《電子技術(shù)應(yīng)用》
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擴(kuò)展電容數(shù)字轉(zhuǎn)換器AD7745/AD7746的容性輸入范圍
摘要: 本電路提供一種擴(kuò)展AD7745/AD7746容性輸入范圍的方法。同時,還說明如何充分利用片內(nèi)CapDAC,使范圍擴(kuò)展系數(shù)最小,從而優(yōu)化電路,實現(xiàn)最佳性能。AD7745具有一個電容輸入通道,AD7746則有兩個通道。每個通道均可配置為單端輸入或差分輸入方式。
Abstract:
Key words :

電路功能與優(yōu)勢

本電路提供一種擴(kuò)展AD7745/AD7746容性輸入范圍的方法。同時,還說明如何充分利用片內(nèi)CapDAC,使范圍擴(kuò)展系數(shù)最小,從而優(yōu)化電路,實現(xiàn)最佳性能。AD7745具有一個電容輸入通道,AD7746則有兩個通道。每個通道均可配置為單端輸入或差分輸入方式。

圖1

圖1. AD7745容性輸入范圍擴(kuò)展電路(原理示意圖,未顯示去耦和所有連接)

 

計算所需的范圍擴(kuò)展系數(shù)F

首先要找出哪一個傳感器參數(shù)是所需范圍擴(kuò)展的主要因素。

傳感器的大電容可能高達(dá)200 pF,因此所需范圍擴(kuò)展系數(shù)為

Equation 2

傳感器的動態(tài)范圍計算如下:

Equation 3

該動態(tài)范圍所需的范圍擴(kuò)展系數(shù)計算如下:

Equation 4

計算表明,決定范圍擴(kuò)展系數(shù)的參數(shù)是傳感器大電容;因此,后續(xù)計算將使用F = 11.76。

選擇電阻值R1和R2

選擇R1值為100 kΩ。然后計算R2的電阻值,并將其向下舍入為標(biāo)準(zhǔn)E96系列中的值:

Equation 5

使用CapDAC

可以用AD7745/AD7746的CapDAC來補(bǔ)償傳感器元件的大電容。對于AD7745/AD7746,CapDAC的滿量程最小值為17 pF,典型值為21 pF。因此,對于給定CapDAC設(shè)置,電容可能會因器件不同而有很大差別。

其原因在于,AD7745/AD7746片內(nèi)電容可能會隨各批次所采用的生產(chǎn)工藝不同而有所變化。不過,片內(nèi)電容之間的比率變化非常小。

AD7745/AD7746容性輸入經(jīng)過工廠校準(zhǔn)。此校準(zhǔn)系數(shù)存儲在電容增益寄存器(Cap Gain Register)中。電容增益寄存器中存儲的校準(zhǔn)系數(shù)計算如下:

Equation 6

因此,內(nèi)部基準(zhǔn)電容CREF可以定義為AD7745/AD7746的容許滿量程輸入電容與增益校準(zhǔn)系數(shù)的乘積。

Equation 7

對于AD7745/AD7746,滿量程CapDAC電容與內(nèi)部基準(zhǔn)電容CREF 之間的比值為3.2。因此,CapDAC滿量程電容計算如下:

Equation 8

如果增益校準(zhǔn)系數(shù)為1.4,則得到的CREF 和CCAPDAC值為:

Equation 9

范圍擴(kuò)展電路確保檢測電容CSENS 內(nèi)的電荷轉(zhuǎn)移始終在AD7745/AD7746的輸入范圍內(nèi)。CapDAC接受CIN輸入端檢測電容的電荷,導(dǎo)致測得的電容減小,這可以用來補(bǔ)償傳感器的大電容。CapDAC電容的一個LSB代表對檢測電容補(bǔ)償:

Equation 10

計算所需的CapDAC設(shè)置

CapDAC有一定的動態(tài)非線性(DNL)誤差。建議通過CapDAC設(shè)置,讓應(yīng)用的目標(biāo)校準(zhǔn)點(diǎn)位于容性輸入范圍的零電平。然后,利用現(xiàn)有系統(tǒng)失調(diào)校準(zhǔn)功能,就可輕松消除其余失調(diào)。

對于本文的濕度傳感器元件示例,所需CapDAC設(shè)置計算如下:

Equation 11

系統(tǒng)失調(diào)校準(zhǔn)將補(bǔ)償其余的較小失調(diào)。

利用范圍擴(kuò)展電路進(jìn)行測量

使用帶有范圍擴(kuò)展電路的AD7746演示板進(jìn)行測量。測量過程中使用可變電容。該板與AD7746標(biāo)準(zhǔn)評估板相連;用標(biāo)準(zhǔn)評估板軟件配置器件,并讀取轉(zhuǎn)換結(jié)果。此類電路必須構(gòu)建在具有較大面積接地層的多層電路板上。為實現(xiàn)最佳性能,必須采用適當(dāng)?shù)牟季?、接地和去耦技術(shù)(請參考教程MT-031——“實現(xiàn)數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器的接地并解開AGND和DGND的謎團(tuán)”以及教程MT-101——“去耦技術(shù)”)。

利用精密LCR測量計將可變電容設(shè)置為確定的值。然后,將此電容與范圍擴(kuò)展板相連,其中CapDAC設(shè)置為此確定大電容CBULK的計算值。執(zhí)行系統(tǒng)失調(diào)校準(zhǔn),使零點(diǎn)位于CBULK。

每進(jìn)行一次測量,均應(yīng)利用LCR測量計將該電容設(shè)置為所需值,然后將其與范圍擴(kuò)展板相連,以測量AD7746所面對的電容。最后,利用依據(jù)所測電阻值得到的系數(shù),計算擴(kuò)展電容值??捎孟铝写箅娙葜担篊BULK = 100 pF、150 pF和200 pF。

范圍擴(kuò)展電路的計算

由上述計算可知,所需電阻值為100 kΩ和118 kΩ。測量所用電阻,其值如下:R1 = 100.004 kΩ; R2 = 118.060 kΩ.

計算由此獲得的范圍擴(kuò)展系數(shù)F:

Equation 12

計算動態(tài)容性輸入范圍:

Equation 13

因此,測量范圍為±45 pF,以15 pF為步進(jìn)。

計算增益校準(zhǔn)系數(shù)值讀數(shù):0x5FBD = 24509

Equation 14

因此,CapDAC值和設(shè)置分別為:

Equation 15

測量誤差

圖2所示的測量結(jié)果表明,范圍擴(kuò)展電路導(dǎo)致的誤差并不取決于所測的大電容值,而是取決于范圍擴(kuò)展電路本身。所有三次測量均顯示類似的特點(diǎn),而且呈線性;因此,可以很容易地通過軟件補(bǔ)償范圍擴(kuò)展電路所引起的誤差。

圖2

圖2. 增益誤差與所測電容的關(guān)系
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