上海2017年3月13日電 /美通社/ -- 致茂電子為精密電子量測(cè)儀器、自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)、智慧制造系統(tǒng)與全方位 Turnkey 測(cè)試及自動(dòng)化解決方案領(lǐng)導(dǎo)廠商，將于3月 SEMICON China 推出最新半導(dǎo)體測(cè)試解決方案，以因應(yīng) IoT 晶片市場(chǎng)的蓬勃發(fā)展。

　　Chroma 3680 全方位高精度/高效能 SoC 測(cè)試系統(tǒng)，擁有最高可達(dá) 1Gbps 的資料速率 (data rate)、平行測(cè)試更多待測(cè)物的能力及符合數(shù)位及類比 IC 的測(cè)試應(yīng)用需求。應(yīng)用范圍包含微控制器 (MCU)、數(shù)位音訊 (Digital Audio)、數(shù)位電視 (Digital TV，DTV)、機(jī)頂盒 (Set-Top Box)、數(shù)位信號(hào)處理器 (DSP)、網(wǎng)路處理器 (Network Processor)、現(xiàn)場(chǎng)可程式邏輯門陣列 (Field Programmable Gate Array，F(xiàn)PGA) 及消費(fèi)性電子 IC 應(yīng)用市場(chǎng)等測(cè)試方案。

　　Chroma 33010 PXIe Digital IO Card，Chroma 除提供傳統(tǒng)之測(cè)試系統(tǒng) Chroma 3380D 256 通道與 Chroma 3380P 512 通道外，也在今年正式提供自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng) (ATE) 功能 PXIe 架構(gòu)之 DIO- Model 33010，符合 PXI 測(cè)試方案發(fā)展應(yīng)用之趨勢(shì)及需求，以因應(yīng)未來(lái)更小 IC 通道及愈趨復(fù)雜功能之趨勢(shì)，尤其在 IoT 及汽車電子 IC 測(cè)試上，PXI/PXIe 架構(gòu)在半導(dǎo)體測(cè)試無(wú)論在應(yīng)用多變和彈性上都有一定優(yōu)勢(shì)。應(yīng)用范圍包含微控制器 (MCU)、微機(jī)電 (MEMS) 、射頻 IC(RF IC) 及電源 IC (PMIC) 等測(cè)試方案。

　　Chroma 3260C 三溫 IC 測(cè)試分類機(jī)具備優(yōu)異的溫度性能表現(xiàn)，溫度范圍從-40 攝氏度 ~125 攝氏度 ，利用 Nitro TEC 的技術(shù)，做到快速 DTC 的功能；并可供多組 Module Board 平行測(cè)試，1至6個(gè)測(cè)試座并可符合多種封裝類型 (QFP、TQFP、 μBGA、PGA 及 CSP)。Chroma 3260C 可快速更換待測(cè)產(chǎn)品，大幅縮短停機(jī)時(shí)間，提高使用效率及產(chǎn)能。應(yīng)用范圍為車聯(lián)網(wǎng)及云端相關(guān)概念產(chǎn)業(yè) IC 元件。

　　Chroma 3111 迷你桌上型單站測(cè)試分類機(jī)適用于工程實(shí)驗(yàn)階段系統(tǒng)功能檢測(cè)，同時(shí)具備終端電性測(cè)試能力，支援各種不同類型的封裝晶片，晶片尺寸從 5x5mm 到 45x45mm。Chroma 3111 具備遠(yuǎn)端網(wǎng)路控制功能，透過(guò)軟體設(shè)定 JEDEC 料盤的分配及工程測(cè)試，在 60cm 2  的空間發(fā)揮最大的效用以節(jié)省時(shí)間和成本。

　　Chroma 半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備整合 MP5800 射頻 (RF) ATE 測(cè)試專用機(jī)，涵蓋 6GHz 測(cè)試范圍，提供 4/8 RF Port 及 120MHz 頻寬。應(yīng)用范圍包含 WiFi/BT/GPS  等 IoT 應(yīng)用及 RF 元件測(cè)試 ( PA/LNA/Converter 等 )，達(dá)到 RF/Digital 全方位 ATE(CP/FT/SLT) 測(cè)試解決方案。

　　Chroma 半導(dǎo)體測(cè)試解決方案亦提供豐富的軟體套件以符合不同測(cè)試應(yīng)用。