(shù)的理論與實(shí)驗(yàn)研究[J].儀器儀表學(xué)報(bào),2007,28(9):1718-1722.
[6] 明軍,賈海波,王新.一種在線智能金屬檢測裝置[J].儀表技術(shù)與傳感器,2013(5):20-21.
[7] Hpati.AY-LDC1000Datasheet[EB/OL].[2014-12].http://www.hpati.com.
[8] 李建玲.基于PWM的兩相混合式步進(jìn)電機(jī)細(xì)分驅(qū)動芯片的設(shè)計(jì)[D].西安:西安科技大學(xué),2005.
[9] 吳春艷,何穎,劉少學(xué).步進(jìn)電機(jī)細(xì)分驅(qū)動電路設(shè)計(jì)[C].中國儀器儀表與測控技術(shù)交流大會,2007.
[10] 譚浩強(qiáng).C語言程序設(shè)計(jì)[M].北京:清華大學(xué)出版社,2005:132-145.