《電子技術(shù)應(yīng)用》
您所在的位置：首頁 > 電子元件 > 設(shè)計(jì)應(yīng)用 > 一種面向SoC的全方位系統(tǒng)監(jiān)測驗(yàn)證方案
一種面向SoC的全方位系統(tǒng)監(jiān)測驗(yàn)證方案
電子技術(shù)應(yīng)用
劉斌1，2，虞小鵬1，譚年熊1
（1.浙江大學(xué) 微納電子學(xué)院，浙江 杭州 310000；2.西安路科驗(yàn)視集成電路技術(shù)咨詢有限公司，陜西 西安 710000）
摘要： 伴隨著目前SoC尺寸和復(fù)雜度的迅速增加，如何在系統(tǒng)層面實(shí)施充分完善的驗(yàn)證成為了一項(xiàng)重要挑戰(zhàn)。棘手的工作不但來自于對(duì)系統(tǒng)層面各項(xiàng)硬件資源的調(diào)度和測試場景實(shí)現(xiàn)，也來自于如何從復(fù)雜的系統(tǒng)運(yùn)行中獲得有用的信息。為了讓驗(yàn)證人員在仿真過程中及時(shí)掌握系統(tǒng)信息，提出一種面向SoC的全方位系統(tǒng)監(jiān)測驗(yàn)證方案，基于UVM框架可以實(shí)時(shí)獲得多種系統(tǒng)狀態(tài)信息。該方案也是基于一種自動(dòng)化的驗(yàn)證平臺(tái)并在此之上將監(jiān)測到的信息做了處理，以用來輔助驗(yàn)證人員更好地分析系統(tǒng)和定位問題。
關(guān)鍵詞： SOC 監(jiān)測 UVM 驗(yàn)證方案
中圖分類號(hào)：TN47
文獻(xiàn)標(biāo)志碼：A
DOI: 10.16157/j.issn.0258-7998.223385
中文引用格式： 劉斌，虞小鵬，譚年熊. 一種面向SoC的全方位系統(tǒng)監(jiān)測驗(yàn)證方案[J]. 電子技術(shù)應(yīng)用，2023，49(7)：41-47.
英文引用格式： Liu Bin，Yu Xiaopeng，Tan Nianxiong. An omni-directional system monitoring verification scheme for SoC[J]. Application of Electronic Technique，2023，49(7)：41-47.
An omni-directional system monitoring verification scheme for SoC
Liu Bin1，2，Yu Xiaopeng1，Tan Nianxiong1
(1.School of Micro-Nano Electronics， Zhejiang University， Hangzhou 310000， China； 2.Xi’an RockerIC Integrated Circuit Technology Consulting Co.， Ltd.， Xi’an 710000， China)
Abstract： With the rapid increase of SoC size and complexity, how to implement full and complete verification at the system level has become an important challenge. Difficult work not only comes from the scheduling of various hardware resources at the system level and the implementation of test scenarios, but also comes from how to obtain useful information from complex system operations. In order to let the verifier master the system information in time during the simulation process, a SoC oriented omni-directional system monitoring verification scheme can obtain various system status information in real time based on the universal verification methodology (UVM) framework. The scheme is also based on an automated verification platform, and the monitored information is processed in this platform to help the verifier better analyze the system and locate problems.
Key words : SoC；monitoring；UVM；verification scheme

0　引言

在目前的片上系統(tǒng)（System on Chip，SoC）研發(fā)過程中，功能驗(yàn)證在流片前已經(jīng)無法充分滿足驗(yàn)證需要了。其他的驗(yàn)證手段例如性能驗(yàn)證和效能驗(yàn)證也被納入到了完善的驗(yàn)證體系之中。盡管驗(yàn)證人員時(shí)刻在追趕項(xiàng)目進(jìn)度，但日益復(fù)雜的系統(tǒng)和驗(yàn)證評(píng)估方案在逐步擠壓他們的精力。通用驗(yàn)證方法學(xué)（Universal Verification Methodology，UVM）盡管已然成為了驗(yàn)證人員的一項(xiàng)有效的、可復(fù)用的驗(yàn)證方法學(xué)，然而基于它之上在SoC系統(tǒng)級(jí)驗(yàn)證過程中如何釋放更大的能量還需要開拓。

在復(fù)雜的系統(tǒng)仿真運(yùn)行過程中，往往缺少規(guī)范、有效的手段來及時(shí)獲得系統(tǒng)執(zhí)行時(shí)的各項(xiàng)狀態(tài)。同時(shí)，電子設(shè)計(jì)自動(dòng)化（Electronic Design Automation，EDA）廠商對(duì)于性能和效能的評(píng)估在仿真時(shí)也缺少一致的方案。本文提出了一種基于UVM自動(dòng)化驗(yàn)證平臺(tái)、可全方位監(jiān)測系統(tǒng)運(yùn)行狀態(tài)的驗(yàn)證方案Bailing（百靈）。Bailing是一套定制化方案，而且在項(xiàng)目執(zhí)行中可以基于SoC的結(jié)構(gòu)做靈活擴(kuò)展。



本文詳細(xì)內(nèi)容請(qǐng)下載：http://theprogrammingfactory.com/resource/share/2000005390




作者信息：

劉斌1，2，虞小鵬1，譚年熊1

（1.浙江大學(xué) 微納電子學(xué)院，浙江 杭州 310000；2.西安路科驗(yàn)視集成電路技術(shù)咨詢有限公司，陜西 西安 710000）


微信圖片_20210517164139.jpg

此內(nèi)容為AET網(wǎng)站原創(chuàng)，未經(jīng)授權(quán)禁止轉(zhuǎn)載。