一種用于高頻S參數(shù)的去嵌算法
2023年電子技術(shù)應(yīng)用第1期
紀(jì)萍，徐小明，朱國(guó)林，季振凱
無(wú)錫中微億芯有限公司，江蘇 無(wú)錫 214072
摘要： 在S參數(shù)的測(cè)量過(guò)程中，需通過(guò)去嵌方法去除測(cè)試夾具帶來(lái)的結(jié)果誤差。該算法通過(guò)時(shí)域的方法對(duì)夾具進(jìn)行分解。接著將分解得到的夾具S參數(shù)采用ABCD矩陣運(yùn)算進(jìn)行去除，從而得到待測(cè)器件的S參數(shù)。通過(guò)設(shè)計(jì)測(cè)試板來(lái)進(jìn)行實(shí)驗(yàn)，將該算法與傳統(tǒng)的AFR和Delta L方法進(jìn)行了比較，驗(yàn)證了該去嵌算法對(duì)高頻信號(hào)的有效性以及準(zhǔn)確性。同時(shí)由于該算法先分解再去嵌的特性，使其可應(yīng)用于左右?jiàn)A具不一致的情況。
中圖分類(lèi)號(hào)：TN402
文獻(xiàn)標(biāo)志碼：A
DOI: 10.16157/j.issn.0258-7998.222935
中文引用格式： 紀(jì)萍，徐小明，朱國(guó)林，等. 一種用于高頻S參數(shù)的去嵌算法[J]. 電子技術(shù)應(yīng)用，2023，49(1)：130-134.
英文引用格式： Ji Ping，Xu Xiaoming，Zhu Guoling，et al. A method for de-embedding s-parameter with high-frequency[J]. Application of Electronic Technique，2023，49(1)：130-134.
文獻(xiàn)標(biāo)志碼：A
DOI: 10.16157/j.issn.0258-7998.222935
中文引用格式： 紀(jì)萍，徐小明，朱國(guó)林，等. 一種用于高頻S參數(shù)的去嵌算法[J]. 電子技術(shù)應(yīng)用，2023，49(1)：130-134.
英文引用格式： Ji Ping，Xu Xiaoming，Zhu Guoling，et al. A method for de-embedding s-parameter with high-frequency[J]. Application of Electronic Technique，2023，49(1)：130-134.
A method for de-embedding s-parameter with high-frequency
Ji Ping，Xu Xiaoming，Zhu Guoling，Ji Zhenkai
Wuxi East Technologies Inc.， Wuxi 214072， China
Abstract： During the measurement of s-parameters, using the de-embedding method to remove the influence of fixture is important. The proposed method decomposes the s-parameter of fixture by time domains. Then the ABCD matric is used to remove the decomposed fixture and get the s-parameter of device under test. By designing printed circuit board to do some experiments, and compare the proposed method with the other two traditional methods, AFR and Delta L. The results prove that this method is valid and accurate under high-frequency signal. Due to the facture that the algorithm decomposes first and then de-embeds, it can be applied to the situation that the left and right fixture are different.
Key words : s-parameter；de-embedding；high-frequency；ABCD matric
0 引言
隨著高速傳輸信號(hào)速率的不斷增高，印制電路板（PCB）的信號(hào)完整性研究對(duì)整個(gè)通信系統(tǒng)的電氣性能來(lái)說(shuō)至關(guān)重要[1]。其中對(duì)PCB高速信號(hào)質(zhì)量的測(cè)量和管控是信號(hào)完整性研究中的重要一環(huán)。S參數(shù)是利用頻域來(lái)描述高速信號(hào)通道特性的一種方式，可通過(guò)S參數(shù)提取插入損耗、回波損耗、串?dāng)_等信息來(lái)對(duì)信號(hào)的質(zhì)量進(jìn)行評(píng)價(jià)[2]。
在利用儀器對(duì)S參數(shù)進(jìn)行測(cè)量時(shí)，因?yàn)榇郎y(cè)器件（DUT）的接口與測(cè)試儀器的接口不一致，需要通過(guò)夾具進(jìn)行連接，而夾具的存在會(huì)影響測(cè)試結(jié)果。如何準(zhǔn)確地去除夾具的影響，得到想要的DUT的S參數(shù)是一個(gè)值得研究的課題[3]。
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作者信息：
紀(jì)萍，徐小明，朱國(guó)林，季振凱
（無(wú)錫中微億芯有限公司，江蘇 無(wú)錫 214072）
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