功率MOS管RDS(on)負溫度系數(shù)對負載開關(guān)設(shè)計的影響
所屬分類:技術(shù)論文
上傳者:aet
文檔大?。?span>296 K
標(biāo)簽: 開關(guān)|穩(wěn)壓
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文檔介紹:介紹了功率MOS管導(dǎo)通電阻的正溫度系數(shù)和負溫度系數(shù)的雙重特性以及相對應(yīng)的VGS的轉(zhuǎn)折電壓,負載開關(guān)電路通過延長米勒平臺的時間來限制輸入浪涌電流的工作特點。分析了由于米勒平臺工作于負溫度系數(shù)區(qū)域,產(chǎn)生的開關(guān)損耗導(dǎo)致局部熱不平衡從而形成局部熱點的原因。實驗結(jié)果表明,減小輸出電容、提高功率MOS管的散熱能力,可以提高系統(tǒng)的可靠性。
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