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意法半導(dǎo)體微型AI傳感器集成運(yùn)動(dòng)跟蹤和高強(qiáng)度沖擊測(cè)量功能

意法半導(dǎo)體微型AI傳感器集成運(yùn)動(dòng)跟蹤和高強(qiáng)度沖擊測(cè)量功能

2025年5月21日，中國(guó)--服務(wù)多重電子應(yīng)用領(lǐng)域、全球排名前列的半導(dǎo)體公司意法半導(dǎo)體 (STMicroelectronics，簡(jiǎn)稱ST；紐約證券交易所代碼:STM) 日前宣布了一款在一個(gè)節(jié)省空間的封裝內(nèi)集成運(yùn)動(dòng)跟蹤傳感器和高重力沖擊測(cè)量傳感器的慣性測(cè)量單元，裝備該測(cè)量單元的設(shè)備可以非常準(zhǔn)確地重構(gòu)完整事件，提供更多的功能和出色的用戶體驗(yàn)

基于雙閃存的大容量沖擊波超壓測(cè)試系統(tǒng)

為了解決沖擊波超壓測(cè)試系統(tǒng)的存儲(chǔ)容量小、功耗大的問(wèn)題，設(shè)計(jì)了一種基于AVR單片機(jī)和CPLD的雙閃存沖擊波超壓測(cè)試系統(tǒng)。闡述了存儲(chǔ)測(cè)試方法，設(shè)計(jì)了負(fù)延時(shí)模塊，通過(guò)CPLD對(duì)被測(cè)量進(jìn)行高速采集，使用單片機(jī)控制兩片閃存交替工作的模式來(lái)記錄被測(cè)信號(hào)。根據(jù)被測(cè)信號(hào)的頻譜選擇了傳感器，針對(duì)該傳感器設(shè)計(jì)了模擬信號(hào)調(diào)理電路和數(shù)字電路。實(shí)驗(yàn)證明將系統(tǒng)應(yīng)用于爆炸現(xiàn)場(chǎng)可完成對(duì)沖擊波壓力信號(hào)的檢測(cè)和存儲(chǔ)。

發(fā)表于：1/14/2014

NI中國(guó)再次榮登“2013大中華區(qū)最佳職場(chǎng)”榜單

新聞發(fā)布－ 2014年1月－美國(guó)國(guó)家儀器公司（National Instruments, 簡(jiǎn)稱NI）繼2012年之后再次榮登“2013大中華區(qū)最佳職場(chǎng)”®榜單。今年共有12家公司上榜，有去年的6家公司再次上榜，NI是其中之一。在榜單頒布當(dāng)天，卓越職場(chǎng)®還舉辦了“最佳管理實(shí)踐”論壇活動(dòng)。在該活動(dòng)上NI東亞區(qū)副總裁Ajit Gokhale 先生做了精彩的主題演講，分享了作為最佳職場(chǎng)領(lǐng)袖的親身經(jīng)驗(yàn)。

發(fā)表于：1/10/2014

非特征點(diǎn)雙目測(cè)距技術(shù)研究

提出了一種局部稠密匹配與人工干預(yù)相結(jié)合的測(cè)距方案，利用非特征點(diǎn)與特征點(diǎn)的位置關(guān)系，構(gòu)建“最小矩形”以縮小匹配范圍，再應(yīng)用NCC（歸一化互相關(guān)）算法對(duì)非特征點(diǎn)進(jìn)行稠密立體匹配，最后根據(jù)雙目測(cè)距原理直接獲取非特征點(diǎn)的距離信息。該方法能任意選取圖像上的非特征點(diǎn)進(jìn)行實(shí)時(shí)距離測(cè)量，具有精度高、速度快和操作性強(qiáng)等優(yōu)點(diǎn)。

發(fā)表于：1/3/2014

捷報(bào)頻傳，福祿克產(chǎn)品摘獲多項(xiàng)行業(yè)媒體大獎(jiǎng)

在這辭舊迎新之際，福祿克憑借2013年度電子測(cè)試工具行業(yè)的創(chuàng)新新品，摘獲多項(xiàng)中國(guó)行業(yè)媒體產(chǎn)品大獎(jiǎng)，進(jìn)一步展示了福祿克作為世界電子測(cè)試工具的領(lǐng)導(dǎo)者形象，并以其領(lǐng)先世界，值得信賴的品質(zhì)贏得了中國(guó)用戶的共識(shí)。

發(fā)表于：12/30/2013

融合五幀差分與高斯模型的運(yùn)動(dòng)物料袋檢測(cè)

提出了一種快速檢測(cè)方法。以動(dòng)態(tài)傳送帶與物料袋為研究對(duì)象，用改進(jìn)的五幀差分法提取運(yùn)動(dòng)物料袋圖像，同時(shí)以中間幀圖像為參照進(jìn)行單高斯背景更新；采用中間幀圖像與背景圖像做差，將得到的前景圖像與幀差法得到的運(yùn)動(dòng)圖像進(jìn)行形態(tài)學(xué)“與”運(yùn)算；當(dāng)幀數(shù)滿足給定條件時(shí)，表明該幀為完整物料袋圖像，保存幀圖像，并對(duì)不滿足該條件的相鄰幀圖像通過(guò)加運(yùn)算補(bǔ)償。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明，該方法可以得到準(zhǔn)確、快速的檢測(cè)結(jié)果，并且對(duì)環(huán)境變化具有較強(qiáng)的魯棒性。

發(fā)表于：12/25/2013

農(nóng)業(yè)試驗(yàn)田數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)開(kāi)發(fā)

系統(tǒng)以云服務(wù)為依托,以集成ZigBee協(xié)調(diào)器模塊、GPS 模塊、GPRS 模塊、RFID讀寫模塊的ARM-Linux嵌入式終端為媒介，以分布于試驗(yàn)田中的RFID電子標(biāo)簽和溫、濕度傳感器為基礎(chǔ)。GPS和RFID電子標(biāo)簽組成組合定位模式，對(duì)實(shí)驗(yàn)田中的采樣植株進(jìn)行標(biāo)定。ZigBee 協(xié)調(diào)器模塊用于管理試驗(yàn)田溫、濕度傳感器網(wǎng)絡(luò)，通過(guò)此網(wǎng)絡(luò)采集試驗(yàn)田溫、濕度數(shù)據(jù)；GPRS 模塊用于與云服務(wù)器建立遠(yuǎn)程無(wú)限網(wǎng)絡(luò)連接，并實(shí)現(xiàn)各種數(shù)據(jù)的傳輸。使用嵌入式QT開(kāi)發(fā)了終端上的應(yīng)用模塊，實(shí)現(xiàn)了終端的人機(jī)交互和控制管理。借助對(duì)云服務(wù)器的模擬驗(yàn)證表明，系統(tǒng)達(dá)到了設(shè)計(jì)要求。

發(fā)表于：12/24/2013

基于PCA和LVQ混合神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)算法的電子鼻系統(tǒng)

為了對(duì)食物品質(zhì)進(jìn)行非接觸式評(píng)價(jià)，采用6種費(fèi)加羅金屬氧化物半導(dǎo)體傳感器陣列設(shè)計(jì)并研制了可對(duì)被測(cè)食物進(jìn)行無(wú)損檢測(cè)的電子鼻系統(tǒng)。系統(tǒng)主要由采樣模塊、控制模塊和上位機(jī)組成，并采用主成分分析（PCA）和學(xué)習(xí)矢量量化（LVQ）混合神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模式識(shí)別算法對(duì)氣體“指紋信息”數(shù)據(jù)庫(kù)進(jìn)行分析。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明，利用該電子鼻系統(tǒng)可以對(duì)5種不同的食用醬進(jìn)行檢測(cè)，并且具有對(duì)未知醬品進(jìn)行識(shí)別的功能。

發(fā)表于：12/20/2013

NI Multisim 13.0針對(duì)教學(xué)、科研和專業(yè)設(shè)計(jì)提升模擬、數(shù)字和電路仿真功能

新聞發(fā)布 ——2013 年12月 ——　美國(guó)國(guó)家儀器有限公司（National Instruments, 簡(jiǎn)稱NI）近日發(fā)布了Multisim 13.0，這是一款適合全球教師、學(xué)生和工程師使用的一流SPICE仿真環(huán)境，可幫助他們探索和設(shè)計(jì)電路以及開(kāi)發(fā)電路原型。

發(fā)表于：12/13/2013

意法半導(dǎo)體(ST)功耗最低的始終開(kāi)啟（Always-On）6軸慣性運(yùn)動(dòng)傳感器可提高便攜設(shè)備的感應(yīng)靈敏度和電池使用壽命

意法半導(dǎo)體（STMicroelectronics，簡(jiǎn)稱ST；紐約證券交易所代碼：STM）發(fā)布了新系列始終開(kāi)啟（Always-On）的6軸運(yùn)動(dòng)慣性傳感器。新系列產(chǎn)品符合業(yè)內(nèi)最低功耗，封裝尺寸極小，并具有前所未有的設(shè)計(jì)靈活性。產(chǎn)品最大亮點(diǎn)是，意法半導(dǎo)體獨(dú)有的6軸慣性運(yùn)動(dòng)感應(yīng)可運(yùn)行與傳感器相關(guān)的所有功能以及客戶專用軟件，同時(shí)功耗比現(xiàn)有解決方案降低40%。

發(fā)表于：12/12/2013

安捷倫屢獲殊榮的超快速 Express Test 現(xiàn)可兼容全部 G200 臺(tái)子和 DCM II、XP 壓頭

2013 年12 月9日，北京——安捷倫科技公司（NYSE：A）日前宣布其快速壓痕測(cè)試Express Test 選件榮獲全球百大科技研發(fā)獎(jiǎng)，現(xiàn)可兼容全部Nano Indenter G200 臺(tái)子、DCM II 和XP 壓頭。創(chuàng)新Express Test 技術(shù)可實(shí)現(xiàn)全球最快速的納米壓痕，以進(jìn)行力學(xué)性能成像。

發(fā)表于：12/10/2013