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KLA-TENCOR 針對科學與太陽能測量需求推出新型 P-6 表面輪廓儀系統(tǒng)

2008-07-18
作者:KLA-Tencor 公司
關(guān)鍵詞: KLA-Tencor 制程 良率 納斯達克 2D
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kla-tencor" title="kla-tencor">kla-tencor.com/">KLA-Tencor 公司(納斯達克" title="納斯達克">納斯達克股票代碼KLAC今天發(fā)布其最新的探針式表面輪廓測量系統(tǒng) P-6?,該系統(tǒng)針對科學研究與生產(chǎn)環(huán)境例如,光電太陽能電池制造)提供一組獨特的先進功能組合。P-6 系統(tǒng)受益于在先進半導體輪廓儀系統(tǒng)上開發(fā)的測量技術(shù),但卻采用了較小與較經(jīng)濟的桌面型機臺設(shè)計,可接受最大至 150 毫米的樣本。?

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KLA-Tencor 的成長與新興市場集團副總裁 Jeff Donnelly 表示:“我們對 P-6 探針系統(tǒng)的推出感到振奮,該系統(tǒng)將為科學與太陽能客戶提供在應用方面的最佳功能組合。對于太陽能市場,P-6 擁有在開發(fā)階段提高太陽能電池效率,以及監(jiān)控生產(chǎn)制程" title="制程">制程質(zhì)量所需的分辨率、掃描質(zhì)量和自動控制能力?!?/SPAN>?

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融合 KLA-Tencor 的自動化 P-16+ 探針式輪廓儀的眾多功能,P-6 探針式輪廓儀充分承襲了最佳技術(shù)與效能的傳統(tǒng): ?

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·????????????? 低噪聲基底可改善表征微小表面特征的測量靈敏度?

·????????????? 小于 6 埃的步進高度可重復性,確保了嚴苛的制程控制?

·????????????? 150 毫米 X-Y 樣本載臺可實現(xiàn)覆蓋整個基底的單一測量?

·????????????? 2D" title="2D">2D 應力測量與分析可將缺陷降至最低并提升良率?

·????????????? 功能強大且容易使用的分析軟件,提供高階應用的靈活性?

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P-6 輪廓儀已通過主要太陽能產(chǎn)品制造商 BP Solar 的合格認證。BP Solar 技術(shù)副總裁 Eric Daniels 表示:“我們對 KLA-Tencor P-6 系統(tǒng)的評估證明,它對于多種表面測量應用系統(tǒng)的一系列制程條件具有高靈敏性,其中包括 ARC 薄膜、導線觸點及前表面紋理結(jié)構(gòu)。對于支持我們的技術(shù)開發(fā)與生產(chǎn)改善,P6 將發(fā)揮重要價值。”?

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P-6 系統(tǒng)將于 2008 7 15 17 日在舊金山舉辦的 InterSolar 北美展會第 9252 KLA-Tencor 展臺上展出。?

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關(guān) KLA-Tencor KLA-Tencor 專為體和相關(guān)產(chǎn)業(yè)提供制程控制及良率" title="良率">良率管理解決方案的全球領(lǐng)先供商。公司設(shè)在美國加州的密必達市,售及服網(wǎng)遍布全球。KLA-Tencor 身于準普 500 公司之一,并在斯達克全球精上市交易,其股票代碼為 KLAC。有關(guān)該公司的更多信息,網(wǎng)站 http://www.kla-tencor.com?

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