文獻(xiàn)標(biāo)識碼: A
DOI:10.16157/j.issn.0258-7998.222774
中文引用格式: 王毛凱,王文廉,王玉. 多發(fā)連續(xù)沖擊波超壓智能存儲測試系統(tǒng)[J].電子技術(shù)應(yīng)用,2022,48(11):127-131.
英文引用格式: Wang Maokai,Wang Wenlian,Wang Yu. Intelligent storage measurement system of multiple continuous shock wave[J]. Application of Electronic Technique,2022,48(11):127-131.
0 引言
作戰(zhàn)試驗是指在可控、可測的虛擬作戰(zhàn)環(huán)境中運用作戰(zhàn)模擬原理研究作戰(zhàn)問題的一種軍事實踐活動,連發(fā)作戰(zhàn)試驗是一種特殊的作戰(zhàn)試驗[1],需要在試驗過程長且環(huán)境復(fù)雜的背景下,從多個角度精確地記錄下每次爆炸所產(chǎn)生的沖擊波信號[2],并對其進(jìn)行處理。然而常規(guī)的存儲測試系統(tǒng)通常是針對一次爆炸進(jìn)行沖擊波信號記錄[3-4],需要頻繁地對測試系統(tǒng)進(jìn)行指令操控以及數(shù)據(jù)讀取,才能實現(xiàn)有效信號的多次記錄,效率較低;不僅如此,常規(guī)的存儲測試系統(tǒng)并沒有基線調(diào)節(jié)功能,測試環(huán)境以及傳感器靈敏度會影響測試系統(tǒng)基線,不僅導(dǎo)致測試系統(tǒng)誤觸發(fā)或者不觸發(fā),而且不利于對信號的處理分析[5]。
針對連發(fā)作戰(zhàn)試驗的需求,本文設(shè)計了一種基于SRAM和Flash的多發(fā)連續(xù)沖擊波智能存儲測試系統(tǒng)[6-8]。該系統(tǒng)具備自動調(diào)節(jié)基線功能,保證了系統(tǒng)的靈活性與適用性,能夠適用各種復(fù)雜環(huán)境;利用FPGA模塊化、多線程的工作模式[9-10],對存儲進(jìn)行分區(qū)管理[11],利用負(fù)延時技術(shù)結(jié)合信號觸發(fā)識別技術(shù)實現(xiàn)多發(fā)連續(xù)沖擊波的多通道智能存儲[12]。
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作者信息:
王毛凱,王文廉,王 玉
(中北大學(xué) 儀器科學(xué)與動態(tài)測試教育部重點試驗室,山西 太原030051)