惠瑞捷相關(guān)文章(21篇)

惠瑞捷SoC測試平臺助力日月光IC封測
發(fā)表于：9/23/2011 12:00:00 AM
惠瑞捷V93000 Direct-Probe成功用于200多個生產(chǎn)案例
發(fā)表于：7/15/2011 2:49:38 PM
惠瑞捷獲自動測試設(shè)備供應(yīng)商最佳客戶滿意度獎
發(fā)表于：6/7/2011 12:00:00 AM
惠瑞捷榮膺VLSI Research五星級客戶滿意度大獎
發(fā)表于：1/5/2010 12:00:00 AM
惠瑞捷為成本敏感型集成電路和微控制器推出零空間占用的低成本測試系統(tǒng)V101
發(fā)表于：7/9/2009 11:12:18 AM
惠瑞捷榮登VLSI Research客戶滿意度榜首
發(fā)表于：6/4/2009 11:31:57 AM
展訊公司選擇惠瑞捷V93000測試其移動數(shù)字電視器件
發(fā)表于：3/18/2009 3:10:03 PM
展訊公司選擇惠瑞捷V93000測試其移動數(shù)字電視器件
發(fā)表于：3/18/2009 3:10:03 PM
蘇州中科集成電路設(shè)計和工程測試中心采用惠瑞捷V93000為本地設(shè)計公司提供支持
發(fā)表于：8/27/2008 11:57:42 AM
展訊通信公司選擇Verigy Port Scale RF解決方案測試無線器件
發(fā)表于：7/15/2008 9:10:31 AM
NVIDIA擴(kuò)大惠瑞捷 V93000 SOC測試平臺使用范圍
發(fā)表于：7/7/2008 11:42:15 AM
新科金朋購買多套惠瑞捷Port Scale RF解決方案授予惠瑞捷最佳供應(yīng)商獎
發(fā)表于：7/1/2008 2:11:34 PM
惠瑞捷推出適用于V93000平臺的Inovys 硅片調(diào)試解決方案縮短系統(tǒng)級芯片（SoC）制造者改善成品率的時間
發(fā)表于：6/23/2008 3:06:03 PM
賽凡選擇惠瑞捷V5000e進(jìn)行下一代45nm非易失性存儲器設(shè)備調(diào)試和設(shè)計特性分析
發(fā)表于：3/20/2008 1:46:44 PM
Rambus選擇惠瑞捷V93000 HSM系列測試下一代超高速存儲芯片
發(fā)表于：3/19/2008 2:53:30 PM
ASE Test選擇惠瑞捷V93000 Port Scale RF進(jìn)行復(fù)雜RF-SOC測試
發(fā)表于：3/18/2008 4:21:58 PM
惠瑞捷公布2008年第一財季財務(wù)報告
發(fā)表于：3/18/2008 2:35:40 PM
OKI選用惠瑞捷V93000 Port Scale射頻測試解決方案實現(xiàn)高性能，低測試成本以及快速量產(chǎn)上市
發(fā)表于：11/29/2007 2:12:07 PM
惠瑞捷V93000測試系統(tǒng)推出Port Scale 射頻測試解決方案
發(fā)表于：8/31/2007 10:10:05 AM
惠瑞捷納米電子數(shù)字信號測試解決方案可找出65納米及更小制程的故障模式以提高生產(chǎn)良率
發(fā)表于：8/31/2007 10:07:32 AM
惠瑞捷V93000測試系統(tǒng)推出消費類電子產(chǎn)品的混合信號測試解決方案
發(fā)表于：8/31/2007 10:01:16 AM

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