美國國家儀器公司（National Instruments，簡稱NI）近日推出業(yè)內(nèi)帶寬最高的PXI數(shù)字化儀，擴(kuò)展了 PXI數(shù)字化儀產(chǎn)品的性能。NI與全球示波器領(lǐng)導(dǎo)者泰克公司共同研發(fā)，成功實現(xiàn)了具有5 GHz帶寬和12.5 GS/s采樣率的 NI PXIe-5186以及3 GHz帶寬和12.5 GS/s采樣率的NI PXIe-5185兩款全新數(shù)字化儀。作為NI基于PXI平臺的軟硬件平臺的組成部分，這兩款數(shù)字化儀為自動化測試應(yīng)用提供了更優(yōu)異的性能。

　　 “全新PXI數(shù)字化儀結(jié)合了泰克在高速數(shù)字化儀前端設(shè)計方面的優(yōu)勢和NI在軟件定義的模塊化儀器領(lǐng)域的優(yōu)勢，我們很高興能夠與泰克共同開發(fā)新產(chǎn)品，”NI CEO James Truchard博士說，“這些數(shù)字化儀進(jìn)一步體現(xiàn)了摩爾定律對測試應(yīng)用的影響，使PXI模塊化儀器在保持體積優(yōu)勢的同時不斷達(dá)到更高性能。”

　　 全新數(shù)字化儀中的泰克專利ASIC芯片是進(jìn)行高速信號采集的基礎(chǔ)，具有低噪聲、高線性度等特點，并且基于高可靠性的IBM 7HP SiGe技術(shù)實現(xiàn)。泰克的Enabling Technology技術(shù)保證了極佳的信號保真度，并可實現(xiàn)超低抖動特性。極低的500飛秒(RMS)抖動確保了5GHz時的有效位數(shù)（ENOB）可達(dá)5.5比特。NI專利技術(shù)為全新數(shù)字化儀提供高數(shù)據(jù)吞吐量，可實現(xiàn)更快的測試速度，利用領(lǐng)先的多模塊定時與同步技術(shù)可進(jìn)一步創(chuàng)建高通道數(shù)的集成測試系統(tǒng)。該數(shù)字化儀適用于3U PXI Express平臺，能夠以700 MB/s的速率進(jìn)行高速數(shù)據(jù)傳輸，并且多個模塊間的通道同步精度可達(dá)160ps。這些功能使全新數(shù)字化儀成為自動化生產(chǎn)測試、半導(dǎo)體ATE和高能物理測量系統(tǒng)等應(yīng)用的理想之選。

　　 “作為全球示波器的領(lǐng)先廠商，泰克公司致力于提供滿足各類用戶需求的技術(shù)，包括針對使用模塊化儀器進(jìn)行自動化生產(chǎn)測試的用戶，”泰克公司首席技術(shù)官Kevin Ilcisin說，“這一產(chǎn)品讓客戶同時享受到泰克公司行業(yè)領(lǐng)先的信號采集技術(shù)以及儀器自動化行業(yè)領(lǐng)導(dǎo)者、PXI標(biāo)準(zhǔn)制定廠商NI公司卓越的儀器控制技術(shù)的優(yōu)勢。”

　　全新數(shù)字化儀可結(jié)合NI LabVIEW圖形化系統(tǒng)設(shè)計軟件，進(jìn)行儀器控制與自動化應(yīng)用；同時也可利用NI LabWindows/CVI ANSI C軟件開發(fā)環(huán)境或Microsoft Visual Studio .NET開發(fā)工具，使用各種語言進(jìn)行編程。工程師可以使用NI-SCOPE儀器驅(qū)動以及全新LabVIEW抖動分析工具包加速開發(fā)。LabVIEW抖動分析工具包提供了豐富的函數(shù)庫，可用于抖動、眼圖和相位噪聲等測量。