《電子技術(shù)應(yīng)用》
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航天器用應(yīng)變片篩選測試方法優(yōu)化
2016年電子技術(shù)應(yīng)用第11期
郭洺宇
北京衛(wèi)星環(huán)境工程研究所,北京100094
摘要: 航天器用應(yīng)變片是某系列衛(wèi)星上用于星箭解鎖裝置的重要力學(xué)測量元件。依據(jù)星箭解鎖分離包帶應(yīng)變片粘貼工藝規(guī)范,總裝檢驗(yàn)人員需要在粘貼前對應(yīng)變片進(jìn)行檢查和篩選。鑒于原有篩選測試方法的缺陷,對應(yīng)變片篩選測試設(shè)備進(jìn)行設(shè)計(jì)研制。經(jīng)過對研制設(shè)備裝調(diào)、校準(zhǔn)、測試、比對的研究,以及對其進(jìn)行各通道線路附加電阻、各通道電阻測量一致性兩項(xiàng)測試,消除了應(yīng)變片受壓狀態(tài)不確定因素及手持接線夾連接引線測試狀態(tài)不穩(wěn)定的問題,最終在測試可靠性、測試效率、對應(yīng)變片的保護(hù)等方面均優(yōu)于原有篩選測試方法。
中圖分類號: TU317.3
文獻(xiàn)標(biāo)識碼: A
DOI:10.16157/j.issn.0258-7998.2016.11.019
中文引用格式: 郭洺宇. 航天器用應(yīng)變片篩選測試方法優(yōu)化[J].電子技術(shù)應(yīng)用,2016,42(11):74-76,79.
英文引用格式: Guo Mingyu. Optimization of strain gauge screening test method for spacecraft[J].Application of Electronic Technique,2016,42(11):74-76,79.
Optimization of strain gauge screening test method for spacecraft
Guo Mingyu
Beijing Institute of Spacecraft Environment Engineering,Beijing 100094,China
Abstract: Spacecraft with strain gauge is important for mechanical measuring element unlocking device of a series of satellites,on the basis of unlocking separation package with strain gauge pasted technical specifications, assembly inspection personnel needs corresponding inspection of tablets and screening before the paste. In view of the defects of the original screening test method, this paper screens test equipment to design and manufacture the strain sheet. After the study on the development of equipment installation, calibration, testing, comparison, and each additional channel line resistance and each channel resistance measurement consistency test, the uncertain factors of strain piecein compression and test state instability problems of handheld terminal clamp connection are eliminated. In the final test, the test reliability,efficiency and protection of strain gage are better than the original screening test method.
Key words : strain gauge;screening;test;method optimization

0 引言

    航天器用應(yīng)變片是某系列衛(wèi)星上用于星箭解鎖裝置的重要力學(xué)測量元件,將應(yīng)變片牢固粘貼于包帶上的測量部位,在包帶受力時(shí)利用敏感柵材料在應(yīng)變作用下的電阻變化可測量被測包帶的受力狀態(tài),其測量值的準(zhǔn)確性直接影響到衛(wèi)星星箭解鎖裝置預(yù)緊力測試的適用性,關(guān)系到星箭的成功分離,直接影響到衛(wèi)星發(fā)射的成敗。依據(jù)星箭解鎖分離包帶應(yīng)變片粘貼工藝規(guī)范,總裝檢驗(yàn)人員需要在粘貼前對應(yīng)變片進(jìn)行檢查和篩選工作[1-3]。

1 應(yīng)變片工況分析

    該系列衛(wèi)星需一次性對一批應(yīng)變片進(jìn)行驗(yàn)收篩選,選取每20個(gè)為一組(含有4個(gè)備份),用數(shù)字萬用表檢測每組內(nèi)各個(gè)應(yīng)變片的阻值,要求兩兩相差應(yīng)≤0.2 Ω(最大值與最小值之差),某些型號工藝甚至要求≤0.1 Ω。

    目前應(yīng)變片驗(yàn)收篩選有兩種方法,一是應(yīng)變片在自然狀態(tài)下直接測量,二是用普通壓塊壓住應(yīng)變片敏感柵測量。

    第一種方法在排除操作問題后,仔細(xì)觀察應(yīng)變片的外觀,發(fā)現(xiàn)每片應(yīng)變片在自然放置的情況下呈不同弧度的彎曲狀態(tài),將不同彎曲弧度的應(yīng)變片進(jìn)行自然卷曲狀態(tài)和均勻受力壓平狀態(tài)下測試,阻值出現(xiàn)了±0.2 Ω的變化。試驗(yàn)結(jié)果證明,該測試方法存在隨環(huán)境狀態(tài)不同、測試結(jié)果不穩(wěn)定的問題[4-5]。

    第二種方法是在應(yīng)變片篩選過程采用任意普通壓塊壓住應(yīng)變片,使用常用的FLUKE數(shù)字萬用表通過紅黑表筆(鱷魚夾)分別夾持應(yīng)變片引線的兩端來測量應(yīng)變片的阻值。這種測試方式存在如下一些弊端:

    (1)由于壓塊與下面基板的接觸面積很大,遠(yuǎn)大于應(yīng)變片本體面積,故無法保證壓塊的重量全部施加在應(yīng)變片本體上,導(dǎo)致每次測量應(yīng)變片所受壓力不一致。

    (2)由于測量讀數(shù)時(shí)需要手持接線夾,接線夾和應(yīng)變片的引線必然處在一個(gè)不穩(wěn)定的受力狀態(tài),導(dǎo)致引線與接線夾之間的接觸電阻不穩(wěn)定,影響測量。由于引線很細(xì),在承受拉力時(shí)容易損壞應(yīng)變片。

2 篩選測試方法優(yōu)化

2.1 篩選測試設(shè)備設(shè)計(jì)研制

    (1)整機(jī)設(shè)計(jì)

    操縱機(jī)構(gòu)由左右操縱桿、左側(cè)鎖定機(jī)構(gòu)、軸承座、支承軸等部件組成,壓緊單元的壓杠與壓杠固定塊通過4個(gè)螺釘與支承軸抱緊,通過操縱機(jī)構(gòu)帶動支承軸轉(zhuǎn)動實(shí)現(xiàn)10個(gè)壓緊單元的下壓與抬起動作,如圖1所示。

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    操縱機(jī)構(gòu)的設(shè)計(jì)使得使用者在抬起/壓下操作和鎖定/釋放操作中雙手始終位于左右操縱桿上,在鎖定壓杠位置后即可騰出雙手進(jìn)行擺放應(yīng)變片、切換應(yīng)變片讀數(shù)等其他操作。人機(jī)工效高,使用方便。

    (2)壓緊單元設(shè)計(jì)

    通過應(yīng)變片座上應(yīng)變片放置槽的幾何形狀設(shè)計(jì),保證了應(yīng)變片能準(zhǔn)確定位在應(yīng)變片槽中,壓頭矩形部分能覆蓋應(yīng)變片本體,壓力的傳遞準(zhǔn)確可靠,且不會壓到應(yīng)變片的引線和焊點(diǎn)部位;由于應(yīng)變片引線形態(tài)不易控制,通過增大引線擺放空間和接觸片面積,應(yīng)變片引線可以很容易地與接觸片接觸,方便了應(yīng)變片的放置操作。彈性接觸片為金屬材料,導(dǎo)線壓塊、應(yīng)變片座及導(dǎo)線約束塊均為塑料絕緣材料,壓杠下壓到位時(shí)接觸片因自身彈性發(fā)生小量變形,其彈性力保證應(yīng)變片引線與接觸片的良好接觸。彈性接觸片后端的2個(gè)孔,一個(gè)用于機(jī)械固定,一個(gè)通過叉片端子實(shí)現(xiàn)電氣連接。

    為保證接觸片回彈力適中,對接觸片進(jìn)行有限元分析。分析模型材料采用磷青銅,其彈性模量E=200 GPa,泊松比ρ=0.28。模型在連接部施加位移全約束,接觸部分施加載荷0.1 N,壓力分析圖如圖2所示。

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    分析結(jié)果顯示在0.1 N壓力下接觸部分位移為0.11 mm,即此接觸片剛度K=0.1 N/0.11 mm=0.91 N/mm。根據(jù)結(jié)構(gòu)參數(shù)可知實(shí)際下壓時(shí)接觸片的接觸部分位移為1.5 mm,則單個(gè)接觸片的回彈力為1.5 mm×0.91 N/mm=1.37 N?;貜椓θ≈颠m中,適宜于保證接觸片與應(yīng)變片引線的接觸效果。

    (3)電氣設(shè)計(jì)

    電氣系統(tǒng)將10個(gè)應(yīng)變片座的接觸片連接至測量輸出端,且應(yīng)可方便地在10個(gè)應(yīng)變片間切換,讀取各個(gè)應(yīng)變片的電阻值。電氣系統(tǒng)對外包含一對測試接線柱、一個(gè)10位波段開關(guān)、一個(gè)DB15擴(kuò)展接口,測試接線柱配合數(shù)字萬用表使用,通過波段開關(guān)可以選擇測試接線柱對應(yīng)的應(yīng)變片,快速完成10個(gè)應(yīng)變片的切換和讀數(shù);擴(kuò)展接口可直接測量10個(gè)應(yīng)變片的電阻值,用于系統(tǒng)以后可能的擴(kuò)展。電氣系統(tǒng)連接圖如圖3所示。

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2.2 關(guān)鍵技術(shù)點(diǎn)研究分析

    (1)壓力一致性

    工裝測量一組10個(gè)應(yīng)變片,為保證測量結(jié)果的有效,應(yīng)使得不同測量工位的應(yīng)變片受到的壓力大小一致。

    在壓杠處于下壓位置時(shí),壓頭上部脫離壓杠,壓緊彈簧的壓力通過壓頭全部傳遞到應(yīng)變片本體上??赏ㄟ^壓力調(diào)節(jié)螺母調(diào)節(jié)壓緊彈簧的壓縮長度,進(jìn)而調(diào)節(jié)壓頭對應(yīng)變片的壓力。

    壓緊彈簧設(shè)計(jì)參數(shù)如表1。

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    彈簧的剛度計(jì)算為[6]

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式中,F(xiàn)單位為N,L單位為mm。

    壓縮長度L可在9 mm~19 mm范圍調(diào)節(jié),對應(yīng)壓力調(diào)節(jié)范圍為0.48 N~5.28 N。調(diào)節(jié)壓力時(shí)可用游標(biāo)卡尺測量壓縮長度L,若游標(biāo)卡尺測量誤差為ΔL=0.1 mm,將導(dǎo)致的壓力一致性誤差為KΔL=0.048 N,可見采用各個(gè)彈簧獨(dú)立調(diào)節(jié)的方式可以達(dá)到較好的壓力一致性,保證測量結(jié)果有效性。

    (2)對應(yīng)變片的保護(hù)

    應(yīng)變片在測試過程中其本體應(yīng)變敏感部分和引線部分均不應(yīng)受到損傷。

    由于壓頭與應(yīng)變片接觸部分粘貼有橡膠墊,使得壓力能夠均勻、柔和地傳遞到應(yīng)變片上,不會因局部壓力過大壓壞應(yīng)變片本體。由于下壓動作實(shí)際上是一個(gè)轉(zhuǎn)動,理論上壓頭端部在下壓過程中沿圓弧軌跡運(yùn)動,有水平和垂直方向的位移分量,故需對下壓中的水平位移進(jìn)行校核,確保其不會因?yàn)榇陝訐p壞應(yīng)變片。

    由圖4可知,在壓頭下壓到位時(shí)壓頭底部與壓杠旋轉(zhuǎn)軸線平齊,壓頭與旋轉(zhuǎn)軸線距離100 mm。根據(jù)機(jī)構(gòu)設(shè)計(jì)參數(shù),從壓頭開始接觸應(yīng)變片到完全壓到位,壓頭抬升行程為3 mm。故根據(jù)三角關(guān)系,下壓過程中壓頭的理論水平位移為:

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    考慮到壓頭與壓杠之間的配合公差,最小配合間隙為0.1 mm,已足夠吸收該水平位移而不致搓動應(yīng)變片,且壓頭底部橡膠的柔性亦能吸收部分水平位移,故可確定下壓過程對應(yīng)變片的安全性。由于在下壓過程中應(yīng)變片引線未受拉伸,故應(yīng)變片引線不存在被損壞的風(fēng)險(xiǎn)。

    (3)線路電阻對測試的影響

    由于各應(yīng)變片的電氣接觸片必然要通過導(dǎo)線連接測試系統(tǒng),導(dǎo)線電阻必然會對測試帶來一定影響。

    本工裝在接線工藝上保證每個(gè)應(yīng)變片到測試接線柱/擴(kuò)展接口的導(dǎo)線總長相等,則每一測試通道的附加電阻相等。指針式萬用表和高檔數(shù)字式萬用表歐姆檔均具有調(diào)零功能,將萬用表與接線柱連接,波段開關(guān)選通某一通道,并用短導(dǎo)線將對應(yīng)通道的應(yīng)變片接觸片短路,在此狀態(tài)下對歐姆檔調(diào)零即完成了對該通道的線路電阻補(bǔ)償。因?yàn)楦魍ǖ赖木€路電阻相等,故對一個(gè)通道進(jìn)行線路電阻補(bǔ)償后萬用表可用于任意通道的測試,線路電阻對測試的影響可以消除。

    DB15擴(kuò)展接口的1~10引腳直接與各應(yīng)變片相連,若進(jìn)行上位系統(tǒng)擴(kuò)展開發(fā),在自動測量程序中可獨(dú)立補(bǔ)償各個(gè)通道的線路電阻,已達(dá)到更高的測量精度。

2.3 優(yōu)化后測試方法    

    (1)將萬用表設(shè)置為電阻測量模式,用橡膠插頭導(dǎo)線連接萬用表和測試工裝。

    其中萬用表的“COM”接線柱與應(yīng)變片測試工裝的黑色接線柱“COM”相連,萬用表的“Ω”接線柱與應(yīng)變片測試工裝的紅色接線柱相連。

    (2)向右扳動左操縱桿,壓杠解鎖后抬起左右操縱桿約45°,釋放左操縱桿使壓杠鎖定在抬起位置。

    (3)將各待測量應(yīng)變片放置在對應(yīng)應(yīng)變片座中。

    (4)放置好各應(yīng)變片后向右扳動左操縱桿,壓杠解鎖后雙手同時(shí)施力,壓下左右操縱桿至水平位置,釋放左操縱桿使壓杠鎖定在壓緊位置。

    (5)轉(zhuǎn)動工裝上的旋轉(zhuǎn)波段開關(guān),從萬用表上讀取各應(yīng)變片阻值(開關(guān)箭頭所指號碼對應(yīng)各應(yīng)變片座號碼)。

    (6)重復(fù)第(2)步操作,取下各應(yīng)變片,完成測試。

2.4 通道電阻性能測試

    由于儀器內(nèi)部測試線路會在待測應(yīng)變片上附加一串連電阻,需測試各路附加電阻的一致性,以評估附加電阻對測試產(chǎn)生的影響。測試中用一段短導(dǎo)線分別短接各個(gè)工位的2個(gè)接觸片,并撥動選通開關(guān)至短接的通道,將數(shù)字萬用表調(diào)至電阻檔,將萬用表表筆的橡膠插頭連接至工裝面板上的接線柱上,通過旋轉(zhuǎn)面板上的波段開關(guān)1~10,依次讀取各應(yīng)變片的阻值,作為各通道的附加電阻。

    測試結(jié)果如表2所示。

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    通過測試結(jié)果可知,附加電阻平均值為0.48 Ω,各通道相對平均值附加電阻變化不超過0.02 Ω,則測試中在萬用表電阻檔未標(biāo)定的情況下,可將讀數(shù)減去0.48 Ω作為測量值;也可將最接近附加電阻平均值的4通道短接,然后通過面板接線柱標(biāo)定萬用表電阻擋,標(biāo)定后可將讀數(shù)直接作為測量值,由各通道附加電阻撥動帶來的誤差較小,不會對應(yīng)變片的篩選產(chǎn)生實(shí)質(zhì)性影響,符合每組引線回路電阻小于0.5 Ω,10組引線回路之間的電阻誤差小于0.03 Ω,且重復(fù)誤差小于0.03 Ω。

2.5 各通道電阻測量一致性驗(yàn)證

    將各工位的彈簧壓縮長度調(diào)節(jié)一致,采用同一應(yīng)變片分別放置在各個(gè)工位上,壓緊后用萬用表通過面板接線柱測量電阻,結(jié)果如表3所示。

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    通過測試結(jié)果可知,同一應(yīng)變片在壓力基本相同的條件下,在各個(gè)工位上分別測量得到的測量值波動量不大,可見測量一致性較好,不會對應(yīng)變片的篩選產(chǎn)生實(shí)質(zhì)性影響。

3 結(jié)束語

    本工裝的應(yīng)用在以下方面對原有測試工藝進(jìn)行了改進(jìn):

    (1)消除了應(yīng)變片受壓狀態(tài)不確定因素,壓力穩(wěn)定、一致,應(yīng)變片受壓均勻,測試可靠性得到提高,應(yīng)變片保護(hù)效果得到改善;

    (2)消除了手持接線夾連接引線的測試狀態(tài),接觸條件穩(wěn)定,測試可靠性得到提高,應(yīng)變片保護(hù)效果得到改善;

    (3)可一次測量1組10片應(yīng)變片,操作方便,工作效率得到提高;

    (4)提供擴(kuò)展接口,可進(jìn)行后續(xù)擴(kuò)展開發(fā),實(shí)現(xiàn)自動記錄數(shù)據(jù)、自動分組篩選等功能。

    本文鑒于改進(jìn)應(yīng)變片驗(yàn)收測量方法,對應(yīng)變片驗(yàn)收工裝進(jìn)行設(shè)計(jì),經(jīng)過對工裝裝調(diào)、校準(zhǔn)、測試、比對的研究,完成了一套新型應(yīng)變片驗(yàn)收工裝。工裝經(jīng)過各通道線路附加電阻、各通道電阻測量一致性兩項(xiàng)測試,符合工裝的設(shè)計(jì)技術(shù)指標(biāo)及設(shè)計(jì)要求。使用本工裝進(jìn)行應(yīng)變片電阻測試,在測試可靠性、測試效率、對應(yīng)變片的保護(hù)等方面均優(yōu)于原有工藝方法。本工裝克服現(xiàn)有驗(yàn)收方法的缺陷,達(dá)到了預(yù)期研發(fā)目標(biāo),可以有效提高驗(yàn)收工作質(zhì)量和效率。

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