隨著電子系統(tǒng)中傳感器和信號源的快速增加，使得設(shè)備設(shè)計師們可以在系統(tǒng)MCU或傳感器融合協(xié)處理器中加入更多的模擬信號通道。尤其是在日益發(fā)展的小型物聯(lián)網(wǎng)領(lǐng)域中更是如此。

 信號平均法是一項常用于此類數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)的技術(shù)，可以增強(qiáng)數(shù)值結(jié)果的可用分辨率并抑制多種噪聲。雖然過濾方式簡單，但其整體效果要取決于所使用的平均法。本文將對傳統(tǒng)的序列平均法和最新的交叉平均法進(jìn)行比較。

 許多現(xiàn)代的混合信號MCU和片上系統(tǒng)都直接將平均法加入到模擬-數(shù)字轉(zhuǎn)換器硬件中。這大大減少了MCU需要完成的處理量，簡化代碼編寫，縮短處理器需要在高功耗模式中的運(yùn)行時間。

 盡管多種信號與設(shè)備之間實現(xiàn)連接的模擬輸入多路復(fù)用器已十分普遍，但大部分混合信號MCU的硬件平均功能每次只能在一條信號通道中執(zhí)行。當(dāng)平均過程完成后，通常會引發(fā)中斷，然后固件在中斷中選擇另一個需要轉(zhuǎn)換的模擬輸入。在一些設(shè)備中，比如賽普拉斯半導(dǎo)體公司的PSoC 4系列1 Msps 12位ADC可編程片上系統(tǒng)，其通道序列內(nèi)置于轉(zhuǎn)換器硬件中，可在無需處理器干預(yù)的情況下對所有通道執(zhí)行平均功能。

這種傳統(tǒng)的對單一通道信號進(jìn)行多次轉(zhuǎn)換后才轉(zhuǎn)到下一個通道的平均模型被稱為序列平均。這種方法存在一些限制，主要問題在于會降低多通道環(huán)境中的可用采樣率，包括被平均的通道和序列中不需要平均的通道。

 最近出現(xiàn)了一種新的方法，可以增強(qiáng)數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)設(shè)計師所使用的各種工具。這項技術(shù)被稱為交叉平均法，它給需要采集高頻率信號以及需要快速采集非平均通道樣本的系統(tǒng)帶來了福音。

 序列平均和交叉平均的區(qū)別我們可以從一些圖文中得到解釋，本文選擇了一個8通道的配置作為示例。原始ADC采樣率設(shè)置為800 ksps，每個通道中的16個12位樣本將被一起平均。這樣會產(chǎn)生一個16位的輸出字，而12位樣本量化的信噪比貢獻(xiàn)量則會把信噪比限制在相對于14位轉(zhuǎn)換器的水平（假設(shè)每個樣本的量化噪聲貢獻(xiàn)量不相關(guān)）。

 由于有8個通道，且每個通道取樣16次后獲得最終結(jié)果，因此ACD需要進(jìn)行128次轉(zhuǎn)換才能生成各結(jié)果組。這一過程需要160微秒，結(jié)果組的可用頻率為6250次/秒。

 這個例子還假設(shè)每個通道都有自己的結(jié)果寄存器，本示例中所使用的PSoC 4就是如此。但部分混合信號MCU有所不同，它們只有一個結(jié)果寄存器，因此不得不在轉(zhuǎn)換通道時進(jìn)行讀取。

 圖1所示的是偽代碼形式的標(biāo)準(zhǔn)序列平均解決方案，其行為如下：

 ?刷新累積寄存器

?選擇通道1

?以1.25微秒間隔進(jìn)行16次采樣，將它們累積在通道1的寄存器中，總耗時20微秒

?選擇通道2

?以1.25微秒間隔進(jìn)行16次采樣，將它們累積在通道2的寄存器中，總耗時20微秒

?重復(fù)上述步驟，完成8個通道的取樣

?轉(zhuǎn)移8個結(jié)果，出現(xiàn)中斷或DMA

圖1：序列平均

序列平均

通道1

16個序列樣本

從通道1來看

孔徑時間

采樣間隔

 每個輸入端通過連續(xù)16次轉(zhuǎn)換進(jìn)行采樣。一個通道的連續(xù)轉(zhuǎn)換需要160微秒，因此每個通道的采樣頻率為每秒6250個樣本。采樣孔徑（即一個通道的采樣時間）為20微秒。這一孔徑會產(chǎn)生低通濾波的效果，然而帶寬會非常高，出現(xiàn)（1/20微秒）50千赫倍數(shù)頻率響應(yīng)的零點(diǎn)。這一過濾無法防止混疊。這一輸入信號中的任何接近6250赫茲倍數(shù)的頻率成分將被混疊降低到接近DC的水平，從而可能制造明顯的測量噪聲。只能通過使用每個通道的防混疊過濾器對其進(jìn)行預(yù)先過濾，以緩解這一現(xiàn)象。

 此外，各通道間會出現(xiàn)20微秒的時間偏差。如果需要計算交叉通道數(shù)學(xué)函數(shù)（比如相關(guān)性或功率計算），這一時間偏差會產(chǎn)生嚴(yán)重誤差。

 如果在這樣一個序列中有未平均的通道，此類通道的采樣頻率主要由其他序列采樣中需要做平均的通道決定。因此，盡管ADC的采樣頻率為800 ksps，但未平均的通道的采樣頻率要遠(yuǎn)低于此。最理想的情況是將這800 ksps頻率平均分?jǐn)偟?個通道，每個通道頻率為100 ksps。

 針對這一難題的解決方案交叉平均法則有效得多（見圖2）。定序器與之前一樣圍繞輸入通道，但這一次僅對每個通道采集一個樣本。在通道經(jīng)過N次單次采樣后，可以讀出所有累積寄存器的輸出。

圖2：交叉平均

交叉平均

組1

采樣間隔

從通道1來看

孔徑時間

 偽代碼形式的交叉平均序列如下：

?將硬件循環(huán)計數(shù)器設(shè)置為0

?刷新累積寄存器

?重復(fù)

?循環(huán)計數(shù)器+= 1

?選擇通道 [循環(huán)計數(shù)器]

?取一個樣本，將它累積到通道 [循環(huán)計數(shù)器]的寄存器中，總時間1.25微秒

?直到循環(huán)計數(shù)器 ≥8

?轉(zhuǎn)移8個結(jié)果，出現(xiàn)中斷或DMA

 這個平均過程的信號特征明顯不同?，F(xiàn)在不會出現(xiàn)連續(xù)轉(zhuǎn)換，獲得每個平均數(shù)的16次轉(zhuǎn)換被均勻地分?jǐn)?，每輪轉(zhuǎn)換耗時160微秒，間隔10微秒。換言之，每個通道的采樣頻率為100 ksps，這是將800 ksps ADC分?jǐn)偟?個通道時的理論最大值。這一過程的采樣孔徑為160微秒，因此系統(tǒng)頻率響應(yīng)零點(diǎn)會出現(xiàn)在最終采用頻率的倍數(shù)上。其優(yōu)點(diǎn)在于輸入信號中不會出現(xiàn)混疊降低到DC的高頻率噪聲。這可大大提高測量的穩(wěn)定性，從而顯著降低模擬過濾要求。

通道之間仍存在時間偏差，但已減少到1.25微秒，相比160微秒的抽樣時間要小得多，大大減少了跨通道計算的誤差。

 在本示例中，使用交叉平均法的轉(zhuǎn)換器子系統(tǒng)以相當(dāng)于約14位信噪比和6.25 ksps的頻率提供8個通道的樣本，并有效預(yù)防混疊，縮短通道間的延遲時間。

 交叉平均法正在賽普拉斯半導(dǎo)體的新型可編程芯片系統(tǒng)設(shè)備上推行，包括近期推出的Cortex M4-based PSoC 6和賽普拉斯PSo4系列模擬產(chǎn)品PSoC Analog Coprocessor。該設(shè)備的ADC中的硬件（可通過PSoC Creator Scan_ADC 組件進(jìn)行完整配置）還可以在不執(zhí)行平均功能的情況下轉(zhuǎn)換序列中的任何通道。這意味著在更前面的例子中，通道仍能夠達(dá)到100 ksps頻率，且不會影響已平均通道的時間。

 以高分辨率和高采樣頻率采集多個通道的樣本，極大的增加了使用現(xiàn)代混合信號可編程片上系統(tǒng)進(jìn)行經(jīng)濟(jì)而高性能的模擬信號捕捉的可能性。當(dāng)需要轉(zhuǎn)換多個可能要求進(jìn)行平均的模擬通道時，請注意多種平均模式對設(shè)備信號處理能力所產(chǎn)生的影響。