《電子技術(shù)應(yīng)用》
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科技生活「源」自泰克,為工程師驗(yàn)證新靈感

2019-05-20
關(guān)鍵詞: 泰克 吉時(shí)利 TOF

  在過(guò)去二十多年的時(shí)間,泰克旗下吉時(shí)利源表一直引領(lǐng)科技前沿技術(shù),為各行業(yè)工程師驗(yàn)證新靈感。從1989年吉時(shí)利發(fā)明了第一臺(tái)數(shù)字源表SMU到現(xiàn)在,吉時(shí)利源表市場(chǎng)占有率高達(dá)80%,成為源表市場(chǎng)的主要品牌。泰克科技官網(wǎng)最新發(fā)布科技生活,「源」自泰克,一站式提供泰克吉時(shí)利源表的測(cè)試解決方案、成功案例、應(yīng)用文章下載、相關(guān)產(chǎn)品等,以及春色買(mǎi)“源”的優(yōu)惠促銷(xiāo)活動(dòng)。

  吉時(shí)利SMU采用獨(dú)特的四象限設(shè)計(jì),在一、三象限作為源向負(fù)載提供功率,而在二、四象限作為負(fù)載吸收功率,提供精確電壓或電流的同時(shí),可以測(cè)量電壓或電流。吉時(shí)利SMU在一臺(tái)外形緊湊的儀器中集成五臺(tái)儀器,包括數(shù)字萬(wàn)用表 (DMM)、電壓源、電流源、電子負(fù)載、脈沖發(fā)生器,由于其通用性和高精度,SMU比五臺(tái)儀器的組合起來(lái)更強(qiáng)大。

  吉時(shí)利SMU應(yīng)用分為六個(gè)類(lèi)型:繪制圖形、基本源測(cè)、搭建系統(tǒng)、大功率、高密度和光學(xué)測(cè)試。其覆蓋的人群,從大學(xué)畢業(yè)生到大學(xué)教授,從物理材料學(xué)家到電子器件科研人員,從半導(dǎo)體器件工程師到電子研發(fā)工程師,從硬件工程師到可靠性測(cè)試工程師。

  搭建一流的材料測(cè)試實(shí)驗(yàn)室。

  如今,消費(fèi)者要求電子產(chǎn)品更小、更輕、更便宜、功能更強(qiáng)大、運(yùn)行時(shí)間更長(zhǎng)。 為了解決這些相互沖突的需求,研究人員需要開(kāi)發(fā)新材料,使現(xiàn)有設(shè)備小型化并提高設(shè)備效率。 人們努力降低功耗并提高設(shè)備密度和性能,推動(dòng)了對(duì)具有高載流子遷移率的石墨烯和其他二維 (2-D) 固體及有機(jī)半導(dǎo)體和納米級(jí)設(shè)備的研究。

  基于新型電解質(zhì)和電極材料的高效電池對(duì)延長(zhǎng)設(shè)備工作時(shí)間至關(guān)重要。砷化鎵 (GaAs) 和碳化硅 (SiC) 等材料對(duì)未來(lái)的電力傳輸技術(shù)至關(guān)重要。 材料研究也是提高太陽(yáng)能電池的轉(zhuǎn)換效率和功率輸出的關(guān)鍵。要提高激光二極管的效率以增強(qiáng)數(shù)據(jù)傳輸能力,必須研究新的材料和結(jié)構(gòu)。超靈敏測(cè)量(從測(cè)量飛秒級(jí)泄漏電流到用于評(píng)估高載流子遷移率材料的電阻率的微歐姆級(jí)電阻測(cè)量)是材料表征應(yīng)用中的核心。

  中山大學(xué)半導(dǎo)體材料與器件特性表征實(shí)驗(yàn)室,選用了吉時(shí)利2450源表測(cè)試平臺(tái)。2450源表5英寸高分辨率電容觸摸屏圖形用戶界面可以幫助老師和學(xué)生直接在前面板進(jìn)行參數(shù)設(shè)置,并顯示IV曲線。其測(cè)試功能強(qiáng)大可直接繪制IV曲線、測(cè)試精度高可以測(cè)到晶圓級(jí)器件、簡(jiǎn)便易用且方便快捷,可以很好的滿足實(shí)驗(yàn)室需求。

  在南京大學(xué)主要用于薄膜晶體管和半導(dǎo)體材料測(cè)試,通過(guò)2612B源表加背柵和源的電壓,進(jìn)行多路SMU測(cè)試,可以實(shí)現(xiàn)fA量級(jí)的電流分辨率,同時(shí)通過(guò)2636B源表來(lái)回讀低電流信號(hào)。

  3D 感測(cè)技術(shù)可增強(qiáng)人臉識(shí)別功能。

  3D 感測(cè)是一種深度感測(cè)技術(shù),可增強(qiáng)攝像機(jī)的面部和對(duì)象識(shí)別功能,適用于增強(qiáng)實(shí)境、游戲、自動(dòng)駕駛以及其他廣泛應(yīng)用。一種 3D 感測(cè)方法是使用結(jié)構(gòu)光,相干紅外光通過(guò)一個(gè)結(jié)構(gòu)模式傳輸至對(duì)象,可以解碼反射光以構(gòu)造 3D 圖像。另一種 3D 感測(cè)方法是使用飛行時(shí)間 (ToF),光源將傳輸一系列紅外光,并將使用對(duì)象反射光的光子相位差來(lái)感應(yīng)與對(duì)象的距離。

  吉時(shí)利為iPhone 人臉識(shí)別3D sensing 功能中的3D傳感提供測(cè)試測(cè)量解決方案。支持 3D 感測(cè)技術(shù)的光設(shè)備主要包括激光二極管、高亮度 LED (HBLED) 和光電二極管 (PD)。使用吉時(shí)利儀器在基于二極管的設(shè)備上執(zhí)行了電氣測(cè)試。吉時(shí)利源測(cè)量單元儀器可執(zhí)行光強(qiáng)、正向電壓、激光門(mén)限電流、量子效率、暗電流、“扭結(jié)”或扭結(jié)測(cè)試的存在、斜率效率、熱敏電阻、溫度、電容以及 L-I-V 脈沖測(cè)試等電測(cè)試。


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