《電子技術應用》
您所在的位置:首頁 > 測試測量 > 業(yè)界動態(tài) > 利用NI半導體測試系統(tǒng)(STS)軟件的增強功能,進一步加速測試程序的開發(fā),提高運營效率

利用NI半導體測試系統(tǒng)(STS)軟件的增強功能,進一步加速測試程序的開發(fā),提高運營效率

STS軟件的增強功能可幫助用戶提高半導體生產(chǎn)測試的效率,并降低測試成本
2019-10-14

2019年9月12日 – 美國國家儀器(National Instruments,簡稱“NI”)是一家軟件定義平臺的提供商,其平臺有助于加速自動化測試和自動化測量系統(tǒng)的開發(fā)和性能提升,該公司于今日推出了STS軟件的最新增強功能,這些功能可顯著提升NI半導體測試系統(tǒng)的編程和調試體驗,并大大提高測試執(zhí)行速度、并行測試效率和整體設備效率。

由于市場壓力不斷增加,半導體生產(chǎn)測試工程師正在力圖加快新測試程序的開發(fā)、調試和部署進程,以快速投入量產(chǎn)。對于尚未擁有測試系統(tǒng)的用戶,STS軟件2019提供了更優(yōu)化的線下體驗來幫助他們更快速開發(fā)測試程序。其他優(yōu)化包括簡化的驅動體驗,便于編程重復的儀器,以及簡化的數(shù)字掃描支持。另外,改進調試體驗后,用戶只需選擇相關待測設備(DUT)的site和引腳,即可在multi-site應用中快速進行交互式測量和調試自動化測試。

同樣,不斷增加的市場壓力也迫使半導體運營和制造團隊不斷優(yōu)化半導體封裝和測試設備,以提高盈利能力。STS軟件2019通過優(yōu)化儀器驅動來加快測試執(zhí)行時間,并強化線程管理以提高并行測試效率,進而提高測試吞吐量。此外,由于制造團隊可以在不同批次之間切換測試系統(tǒng)配置,從而大幅縮短了軟件轉換時間,進而幫助STS客戶提高利用率和設備整體效率。

“半導體公司不斷受到縮短上市時間和降低測試成本的壓力。美國國家儀器已經(jīng)擴展了NI半導體測試系統(tǒng)的功能,同時顯著提高了該系統(tǒng)的并行功能、速度和效率,”NI高級副總裁兼半導體業(yè)務總經(jīng)理Ritu Favre說道,“STS軟件2019版的新增強化功能可幫助客戶加速上市并降低成本,為他們創(chuàng)造了巨大價值?!?br/>

 


本站內容除特別聲明的原創(chuàng)文章之外,轉載內容只為傳遞更多信息,并不代表本網(wǎng)站贊同其觀點。轉載的所有的文章、圖片、音/視頻文件等資料的版權歸版權所有權人所有。本站采用的非本站原創(chuàng)文章及圖片等內容無法一一聯(lián)系確認版權者。如涉及作品內容、版權和其它問題,請及時通過電子郵件或電話通知我們,以便迅速采取適當措施,避免給雙方造成不必要的經(jīng)濟損失。聯(lián)系電話:010-82306118;郵箱:aet@chinaaet.com。