《電子技術(shù)應(yīng)用》
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一種帶隙基準(zhǔn)源分段線性補償?shù)母倪M方法
2019年電子技術(shù)應(yīng)用第1期
李宏杰,李 立,王丹丹
安陽工學(xué)院 電子信息與電氣工程學(xué)院,河南 安陽455000
摘要: 為了減小帶隙基準(zhǔn)源的溫度系數(shù)和提高溫度補償?shù)撵`活性,設(shè)計了一種改進型分段線性補償方法。利用雙極型晶體管的溫度非線性在整個溫度區(qū)域內(nèi)產(chǎn)生7段不同斜率的補償電流,通過電流模形式對基準(zhǔn)電壓的高階溫度分量進行疊加,進而對帶隙基準(zhǔn)電壓實現(xiàn)精確溫度補償。基于0.25 μm BCD工藝設(shè)計了一款低溫漂高精度的帶隙基準(zhǔn)源。HSPICE仿真結(jié)果表明,在5 V電源電壓下,在-40 ℃~125 ℃溫度范圍內(nèi),基準(zhǔn)電壓的溫度系數(shù)為0.37×10-6/℃,低頻時電路的電源抑制比為-85 dB。電源電壓在2 V~5 V范圍內(nèi),基準(zhǔn)電壓的線性調(diào)整率為0.09 mV/V。
中圖分類號: TN432
文獻(xiàn)標(biāo)識碼: A
DOI:10.16157/j.issn.0258-7998.181719
中文引用格式: 李宏杰,李立,王丹丹. 一種帶隙基準(zhǔn)源分段線性補償?shù)母倪M方法[J].電子技術(shù)應(yīng)用,2019,45(1):31-34,38.
英文引用格式: Li Hongjie,Li Li,Wang Dandan. An improved method for piecewise linear compensation in gap reference source[J]. Application of Electronic Technique,2019,45(1):31-34,38.
An improved method for piecewise linear compensation in gap reference source
Li Hongjie,Li Li,Wang Dandan
College of Electronic Information and Electrical Engineering,Anyang Institute of Technology,Anyang 455000,China
Abstract: In order to reduce the temperature coefficient of band-gap reference source and improve the flexibility of temperature compensation,an improved piecewise linear compensation method was designed. A compensation current of seven different slopes in the whole temperature region was generated with the temperature of the bipolar transistor. Finally, The high order temperature components of the reference voltage were superimposed by the current mode. Based on the 0.25 μm BCD process it designed gap reference source here. HSPICE simulation results indicate that under 5 V power supply voltage and within -40 ℃~125 ℃ temperature range, the temperature coefficient of the reference voltage is only 0.37×10-6/℃. The power rejection ratio of the low frequency circuit is -85 dB. Within the range of 2 V~5 V, the linear adjustment rate of the reference voltage is 0.09 mV/V.
Key words : piecewise linear compensation;temperature coefficient;linear adjustment rate;power supply rejection ratio

0 引言

    高性能的帶隙基準(zhǔn)源能夠提供與電源電壓、溫度以及工藝等外界參數(shù)無關(guān)的基準(zhǔn)電壓電流量,因此帶隙基準(zhǔn)源被廣泛應(yīng)用在存儲器、A/D轉(zhuǎn)化器、振蕩器、電源管理芯片等現(xiàn)代數(shù)模混合電路中[1]。然而傳統(tǒng)帶隙基準(zhǔn)源的溫度系數(shù)只能做到2×10-5/℃~5×10-5/℃內(nèi),直接影響到芯片甚至整個電路系統(tǒng)性能的提高。為此,人們提出了多種溫度補償方法,但是傳統(tǒng)的溫度補償方法只對基準(zhǔn)電壓的低階溫度分量做了一次修正,溫度系數(shù)無法做到很小[2]。本文設(shè)計了一種帶隙基準(zhǔn)源分段線性補償改進方法,在整個溫度區(qū)域內(nèi)對基準(zhǔn)電壓的高階溫度分量分7段進行精確曲率補償,達(dá)到了高精度、低溫漂、高可靠性的要求。

1 分段線性補償原理及改進方法

1.1 帶隙基準(zhǔn)電壓源原理

    傳統(tǒng)帶隙基準(zhǔn)電壓源如圖1所示。其中,R1=R2,Q1和Q2為發(fā)射結(jié)面積之比為1:n的NPN管。由于理想運算放大器的“虛短”和“虛斷”特性,使得X點的電位被鉗制到Y(jié)點電位上。有:

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    欲基準(zhǔn)電壓的溫度系數(shù)為零,即:

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1.2 分段線性補償方法分析

    由于帶隙基準(zhǔn)核中VBE具有溫度非線性,其特性曲線一般為開口向下的拋物線[5]。傳統(tǒng)的分段線性補償電路只能在低溫或高溫段進行一次曲率補償,基準(zhǔn)電壓的溫度系數(shù)并不能得到有效降低。

    本文采用微元分割思想設(shè)計了一款改進型分段線性補償電路,原理拓?fù)淙鐖D2所示。為了對呈開口向下拋物線形狀的帶隙基準(zhǔn)電壓進行高精度曲率修正,設(shè)計了6個溫度斜率可控的線性補償電流源,通過補償電阻作用疊加到帶隙基準(zhǔn)電壓上,實現(xiàn)在整個溫度范圍內(nèi)分7段對基準(zhǔn)電壓進行高精度分段曲率修正。

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2 本文提出的改進型分段線性補償電路

2.1 本文提出的改進型分段線性補償方法實現(xiàn)電路

    本文提出的改進型分段線性補償方法實現(xiàn)電路如圖3所示。其中低溫補償電路comp1~3采用以VBE基準(zhǔn)自偏置電路[6]構(gòu)成的負(fù)溫度系數(shù)(Complementary To Absolute Temperature,CTAT)電流源與正溫度系數(shù)(Proportional To Absolute Temperature,PTAT)偏置電流進行求差,以實現(xiàn)低溫段溫度曲率可控的CTAT電流源。其中,低溫補償電路comp1是由M52、M54、R13和Q10組成、以VBE10為基準(zhǔn)自偏置的CTAT電流源,M52的漏極電流為:

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    由于VBE具有負(fù)溫度系數(shù),因此IM52為CTAT電流。為了實現(xiàn)對溫度曲率的可控,M48、M50和M51組成電流鏡以實現(xiàn)CTAT電流與PTAT偏置電流求差。根據(jù)KCL可得:

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式中,k1和α由M48、M50和M51的寬長比決定,通過調(diào)整管子的寬長比可以控制Icomp1的斜率。

    低溫補償電路comp1工作過程如下:當(dāng)溫度小于低溫臨界溫度T時,具有負(fù)溫度系數(shù)的IM52大于正溫度系數(shù)的IPTAT,其差值Icomp1大于零且具有斜率可控的負(fù)溫度系數(shù)。隨著溫度的升高,IM52減小,IPTAT增大,當(dāng)?shù)竭_(dá)臨界溫度T時,兩者相等,M51管進入線性區(qū)截止,低溫補償電路comp1停止工作。低溫補償電路comp2~3采用和comp1相同電路架構(gòu),通過設(shè)置comp2~3中補償電流鏡的寬長比和電阻值,可以控制補償電流的溫度斜率,低溫段分段線性補償電路如圖4所示。

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    高溫補償電路comp4~6采用PTAT偏置電流與CTAT電流求差,以實現(xiàn)溫度斜率可控的PTAT補償電流源。其中高溫補償電路comp4是由M34~M38、Q7和R10構(gòu)成以VBE7為基準(zhǔn)自偏置的CTAT電流源,M32、M34和M35組成電流鏡以實現(xiàn)PTAT偏置電流與CTAT電流求差,高溫段分段線性補償電流如圖5所示。根據(jù)KCL可得:

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式中,k2和β由M48、M50和M51的寬長比決定,因此通過調(diào)整管子的寬長比可以控制Icomp4的斜率。

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    高溫補償電路comp4工作過程如下:隨著溫度的升高,IM34減小IM33增大,當(dāng)?shù)竭_(dá)臨界溫度T時,M33管脫離線性區(qū)開始導(dǎo)通,此時具有正溫度系數(shù)的IM33大于負(fù)溫度系數(shù)的IM34,Icomp4大于零且具有斜率可控的正溫度系數(shù)。高溫補償電路comp5~6采用和comp4相同電路架構(gòu),工作過程一致。

2.2 偏置電流產(chǎn)生電路與帶隙基準(zhǔn)核心電路

    偏置電流產(chǎn)生電路如圖6所示。其中M1~M4、Q1、Q2和R1構(gòu)成PTAT偏置電流源,為帶隙基準(zhǔn)其他電路提供偏置電流。當(dāng)偏置電流端Ibias輸入一個1.5 mA的啟動電流時電路開始啟動,由于Q2和Q1管的并聯(lián)數(shù)目為1:8,因此: 

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    帶隙基準(zhǔn)核心電路采用傳統(tǒng)帶隙基準(zhǔn)電壓源形式,共分為基準(zhǔn)電壓產(chǎn)生電路和運算放大器電路。其中Q4:Q5的并聯(lián)數(shù)目比為1:8,因此:

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3 仿真結(jié)果與分析

    本文提出的改進型分段線性補償電路基于0.25 μm BCD工藝設(shè)計,采用HSPICE軟件進行仿真,仿真結(jié)果如下。

    圖7為改進型分段線性補償電流的溫度特性曲線??梢钥闯?,在-40 ℃~125 ℃溫度范圍內(nèi),分段補償電路產(chǎn)生了7段不同斜率的電流,形成了一個近似開口向上的拋物線,進而對一階基準(zhǔn)電壓進行精確曲率校正。

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    圖8為溫度補償前和補償后的基準(zhǔn)電壓溫度特性曲線。在-40 ℃~125 ℃溫度范圍內(nèi),溫度補償前基準(zhǔn)電壓的波動值為2.488 mV,溫度系數(shù)為17.45×10-6/℃。溫度補償后基準(zhǔn)電壓波動值為62 μV,溫度系數(shù)為0.37×10-6/℃。補償后基準(zhǔn)電壓溫度系數(shù)有了較大改善。

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    圖9為基準(zhǔn)電壓的線性調(diào)整率,供電電壓VDD在2 V~5 V范圍內(nèi)變化時,VREF的波動范圍為283 μV,線性調(diào)整率為0.094 mV/V。

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    圖10是電源電壓VDD=5 V時,在TT、SS、FF三種工藝角下的電源抑制比(PSRR)的仿真結(jié)果??梢钥闯鲈诘皖l時三種工藝角中最壞情況下電源抑制比為-85.06 dB,具有較高的電源波動抑制能力。

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    為了更好地說明本文提出的帶隙基準(zhǔn)的性能,表1給出了該基準(zhǔn)與其他文獻(xiàn)中帶隙基準(zhǔn)設(shè)計性能比較。

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4 結(jié)論

    本文提出了一種帶隙基準(zhǔn)源分段線性補償?shù)母倪M方法,基于該分段線性補償方法設(shè)計了一種高精度低溫漂帶隙基準(zhǔn)源。仿真結(jié)果表明:在-40 ℃~125 ℃溫度范圍內(nèi),帶隙基準(zhǔn)源分段線性補償前溫度系數(shù)為17.45×10-6/℃,分段線性補償后溫度系數(shù)為0.37×10-6/℃。電源電壓在2 V~5 V范圍內(nèi),基準(zhǔn)電壓波動值為283 μV,線性調(diào)整率為0.094 mV/V,帶隙基準(zhǔn)電路在低頻時的電源抑制比為-85.06 dB,滿足低溫漂、高精度、高可靠性的要求。

參考文獻(xiàn)

[1] 青旭東,鐘黎,王永祿.一種低溫漂高電源抑制比帶隙基準(zhǔn)源的設(shè)計[J].電子技術(shù)應(yīng)用,2018,44(1):17-19.

[2] 王文建.一種高精度低溫度系數(shù)帶隙基準(zhǔn)源[J].電子器件,2017,40(5):1065-1067.

[3] 肖丹,吳婷茜.一種新型低功耗電流模式CMOS帶隙基準(zhǔn)設(shè)計[J].電子器件,2017,40(2):285-290.

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[5] 彭何,王軍.0.13 ?滋m CMOS電流模式高精度基準(zhǔn)源設(shè)計[J].電子技術(shù)應(yīng)用,2017,43(5):34-37.

[6] 張宗航,趙毅強,耿俊峰.一種二階曲率補償帶隙基準(zhǔn)電壓源[J].微電子學(xué)與計算機,2012,29(5):15-19.



作者信息:

李宏杰,李  立,王丹丹

(安陽工學(xué)院 電子信息與電氣工程學(xué)院,河南 安陽455000)

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