《電子技術(shù)應(yīng)用》
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7nm制程推進有速 EDA業(yè)者快步跟上

2017-03-24
關(guān)鍵詞: 晶圓 電子設(shè)計 臺積電 P2P

隨著一線晶圓代工業(yè)者的7奈米制程即將陸續(xù)進入試產(chǎn)、量產(chǎn)階段,電子設(shè)計自動化(EDA)也快速跟上,針對7奈米及12奈米制程提供各種對應(yīng)解決方案。 EDA業(yè)者明導(dǎo)國際(Mentor Graphics)宣布,該公司的Calibre設(shè)計工具平臺,包含設(shè)計規(guī)范檢查(DRC)、多重曝光(Multi-Patterning)、布局繞線(P&R)工具等,已通過臺積電的12奈米FFC及7奈米V1.0制程認證。 Calibre現(xiàn)在已可支持最新的TSMC 12FFC制程設(shè)計協(xié)助客戶的設(shè)計。 此外,AFS電路驗證平臺,包括AFS Mega,技術(shù)已成熟(readiness)可支持12FFC技術(shù)與臺積電建模接口(TMI)。

對于臺積電 7奈米制程,完整的Calibre實現(xiàn)套件現(xiàn)已更新至V1.0版本,適用于客戶的生產(chǎn)設(shè)計交付制造。 歷經(jīng)數(shù)回的改版發(fā)表,臺積電與明導(dǎo)持續(xù)合作提升Calibre DRC 執(zhí)行效能。 目前的V1.0版本與初期的版本相比,執(zhí)行速度已顯著提升。

可靠度是現(xiàn)今許多電子產(chǎn)品成功的關(guān)鍵因素。 臺積電與明導(dǎo)國際擴展其合作關(guān)系至7奈米制程,可提供完備的靜電放電(ESD)與閂鎖(latch-up)問題驗證,這些都會對可靠的效能與產(chǎn)品使用壽命帶來影響。 此合作關(guān)系也造就了Calibre PERC工具中的多CPU運算功能發(fā)展,能被用來進行全設(shè)計的點對點(P2P)阻抗和電流密度(CD)檢查。

工程變更指令(ECO)通常都會在設(shè)計流程的后期才發(fā)生,而影響了交付制造的時程。 為了加速雙方客戶達到設(shè)計收斂的能力,臺積電與明導(dǎo)國際合作,擴展Calibre YieldEnhancer ECO填充流程從20奈米一直到最新的7奈米技術(shù)。 ECO填充流程能讓客戶快速管理最后階段的設(shè)計變更,并確保變更仍能符合臺積電的制造需求。

AFS平臺,包括AFS Mega電路仿真器,已通過臺積電7奈米V1.0制程認證。 全球領(lǐng)先半導(dǎo)體業(yè)者的模擬、混合訊號與RF設(shè)計團隊都將獲益于采用AFS平臺,以有效地驗證使用臺積電的最新技術(shù)所設(shè)計的芯片。

明導(dǎo)的Nitro-SoC P&R平臺已進一步增強,可滿足臺積電7奈米設(shè)計實現(xiàn)與認證的所有需求。 明導(dǎo)還展現(xiàn)了其7奈米技術(shù)的成熟度,透過利用Nitro-SoC P&R平臺成功地建置了ARM處理器,現(xiàn)已可供客戶使用。


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