NI、東京電子、FormFactor 和Reid-Ashman 聯(lián)合演示5G 毫米波半導體晶圓探針測試解 決方案在NIWeek 2019 上演示
2019-05-22
2019 年5 月21 日 - NIWeek - NI (美國國家儀器公司,National Instruments,簡稱NI) 是一家以軟件為中心的平臺供應(yīng)商,致力于幫助用戶加速自動化測試和自動測量系統(tǒng)的開發(fā)和性能,該公司宣布并演示了其與東京電子(8035-TO)、FormFactor (Nasdaq:FORM)和 Reid-Ashman 合作開發(fā)的5G 毫米波晶圓探針測試解決方案。
該演示解決方案可解決與5G 毫米波晶圓探針測試相關(guān)的技術(shù)挑戰(zhàn),有助于半導體制造商降低5G毫米波IC 的風險、成本和上市所需的時間。毫米波頻率的新特性正在挑戰(zhàn)傳統(tǒng)探針技術(shù)的信號完整性,傳統(tǒng)探針技術(shù)包括探探針接口板(PIB)、探針塔和探針板。NI、TEL、FormFactor 和Reid-Ashman 合作推出了一種直接的對接探針解決方案,該解決方案簡化了信號路徑,改善了毫
米波應(yīng)用所必需的信號完整性,并且支持頂部和底部負載探針應(yīng)用。
該解決方案的一個關(guān)鍵要素是NI 半導體測試系統(tǒng)(STS),該系統(tǒng)最近為5G 功率放大器、波束成形器和收發(fā)器增加了多站點毫米波測試功能。該解決方案的一個主要優(yōu)點是模塊化,允許復用軟件以及帶混合搭配毫米波無線電頭的基帶/IF 儀器,以解決當前和未來受關(guān)注的毫米波頻帶。
該解決方案
? 采用NI STS 進行5G 毫米波測試,支持直接對接探針
? 采用TEL PrecioTM XL 自動晶圓探針,針對并行芯片測試進行了優(yōu)化,具有高度精確的x、y和z 軸控制能力,有可靠的接觸靈敏度
? 采用 FormFactor Pyramid-MW 探針板,可在生產(chǎn)測試環(huán)境中實現(xiàn)卓越的射頻信號完整性和更長的接觸器壽命
? 采用Reid-Ashman OM1700 通用機械手,通過電動運動可實現(xiàn)高效而可重復的對接,而不會影響產(chǎn)品安全性
NI 企業(yè)戰(zhàn)略副總裁Kevin Ilcisin 博士表示:“我們相信,我們與領(lǐng)先的無線芯片制造商、測試單元集成合作伙伴、OSAT 和5G 研究界的早期合作促使我們在毫米波5G 生產(chǎn)測試中將風險降至最低。這是NI 致力于優(yōu)先投資以最大化我們?yōu)榭蛻籼峁┑膬r值,以應(yīng)對重大行業(yè)挑戰(zhàn)的最新例證?!?/p>
我們鼓勵對該解決方案感興趣的半導體芯片制造商和OSAT 來參觀NIWeek 展廳的半導體館,觀看演示并與各公司的代表進行交談。