《電子技術(shù)應(yīng)用》
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創(chuàng)新 跨越歷史與未來(lái)的動(dòng)力之源

——羅德與施瓦茨將參加EDI CON 2017
2017-04-21

  羅德與施瓦茨公司將參加2017年4月在上海跨國(guó)采購(gòu)會(huì)展中心舉辦的第五屆電子設(shè)計(jì)創(chuàng)新會(huì)議(Electronic Design Innovation Conference,EDI CON 2017)。EDI CON享譽(yù)全球的美國(guó)微波雜志主辦的行業(yè)盛會(huì),在中國(guó)已經(jīng)成功舉辦四次,逐漸成為中國(guó)電子工業(yè)領(lǐng)域一年一度的盛事,是一個(gè)由產(chǎn)業(yè)推動(dòng)的會(huì)議和展覽,為設(shè)計(jì)工程師和系統(tǒng)集成商提供針對(duì)當(dāng)今通信、計(jì)算、RFID、無(wú)線、導(dǎo)航、航空航天及相關(guān)市場(chǎng)的最新射頻/微波和高速數(shù)字產(chǎn)品和技術(shù)信息。這項(xiàng)一年一度的盛事提供半導(dǎo)體、模塊、印刷電路板和系統(tǒng)級(jí)的實(shí)用設(shè)計(jì)解決方案,與會(huì)者可親身參與體驗(yàn)。EDI CON China匯集了中國(guó)創(chuàng)新前沿和世界領(lǐng)先跨國(guó)科技公司的設(shè)計(jì)師。

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  德國(guó)的羅德與施瓦茨公司作為歐洲最大的電子測(cè)量?jī)x器公司和全球最大的EMC系統(tǒng)集成公司, 將參加所有的講座、演示及研討會(huì)。屆時(shí),羅德與施瓦茨公司將有多位來(lái)自德國(guó)的專家和中國(guó)本地的專家,分別以12個(gè)專題講座、兩個(gè)專題討論、1個(gè)主題論壇演講和15個(gè)主題展示,全部參與了大會(huì)的電子設(shè)計(jì)板塊、測(cè)量與建模板塊、系統(tǒng)與工程板塊和商業(yè)應(yīng)用板塊,全方位介紹羅德與施瓦茨公司在5G、電磁兼容、元器件、雷達(dá)、汽車等領(lǐng)域的最新測(cè)試技術(shù)和最新的電子測(cè)試與測(cè)量?jī)x器。

  主題論壇:

  哪項(xiàng)技術(shù)更適合初期的5G系統(tǒng):低于6GHz的大規(guī)模MIMO還是毫米波?

  12個(gè)主題講座分別為:

  1.        5G移動(dòng)通信中的極化碼研究

  2.        雷達(dá)和接收機(jī)測(cè)試用RF環(huán)境的生成

  3.        汽車?yán)走_(dá)干擾測(cè)試

  4.        射頻和微波器件中雜散搜索的先進(jìn)技術(shù)

  5.        為關(guān)鍵EMI信號(hào)更快檢測(cè)而優(yōu)化的實(shí)時(shí)測(cè)試設(shè)備

  6.        基于VNA的高速PCB快速精確測(cè)試

  7.        基于矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的信號(hào)完整性測(cè)量

  8.        射頻前端器件和鏈路上的失真測(cè)量

  9.        利用OTA功率傳感器進(jìn)行波束賦形設(shè)備的校正

  10.        50 GHz以上的相位噪聲測(cè)量

  11.復(fù)雜脈沖場(chǎng)景-當(dāng)ARB的大小有限時(shí), 如何用高采樣率實(shí) 現(xiàn)信號(hào)的長(zhǎng)時(shí)間播放

  12.非線性參數(shù)測(cè)試的新方法

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  兩個(gè)專題講座分別為:

  5G OTA技術(shù)和Verizon 5G和3GPP新空口的信號(hào)產(chǎn)生與分析

  15個(gè)主題展示分別為:

  1.        5G NR信號(hào)產(chǎn)生和分析/V5G

  2.        5G毫米波測(cè)試/802.11ad

  3.        R&S非線性參數(shù)測(cè)試方案

  4.        THz在片測(cè)試系統(tǒng)解決方案

  5.        全新多端口器件測(cè)試解決方案

  6.        PCB特性測(cè)試方案

  7.        城市電磁環(huán)境下整車適應(yīng)性測(cè)試方案

  8.        最新EMI認(rèn)證測(cè)試接收機(jī)

  9.        板級(jí)EMI診斷測(cè)試方案

  10.電源完整性測(cè)試方案

  11.最新示波器應(yīng)用技術(shù)

  12.        VI測(cè)試儀器系列

  13.電池壽命測(cè)量系統(tǒng)

  14.毫米波陣列天線的波束指向?qū)崟r(shí)測(cè)量

  15.高功率射頻信號(hào)的生成與放大

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  與會(huì)代表和參觀者將直接接觸和了解到R&S最新的測(cè)試技術(shù)以及R&S的核心測(cè)試測(cè)量?jī)x表、根據(jù)客戶需求定制開發(fā)電磁兼容和微波射頻測(cè)試解決方案。這些新產(chǎn)品和亮點(diǎn)引導(dǎo)著新領(lǐng)域的電子設(shè)計(jì)發(fā)展,成為電子設(shè)計(jì)領(lǐng)域的專家與工程師共同關(guān)注的焦點(diǎn),R&S公司向行業(yè)內(nèi)的用戶展示了一如既往的承諾:為廣大客戶提供一流的產(chǎn)品、優(yōu)質(zhì)的服務(wù)以及先進(jìn)的理念。

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  羅德與施瓦茨公司現(xiàn)歡迎電子工業(yè)各個(gè)領(lǐng)域的專家與工程師,前來(lái)參加中國(guó)第五屆電子設(shè)計(jì)創(chuàng)新會(huì)議(Electronic Design Innovation Conference,EDI CON 2017),交流洽談技術(shù)與行業(yè)發(fā)展的最新動(dòng)態(tài),羅德與施瓦茨展位號(hào):401


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