面向集成設備制造商（IDM）和最終測試分包商，設計和制造測試分選機、測試座、測試負載板的領先廠商Multitest公司，日前欣然宣布其MT2168的設計旨在實現(xiàn)最佳測試儀利用率。短Index時間（DUT交換時間）、快速上料與分類以及超大器件預熱能力均支持分選機與新一代測試儀保持同步。

　　理想情況下，如果分選機沒有局限性，增強的測試儀性能從兩方面優(yōu)化了測試單元產能：它們得益于更短測試時間和更高測試并行性的應用。

　　目前很多先進的分選機不能支持增強的測試儀性能，即使它們擁有多個相應的測試位亦是如此。因此，潛在的產能優(yōu)勢受到最高分選機產能的限制。最高分選機產能取決于上料、預熱和分類速度。

　　增加測試位的數(shù)量（并行性）將直接與能夠同時測試更多器件的增強的測試儀能力相呼應。只有在未達到分選機的上料和分類能力上限的情況下，才能增加并行性。否則，這將被更長的上料和分類時間抵消。在任何情況下，分選速度均需改善，以便受益于更短測試時間。對于所需的預熱能力來說亦是如此，目的是為了充分利用更高并行性和更短測試時間的優(yōu)勢。

　　MT2168的設計旨在充分利用測試儀的性能。該新一代測試分選機不僅針對單個參數(shù)（并行性和速度）進行優(yōu)化，其內部的測試位數(shù)量、上料、預熱及分類能力等方面也得到同步改善。