0 引言

    光譜分析作為一種鑒別物質(zhì)以及確定其化學(xué)組成的有效手段，已經(jīng)被廣泛應(yīng)用在食品、醫(yī)藥、環(huán)境檢測、石油等領(lǐng)域。其原理就在于，每一種物質(zhì)在一定條件下都存在物質(zhì)本身的特征光譜，通過對這些光譜的研究，就可以獲得物質(zhì)的結(jié)構(gòu)和成分，以及內(nèi)部的能級結(jié)構(gòu)和相互作用等信息。正因如此，國內(nèi)外工作者投入了大量的研究和實驗工作。

    近年來以CCD(Charge Coupled Devices，電荷耦合器件)芯片和光纖為基礎(chǔ)的光譜儀與拉曼光譜、LIBS(Laser-Induced Breakdown Spectroscopy)光譜、熒光光譜等技術(shù)結(jié)合，日益成為成分快速分析和生產(chǎn)過程實際測量手段。究其原因在于CCD靈敏度高，價格便宜，且基于CCD芯片的光譜儀不需要任何運動部件，可直接獲得完整的光譜譜圖，使得光譜儀器更為簡單。

    但使用CCD作為光探測元件，有一個關(guān)鍵的問題需要解決，即CCD器件包含眾多像素，其工作需要嚴(yán)格的外部驅(qū)動。目前傳統(tǒng)的驅(qū)動方式是以微控制器為核心、通過軟件編寫的方式產(chǎn)生驅(qū)動時序。此種驅(qū)動方式的局限為微控制器是基于順序執(zhí)行代碼的工作方式，如果設(shè)計復(fù)雜，中斷等模塊較多，應(yīng)用容易被速度和抖動所限制。FPGA最大的優(yōu)點是使用非常靈活，在不改變外圍電路的情況下，設(shè)計不同的片內(nèi)邏輯就能實現(xiàn)不同的電路功能，從而縮短了系統(tǒng)的開發(fā)周期，節(jié)約成本。不僅如此，F(xiàn)PGA可以通過設(shè)計專用硬件邏輯，并發(fā)執(zhí)行，速度快，時序準(zhǔn)確。這種架構(gòu)特別適合于大容量數(shù)據(jù)的實時傳輸、處理，可以很好地解決上述問題。

    本文系統(tǒng)采用FPGA為CCD提供驅(qū)動時序脈沖和A/D采樣電路的時序控制電路，同時采用ARM芯片為數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)和上位機建立數(shù)據(jù)傳輸通道，并通過LabVIEW構(gòu)建的圖形化接口實時地顯示測量數(shù)據(jù)。實驗表明，系統(tǒng)可應(yīng)用于光譜的快速實時精確測量。

1 光譜強度檢測系統(tǒng)整體設(shè)計

    整個系統(tǒng)結(jié)構(gòu)框圖如圖1所示。采用FPGA作為控制核心，包括線陣CCD時序驅(qū)動電路、A/D采樣電路的時序控制電路、Delay-M電路。外部硬件電路包括A/D采樣電路、精密延時電路、微處理器、電源、邏輯轉(zhuǎn)換及相關(guān)電路。通過FPGA控制外部電路，啟動并采集光信號，然后存儲到FPGA內(nèi)部的RAM中。采集結(jié)束后，通過串口模塊自動尋址把數(shù)據(jù)傳送到電腦中。FPGA模塊通過SPI(Serial Peripheral Interface)與STM32微處理器實現(xiàn)數(shù)據(jù)交換。LabVIEW上位機可以通過USB接口實現(xiàn)數(shù)據(jù)同步通信，還可以通過FPGA串口或STM32串口接收數(shù)據(jù)并顯示。

2 系統(tǒng)各模塊設(shè)計介紹

2.1 CCD模塊電路

    系統(tǒng)采用TSL1401作為感光元件，它是一款高靈敏度、低噪聲和寬動態(tài)范圍的線陣CCD器件。根據(jù)TSL1401的數(shù)據(jù)手冊，CCD工作的電壓為3~5 V，驅(qū)動頻率為5~8 000 kHz，系統(tǒng)設(shè)計為4 V供電模式和250 kHz的時鐘主頻。

    TSL1401共有128個像素點，在采集過程中，CCD采集的值與采集階段的光強度和曝光時間是成正比的，當(dāng)前第19個時鐘到下一個SI開始的這段時間，就是下次信號采集需要的曝光時間，前18個時鐘周期為積分器復(fù)位時間，第19個時鐘開始，像素點開始隨著時鐘輸出，數(shù)據(jù)率就是時鐘的頻率。值得注意的是，本周期采集的像素值是上個周期曝光時間產(chǎn)生的像素值。所以在設(shè)計中，第一個周期采集的像素值要舍棄，從第二個周期開始可以采集并保留值。在連續(xù)采集時，如果時鐘速度比較快，曝光時間可以近似地認(rèn)為是兩個信號之間的時間，而忽略前19個時鐘的影響。根據(jù)手冊，TSL1401的最大曝光時間是100 ms，所以曝光時間不宜超過100 ms，因為即使超過100 ms，曝光效果和100 ms是一樣的，而且在強光下長時間曝光可能造成CCD的永久損壞。所以系統(tǒng)測試時采用的曝光時間為25 ms，曝光時間要根據(jù)外界光強度來調(diào)節(jié)，避免曝光不足和過曝光的情況。

    時序設(shè)計的設(shè)計方式為：對主時鐘進行計數(shù)，以計數(shù)器的值作為參考，通過對計數(shù)器值的判定來決定信號脈沖的時刻與寬度，因為時鐘參考是同步時鐘，而且是并行的硬件電路，所以信號的時序很準(zhǔn)確。同時利用計數(shù)器對主時鐘進行計數(shù)，系統(tǒng)外接晶振為50 MHz，所以每200個周期翻轉(zhuǎn)一次信號的值就是250 kHz的主時鐘。通過調(diào)節(jié)兩個信號間的時間間隔來調(diào)整第一次的曝光時間。

2.2 A/D采樣電路

    本模塊為整個系統(tǒng)核心部分之一。采樣的真實穩(wěn)定決定系統(tǒng)的精度，CCD的時鐘如果是250 kHz，系統(tǒng)設(shè)計數(shù)據(jù)率就應(yīng)該是250 kS/s。故本設(shè)計中選取的AD7988-5就是最大500 kS/s的16位AD芯片。

    外部A/D與微控制器內(nèi)部集成的A/D相比，外部A/D芯片位數(shù)可以很多，速度可選，精度很高，而微控制器內(nèi)部集成的A/D模塊主要針對通用目的，位數(shù)很少有超過16位的，速度依系統(tǒng)時鐘而定，但是數(shù)據(jù)率能到500 kHz的也不多見，且通用目的設(shè)計A/D在積分和微分非線性誤差上表現(xiàn)不如專用的外部A/D芯片。

    參考電壓穩(wěn)定度直接影響A/D轉(zhuǎn)換精度，故為了避免電源波動給轉(zhuǎn)換精度帶來的影響，系統(tǒng)選取ADRA4540作為基準(zhǔn)電壓源。

    對于A/D采集芯片AD7988-5，外部的時序驅(qū)動決定了數(shù)據(jù)采樣的質(zhì)量，在設(shè)計時應(yīng)該注意在時序圖的基礎(chǔ)上保留一定的設(shè)計余量來應(yīng)對實際問題的考驗，包括傳輸延時、輸入等效電容等實際分布參數(shù)。所以在500 kHz采樣率的芯片，可以保證500 kHz以下的應(yīng)用。但是如果到達最高使用速度，就需要外部時序和誤差盡量小，故如果選擇250 kHz的采樣率，就為設(shè)計留下了很大的空間。

    由AD7988-5數(shù)據(jù)手冊可知最小采樣時間和最大轉(zhuǎn)換時間，這兩個參數(shù)決定了采樣的周期和CNV信號（轉(zhuǎn)換使能信號）的高電平時間，而其他參數(shù)主要是為了讓選取的時鐘和CNV的時序滿足傳輸延時和分布參數(shù)給系統(tǒng)帶來的不確定性，本系統(tǒng)選取250 kHz的采樣率，CNV采樣時間設(shè)為2 μs，這樣就滿足了最大轉(zhuǎn)換時間為1.6 μs的要求，而后采用10 MHz的時鐘進行移位輸出數(shù)據(jù)。

    系統(tǒng)外接時鐘為50 MHz，對于時鐘的奇分頻不能像偶分頻一樣，記數(shù)后翻轉(zhuǎn)就行。對于奇分頻的實質(zhì)就是對一個要分頻的周期時間進行平分。

    AD7988-5三線制工作模式，決定了當(dāng)前周期采集的數(shù)據(jù)是上一個周期的實際數(shù)據(jù)，因為在CNV為高電平時，先進行的是轉(zhuǎn)換階段，而后就自動進入采集模式，所以當(dāng)前周期采集的就是下個周期需要的數(shù)據(jù)。這點需要注意，特別在精準(zhǔn)數(shù)據(jù)操作的系統(tǒng)中需要格外注意。

2.3 存儲時序與RAM模塊

    前端CCD工作頻率和ADC的工作頻率很高，每個像素點為16 bit，數(shù)據(jù)率為250 kHz，這樣的數(shù)據(jù)量和速度，電腦串口根本沒有辦法滿足要求。此時如果再采用FIFO（First Input First Output）更是不可取，因為數(shù)據(jù)寫的速度非?？欤鴶?shù)據(jù)讀的速度很慢，很容易就飽和，造成數(shù)據(jù)丟失。

    系統(tǒng)選取了雙端口的RAM，引用IP核中的RAM（16 bit，256 B），對于128個像素點的數(shù)據(jù)完全夠用。雙口RAM主要的優(yōu)勢就在于可以同時讀寫，系統(tǒng)設(shè)計為直接引用IP核的方式，這樣的設(shè)計方式保證了設(shè)計準(zhǔn)確性，同時也加快了設(shè)計的進程。但要注意寫進RAM的時序要和ADC采樣移位輸出的數(shù)據(jù)時序相匹配，否則會造成數(shù)據(jù)大量丟失。

    當(dāng)進行RAM存儲操作時需要注意：當(dāng)存儲上升沿到來之時，寫使能、寫地址和數(shù)據(jù)必須準(zhǔn)備好，只有這樣在寫時鐘的上升沿到來之時才能保證數(shù)據(jù)被寫入相應(yīng)地址的RAM當(dāng)中。所以系統(tǒng)采用A/D采樣信號同步產(chǎn)生的RAM讀寫的時序，有CNV信號下降沿的累積形成地址，設(shè)置16位移位寄存器，保存ADC輸出的數(shù)據(jù)，然后CNV上升沿到來時，上個信號的數(shù)據(jù)存入RAM。

2.4 數(shù)據(jù)傳輸模塊設(shè)計

    串口是一種常見的接口方式，常用于低速、小數(shù)據(jù)量的傳送方案中。

    為了數(shù)據(jù)傳輸?shù)姆€(wěn)定可靠，故選擇波特率為9 600 b/s(即：接收一個比特的時間為1 s/9 600=104 μs，每隔104 μs發(fā)送一個數(shù)據(jù))，系統(tǒng)主時鐘為50 MHz，則一個系統(tǒng)時鐘周期時間為20 ns，遠小于104 μs，所以可以通過計數(shù)器對主時鐘進行計數(shù)，然后根據(jù)計數(shù)器的值來打拍發(fā)送數(shù)據(jù)。

    串口模塊只會被動地發(fā)送數(shù)據(jù)，并不能對RAM中存儲的數(shù)據(jù)自動尋址發(fā)送和做相應(yīng)的控制。由于串口通常只有8個數(shù)據(jù)位，需要傳輸兩次，所以兩個傳輸周期的地址是一樣的，用同步時鐘計數(shù)器產(chǎn)生兩倍的串口周期用于自動累加形成地址。

    這種設(shè)計在理論上沒有問題，但結(jié)合實際應(yīng)用電路就會出現(xiàn)問題。在應(yīng)用的IP核RAM中，輸入端口會有一個寄存器，這在開始就會造成一個時鐘周期的延時，才能使地址和數(shù)據(jù)存進RAM。雖然存放數(shù)據(jù)只是延時一個時鐘周期，但用串口模塊自動讀取數(shù)據(jù)時就會產(chǎn)生時序的錯亂。

    所以在具體設(shè)計時，輸出口的寄存器可以選擇去掉，但輸入口的寄存器必須存在。在讀取時鐘上升沿到來之時，讀使能、讀地址必須提前就位。只有這樣，當(dāng)讀時鐘的上升沿到來時才會讀出相應(yīng)地址存儲的值，因為數(shù)據(jù)和地址的輸入必須要維持一個穩(wěn)定的時間，這個時間就是時鐘周期。所以一個讀取周期應(yīng)該是3個串口周期，這樣第一個串口周期什么都不做，只是把使能信號和地址送進RAM，后兩個周期的上升沿到來時把數(shù)據(jù)分2個8位輸出。

2.5 LabVIEW上位機模塊

    主要用到的節(jié)點是串口配置節(jié)點，即VISA功能塊中提供的相關(guān)節(jié)點。由于LabVIEW串口接收的都是字符串的格式，而且串口一般接收8位數(shù)，所以接收時需要數(shù)據(jù)的重組，選取了字符串平化的數(shù)據(jù)節(jié)點，可以選取字符串平化至相關(guān)數(shù)據(jù)類型，在輸出類型中選擇16 bit無符號數(shù)，這樣就可以直接輸出到數(shù)據(jù)圖中直觀地看到接收到的數(shù)據(jù)。

    LabVIEW上位機程序設(shè)計流程為：先建立串口模塊即引用VISA模塊，之后設(shè)立緩存區(qū)的大小，設(shè)立等待時間，等待時間為前面板可輸入的控件，設(shè)置的串口等待時間必須大于串口發(fā)送的時間，否則會造成數(shù)據(jù)傳輸不完全，造成數(shù)據(jù)丟失，最后就是數(shù)據(jù)的拼接和轉(zhuǎn)化部分，利用平化節(jié)點，使得每兩位數(shù)據(jù)組成一個16 bit的無符號類型的十進制數(shù)并在波形圖中顯示。

3 實驗結(jié)果

    在QUARTUS軟件中編程結(jié)束后，可以進行語法編譯，檢驗語法是否有錯誤。此時的編譯不能確定設(shè)計是否滿足需求，只有運用可綜合的Verilog HDL語句才能進行RTL級設(shè)計，全編譯后生成的就是綜合后的電路，也是系統(tǒng)設(shè)計的目標(biāo)。接下來，可以進行RTL級的仿真以及門級仿真來驗證設(shè)計在時序上是否滿足要求。門級仿真已經(jīng)很接近實際情況，如果門級仿真滿足要求，就可以將編譯過后的程序下載到FPGA中，進行最后的實際系統(tǒng)的調(diào)試。

    圖2所示為掃描物體和掃描數(shù)據(jù)上下對比圖，當(dāng)掃描視野中全為白色時，CCD的值在2 000~35 000之間，呈現(xiàn)的是中間高兩頭低的情況。這與理論有出入的原因在于：CCD的鏡頭是通過透鏡成像，透鏡本身就決定了越是靠近中軸部分光發(fā)生的折射越少，中軸線的光為直射，中間部分的光比兩邊強，所以CCD成像的值反應(yīng)出來就是中間值比較大，很好的對稱性也證明了這一點。

    當(dāng)掃描視野全部是黑的時，CCD掃描的一行圖像的值基本都一樣，在0~5 000之間，這很好地驗證了在全白光時的結(jié)論，同時有光和無光有明顯的區(qū)別。

    當(dāng)掃描視野中有一條黑線時，掃描的值很明顯地出現(xiàn)一塊凹陷的值，并且是連續(xù)變化的。通過這3組對比的結(jié)論可知，系統(tǒng)實驗結(jié)果滿足實驗預(yù)期。

    在初步的全白掃描和全黑實驗后，為了進一步驗證系統(tǒng)的穩(wěn)定性和可靠性，做了如圖3所示的3組實驗，分別為1條黑線、2條黑線、3條黑線，掃描對應(yīng)的值以上下對照的形式給出。從實驗結(jié)果可以看到，對于不同的掃描物體，CCD同樣可以明顯區(qū)分不同條紋物體，實驗值符合理論的預(yù)期。

4 結(jié)束語

    本文提出了一種低成本易集成的光譜強度測量系統(tǒng)，設(shè)計并制作了A/D采樣電路。根據(jù)TSL1401采集時序編寫相應(yīng)的A/D采樣時序和存儲時序，對轉(zhuǎn)化后的數(shù)字信號按地址存儲到FPGA內(nèi)部RAM中。采集結(jié)束后，串口模塊自動尋址發(fā)送RAM中存儲的數(shù)據(jù)，LabVIEW上位機可通過串口接收數(shù)據(jù)并顯示。實驗結(jié)果表明，實驗數(shù)據(jù)符合理論的預(yù)期，可廣泛應(yīng)用于光譜強度的實時快速精確測量。

參考文獻

[1] 劉勝，張?zhí)m勇，章佳榮，等.LabVIEW 2009程序設(shè)計[M].北京：電子工業(yè)出版社，2010.

[2] 米本和也.CCD/CMOS圖像傳感器基礎(chǔ)與應(yīng)用[M].北京：科學(xué)出版社，2006.

[3] 陳樹學(xué)，劉萱.LabVIEW寶典[M].北京：電子工業(yè)出版社，2011.

[4] 姚遠，李辰.FPGA應(yīng)用開發(fā)入門與典型實例[M].北京：人民郵電出版社，2010.

[5] 湯琦.Xilinx FPGA高級設(shè)計及應(yīng)用[M].北京：電子工業(yè)出版社，2012.

[6] 翟晶晶.基于電子快門自動增益的CCD驅(qū)動電路研究[J].現(xiàn)代電子技術(shù)，2010，33(19)：188-190.

[7] 王慶有.光電傳感器應(yīng)用技術(shù)[M].北京：機械工業(yè)出版社，2014.

[8] 馬克斯菲爾德.FPGA設(shè)計指南：器件、工具和流程[M].北京：人民郵電出版社，2007.

[9] 朱仁盛，曲波.光電傳感器及其應(yīng)用[M].北京：化學(xué)工業(yè)出版社，2004.

作者信息：

趙碩峰1，張  娟2

（1.溫州醫(yī)科大學(xué) 仁濟學(xué)院，浙江 溫州325035；2.溫州醫(yī)科大學(xué) 生物醫(yī)學(xué)工程學(xué)院，浙江 溫州325035）