作為自動化測試設(shè)備的領(lǐng)先供應(yīng)商，愛德萬測試擁有全球半導(dǎo)體測試系統(tǒng)中超過三分之一的市場份額，而在存儲測試系統(tǒng)市場中，則幾乎占據(jù)半壁江山。

        日前，愛德萬測試于北京舉辦媒體會，公司高層介紹了愛德萬測試的最新發(fā)展情況，以及針對存儲、汽車等領(lǐng)域發(fā)展所推出的最新測試技術(shù)及產(chǎn)品。

愛德萬測試(中國)管理有限公司副總裁 封薛明

“ THE BEST”殊榮彰顯用戶滿意度

        愛德萬測試（中國）管理有限公司副總裁夏克金博士介紹了愛德萬測試的近期發(fā)展情況。夏博士表示，愛德萬測試始創(chuàng)于1954年，五十多年來，愛德萬測試致力研發(fā)、不斷追求創(chuàng)新，至今成為全球電子產(chǎn)業(yè)晶圓測試與分類解決方案領(lǐng)導(dǎo)者。為滿足客戶對于先進(jìn)測試系統(tǒng)的需求，愛德萬測試在技術(shù)研發(fā)、產(chǎn)品商業(yè)化、支持與服務(wù)等方面所做的努力，亦備受全球半導(dǎo)體大廠一致肯定。在國際知名資訊機(jī)構(gòu)VLSIreseach2018客戶滿意度調(diào)查中，愛德萬測試獲得5-star最佳供應(yīng)商評價。

 愛德萬測試（中國）管理有限公司副總裁 夏克金

        夏博士表示，IoT、人工智能、5G、自動駕駛等等行業(yè)熱點(diǎn)都為半導(dǎo)體行業(yè)帶來了強(qiáng)大的驅(qū)動力，也相應(yīng)對半導(dǎo)體測試設(shè)備提出新的挑戰(zhàn)，更多的數(shù)據(jù)、更高的傳輸速率成為對測試方案中所面臨的重要需求。愛德萬測試憑借在測試領(lǐng)域的深厚積淀以及領(lǐng)先一步的創(chuàng)新研究，始終走在半導(dǎo)體測試領(lǐng)域的前沿，幫助諸多半導(dǎo)體設(shè)計及生產(chǎn)企業(yè)解決了測試難題。

        近年來，隨著我國集成電路行業(yè)的快速發(fā)展，愛德萬測試在中國本土的市場份額也不斷增長，2018年第一季度，在中國本土銷售額占全球銷售額的14.7%。

領(lǐng)先解決方案迎接下一代存儲測試

        媒體會上，愛德萬測試(中國)管理有限公司高級測試工程師陳郝介紹了愛德萬測試新近推出的兩項產(chǎn)品。

愛德萬測試(中國)管理有限公司高級測試工程師 陳郝

        第一是全球首發(fā)的最新PCIe Gen 4固態(tài)驅(qū)動器的整體測試解決方案MPT3000平臺。該方案可以用于開發(fā)、調(diào)試以及量產(chǎn)PCIe Gen 4固態(tài)驅(qū)動器（SSD），并且MPT3000平臺也可以同時兼容PCIe Gen 3、SATA和SAS 等協(xié)議的固態(tài)硬盤的測試開發(fā)以及量產(chǎn)。這套全方位的新的測試解決方案可以使SSD制造商加快其新產(chǎn)品上市的時間。

MPT3000HVM

        MPT3000平臺現(xiàn)在可以覆蓋PCIe Gen 4設(shè)備的所有測試需求——從支持工程使用的MPT3000ES，到支持可靠性驗證測試（RDT）的MPT3000ENV，再到支持量產(chǎn)的MPT3000HVM，用戶可以在MPT3000上直接開發(fā)PCIE Gen4，而不用等待第三方廠商提供測試方案。它向用戶提供一套從設(shè)計到制造的測試流程，并使用與愛德萬測試已經(jīng)投入市場的 PCIe Gen 3解決方案相同的測試架構(gòu)和軟件，從而簡化了向下一代產(chǎn)品升級的過程。這一整體解決方案為SSD制造商提供了市場最快、風(fēng)險最低的路徑。 

        另一項針對存儲領(lǐng)域的產(chǎn)品是T5503HS2高速存儲器測試系統(tǒng)。該系統(tǒng)不僅能為當(dāng)前最高速存儲器芯片提供業(yè)界最高效的量產(chǎn)測試解決方案，同時也可以覆蓋下一代超高速DRAMs存儲芯片。在目前全球?qū)Υ鎯ζ餍枨箫w速增長的時代背景下，T5503HS2全新測試系統(tǒng)的靈活性擴(kuò)展了T5503系列產(chǎn)品在當(dāng)前“超級周期”中的功能。

T5503HS2

        愛德萬測試的T5503HS2是設(shè)計用于提供針對新型存儲器和現(xiàn)有器件的測試解決方案。它的測試速率最快能達(dá)到8 Gbps同時測試精度在±45皮秒。充分利用其16,256的數(shù)據(jù)通道，這個全能型測試系統(tǒng)在測試下一代LP-DDR5和DDR5器件的同時也允許使用者兼容測試現(xiàn)今的DDR4，LP-DDR4及高帶寬存儲器器件，實(shí)現(xiàn)了半導(dǎo)體業(yè)界最高的同測數(shù)和最優(yōu)利潤率。配置的4.5GHz高速時鐘選配模塊使新測試機(jī)擁有了以超過8 Gbps的數(shù)據(jù)傳輸速率來應(yīng)對未來存儲器芯片測試的可擴(kuò)展性。 

FVI16浮動電源VI板卡使V93000平臺如虎添翼

        除了存儲測試，SoC測試是半導(dǎo)體測試領(lǐng)域的重要應(yīng)用。V93000平臺則是愛德萬測試在SoC測試領(lǐng)域的主打平臺。日前，愛德萬測試推出了應(yīng)用于V93000平臺的FVI16浮動電源板卡，使V93000能夠從容應(yīng)對電動汽車、快充等新興測試需求。愛德萬測試（中國）管理有限公司高級測試應(yīng)用工程師陳競遠(yuǎn)對這一產(chǎn)品作了深入介紹。

 愛德萬測試（中國）管理有限公司高級測試應(yīng)用工程師 陳競遠(yuǎn)       

        愛德萬測試推出的FVI16浮動電源VI板卡，可搭載在V93000單一可擴(kuò)展平臺上，擴(kuò)展其性能，使設(shè)備可用于測試汽車，工業(yè)和消費(fèi)類移動充電用電源和模擬芯片，讓用戶可以自如應(yīng)對不斷發(fā)展的電動汽車和快充電器市場。通過提供250瓦的高脈沖功率和高達(dá)40瓦的直流電源，新的電源有助于提供足夠的功率測試最新一代芯片，同時進(jìn)行重復(fù)穩(wěn)定的測量。

        與采用傳統(tǒng)模擬反饋的其它測試系統(tǒng)相比，搭載FVI16板卡的V93000測試系統(tǒng)的數(shù)字反饋回路設(shè)計提供了市場上最佳的信號源，測量精度和模擬/功率性能。 數(shù)字反饋技術(shù)提供多種獨(dú)特功能，包括無毛刺的“智能連接”和恒定的開爾文監(jiān)控，實(shí)現(xiàn)可靠的和高精度的測量。 用戶控制的斜率和帶寬設(shè)置可以實(shí)現(xiàn)快速建立穩(wěn)定時間以適應(yīng)各自的負(fù)載條件。

FVI16浮動電源VI板卡        

        FVI16板卡具有業(yè)界最高的儀器通道密度，配置在愛德萬測試 A-Class測試頭內(nèi)可以使其作為小型系統(tǒng)，從而降低測試成本。 具有四象限操作的16個通道允許在高電流測試中將每塊板卡的通道并聯(lián)到高達(dá)155安培。 對于高壓測試，每塊板卡可以實(shí)現(xiàn)在+ 200伏的浮動范圍內(nèi)高達(dá)+ 180伏的串聯(lián)。