《電子技術(shù)應(yīng)用》
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光譜儀中的“特征峰尋找”

2021-11-03
來源:光電資訊
關(guān)鍵詞: 特征峰 光譜儀

  光譜分析中,采集到的光譜圖像中特定位置對(duì)應(yīng)某種物質(zhì)性質(zhì)。不同物質(zhì)的光譜特性往往通過不同的峰呈現(xiàn)出來,通過尋找各個(gè)峰所在的位置,進(jìn)而可以計(jì)算出該物質(zhì)的組成成分。

  在半高寬計(jì)算中,也需要尋找各個(gè)峰所在的起始點(diǎn)和終止點(diǎn)的位置。

  傳統(tǒng)的尋峰算法有比較法、導(dǎo)數(shù)法、高斯擬合法和對(duì)稱零面積法。

  (1)比較法

  光譜的波峰即為某個(gè)像元點(diǎn)的光譜強(qiáng)度比左右兩側(cè)的像元點(diǎn)光強(qiáng)都大的位置,比較法尋峰,即為尋找比左右兩側(cè)光強(qiáng)都大的像元點(diǎn)。該方法優(yōu)點(diǎn)是實(shí)現(xiàn)簡單,適合尋找獨(dú)立峰,缺點(diǎn)是無法識(shí)別重峰、雙肩峰等。

  (2)導(dǎo)數(shù)法

  導(dǎo)數(shù)法是將去噪后的光譜圖像看作是一條連續(xù)的曲線,然后對(duì)該曲線進(jìn)行求導(dǎo),利用導(dǎo)數(shù)的性質(zhì)找到峰的位置。具體可分為一階導(dǎo)數(shù)法、二階導(dǎo)數(shù)法和三階導(dǎo)數(shù)法。導(dǎo)數(shù)法的優(yōu)點(diǎn)是靈敏高,能夠識(shí)別重峰和弱峰。

 ?。?)高斯擬合法

  高斯擬合法是將光電傳感器接收到的光譜圖像看作是正態(tài)分布的高斯函數(shù),利用高斯函數(shù)擬合來計(jì)算峰值的位置。該方法的優(yōu)點(diǎn)是準(zhǔn)確度高。

  (4)對(duì)稱零面積卷積法

  對(duì)稱零面積卷積法尋峰是利用面積為零的窗函數(shù)與光譜數(shù)據(jù)進(jìn)行卷積變換,變換之后的數(shù)據(jù)進(jìn)行閾值處理獲得峰值位置。窗函數(shù)一般選取為洛倫茲、高斯和佛托克線性函數(shù)。佛托克線性函數(shù)是對(duì)洛倫茲函數(shù)和高斯函數(shù)的卷積。




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