電容器被廣泛視為解決噪聲相關(guān)問題的靈丹妙藥,值得更多尊重。設(shè)計人員通常認(rèn)為增加幾個電容器可以解決大多數(shù)噪聲問題,但很少考慮電容和額定電壓以外的參數(shù)。然而,像所有電子元件一樣,電容器并不完美。相反,它們具有寄生有效串聯(lián)電阻 (ESR) 和電感 (ESL);它們的電容隨溫度和電壓而變化;它們對機械效應(yīng)很敏感。
設(shè)計人員在選擇旁路電容時,以及在濾波器、積分器、定時電路和其他實際電容值很重要的應(yīng)用中使用時,必須考慮這些因素。選擇不當(dāng)會導(dǎo)致電路不穩(wěn)定、噪聲和功耗過大、產(chǎn)品壽命縮短以及電路行為不可預(yù)測。
電容器技術(shù)
電容器具有多種外形尺寸、額定電壓和其他特性,可滿足各種應(yīng)用的要求。常用的介電材料包括油、紙、玻璃、空氣、云母、聚合物薄膜和金屬氧化物。每種電介質(zhì)都有特定的特性,會影響其對特定應(yīng)用的適用性。
在穩(wěn)壓器中,通常使用三大類電容器作為電壓輸入和輸出旁路電容器:多層陶瓷電容器、固體鉭電解電容器和鋁電解電容器。附錄提供了比較。
多層陶瓷
多層陶瓷電容器 (MLCC) 兼具小尺寸、低 ESR、低 ESL 和寬工作溫度范圍,使其成為旁路電容器的首選。然而,它們并非沒有缺點。根據(jù)介電材料的不同,電容會隨溫度、直流偏置和交流信號電平而發(fā)生顯著變化。此外,介電材料的壓電性質(zhì)可以將振動或機械沖擊轉(zhuǎn)化為交流噪聲電壓。在大多數(shù)情況下,這種噪聲往往在微伏量級,但在極端情況下,機械力會產(chǎn)生毫伏范圍內(nèi)的噪聲。
壓控振蕩器 (VCO)、鎖相環(huán) (PLL)、RF 功率放大器 (PA) 和其他模擬電路對其電源軌上的噪聲很敏感。這種噪聲表現(xiàn)為VCO和PLL中的相位噪聲、RF PA中的幅度調(diào)制以及超聲、CT掃描和其他處理低電平模擬信號的應(yīng)用中的顯示偽影。盡管存在這些缺陷,但幾乎所有電子設(shè)備都使用陶瓷電容器,因為它們占地面積小,成本低。然而,對于噪聲敏感型應(yīng)用中使用的穩(wěn)壓器,設(shè)計人員必須仔細評估其副作用。
固體鉭電解
與陶瓷電容器相比,固體鉭電容器對溫度、偏置和振動的影響不太敏感。最近的一種變體使用導(dǎo)電聚合物電解質(zhì)代替通常的二氧化錳電解質(zhì),提供改進的浪涌電流能力,并且無需限流電阻器。較低的 ESR 是該技術(shù)的另一個好處。固態(tài)鉭電容器在溫度和偏置電壓下具有穩(wěn)定的電容,因此選擇標(biāo)準(zhǔn)只需考慮容差、工作溫度下的電壓降額和最大 ESR。
具有低ESR的導(dǎo)電聚合物鉭電容器成本更高,并且比陶瓷電容器大一些,但對于由于壓電效應(yīng)而無法承受噪聲的應(yīng)用來說,這可能是唯一的選擇。然而,鉭電容器的漏電流遠大于等值陶瓷電容器,因此不適合某些低電流應(yīng)用。
固體聚合物電解質(zhì)技術(shù)的一個缺點是這種類型的鉭電容器對無鉛(Pb)焊接過程中遇到的高溫更敏感,制造商通常規(guī)定電容器的焊接周期不超過三個。在裝配過程中忽略此要求可能會導(dǎo)致長期的可靠性問題。
鋁電解
傳統(tǒng)的鋁電解電容器往往很大,具有高ESR和ESL,相對較高的泄漏電流和有限的使用壽命 - 以數(shù)千小時為單位。OS-CON電容器采用有機半導(dǎo)體電解質(zhì)和鋁箔陰極來實現(xiàn)低ESR。雖然與固體聚合物鉭電容器有關(guān),但它們實際上比鉭電容器早了 10 年或更長時間。由于沒有液體電解質(zhì)變干,OS-CON型電容器的使用壽命優(yōu)于傳統(tǒng)的鋁電解電容器。大多數(shù)電容器限制在 105°C,但現(xiàn)在提供能夠 125°C 工作的 OS-CON 型電容器。
雖然OS-CON型電容器的性能優(yōu)于傳統(tǒng)的鋁電解電容器,但它們往往比陶瓷或固體聚合物鉭電容器更大,ESR更高。與固體聚合物鉭電容器一樣,它們不會受到壓電效應(yīng)的影響,因此適用于低噪聲應(yīng)用。
為LDO電路選擇電容器
輸出電容
ADI公司的低壓差穩(wěn)壓器(LDO)可以使用小型、節(jié)省空間的陶瓷電容工作,只要它們具有低有效串聯(lián)電阻(ESR);輸出電容的ESR會影響LDO控制環(huán)路的穩(wěn)定性。為確保穩(wěn)定性,建議最小電容為1 μF,最大ESR為1 Ω。
輸出電容也會影響穩(wěn)壓器對負(fù)載電流變化的響應(yīng)。控制環(huán)路具有有限的大信號帶寬,因此輸出電容必須為非常快速的瞬變提供大部分負(fù)載電流。當(dāng)負(fù)載電流在500 mA/μs時從1 mA切換到200 mA時,無法提供足夠電流的1 μF電容會產(chǎn)生約80 mV的負(fù)載瞬變,如圖1所示。將電容增加到10 μF可將負(fù)載瞬變降至約70 mV,如圖2所示。將輸出電容進一步增加到20 μF,允許穩(wěn)壓器控制環(huán)路跟蹤,從而主動降低負(fù)載瞬變,如圖3所示。這些示例使用具有5 V輸入和3.3 V輸出的線性穩(wěn)壓器ADP151。
圖1.COUT = 1 μF時的瞬態(tài)響應(yīng)。
圖2.COUT = 10 μF時的瞬態(tài)響應(yīng)。
圖3.COUT = 20 μF時的瞬態(tài)響應(yīng)。
輸入旁路電容器
從V連接1 μF電容在接地會降低電路對印刷電路板 (PCB) 布局的敏感性,尤其是在遇到長輸入走線或高源阻抗時。當(dāng)輸出端需要超過1 μF時,增加輸入電容以匹配輸出電容。
輸入和輸出電容器屬性
輸入和輸出電容必須滿足預(yù)期工作溫度和工作電壓下的最低電容要求。陶瓷電容器具有多種電介質(zhì),每種電介質(zhì)相對于溫度和電壓具有不同的行為。對于 5V 應(yīng)用,建議使用 6.3V 至 10V 額定電壓的 X5R 或 X7R 電介質(zhì)。Y5V 和 Z5U 電介質(zhì)的特性相對于溫度和直流偏置較差,因此不適合與 LDO 一起使用。
圖4顯示了采用0402封裝的1μF、10V X5R電容器的電容與偏置電壓特性的關(guān)系。電容器的封裝尺寸和額定電壓對其電壓穩(wěn)定性有很大影響。通常,更大的封裝或更高的額定電壓將提供更好的電壓穩(wěn)定性。X5R 電介質(zhì)在 –40°C 至 +85°C 溫度范圍內(nèi)的溫度變化為 ±15%,與封裝或額定電壓無關(guān)。
圖4.電容與電壓特性的關(guān)系
為了確定溫度、元件容差和電壓范圍內(nèi)的最差情況電容,請根據(jù)溫度變化和容差來調(diào)整標(biāo)稱電容,如公式1所示:
CEFF = CBIAS × (1 – TVAR) × (1 –TOL)
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其中CBIAS是工作電壓下的標(biāo)稱電容;TVAR是溫度變化的最差情況電容(作為1的分?jǐn)?shù));TOL 是最差情況下的組件容差(作為 1 的分?jǐn)?shù))。
在本例中,對于 X5R 電介質(zhì),TVAR 在 –40°C 至 +85°C 范圍內(nèi)為 15%;托爾為10%;CBIAS在1.8 V時為0.94 μF,如圖4所示。在公式1中使用這些值得到:
CEFF= 0.94 μF × (1 – 0.15) × (1 – 0.1) = 0.719 μF
ADP151在工作電壓和溫度范圍內(nèi)的最小輸出旁路電容為0.70 μF,因此該電容滿足這一要求。
結(jié)論
為了保證LDO的性能,必須了解和評估直流偏置、溫度變化和旁路電容容差的影響。在需要低噪聲、低漂移或高信號完整性的應(yīng)用中,還必須考慮電容技術(shù)。所有電容器都會受到非理想行為的影響,因此選擇的電容器技術(shù)必須符合應(yīng)用的需求。
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