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4/17筑波科技 第三代半導體材料與測試技術研討會

2024-04-16
來源:筑波科技

屏幕截圖 2024-04-16 174348.png

  圖:4/17筑波科技 第三代半導體材料與測試技術研討會

  在電動車與新能源市場需求下,第三代半導體材料如碳化硅 (SiC) 和氮化鎵 (GaN) 具高頻率、耐高壓、優(yōu)異的散熱性能和高效能轉換,成為車用半導體、電源管理IC的關鍵技術。新型半導體材料如氧化鎵 (Ga2O3)、石墨烯等,具特殊電子性能,有望在未來電子器件發(fā)揮作用。在晶圓制造、檢測分析如:材料分析 (MA)、故障分析 (FA) 及車用半導體測試,有效掌握從研發(fā)到量產的制程。

  面對高效能運算和AI趨勢,先進封裝包括 3DIC 及硅光子技術,可提高頻寬互連能力。硅光子在高速通信和資料傳輸中具替代傳統電子元件潛力,帶來高效能、低耗能的資料處理,提高系統整合密度和效率。

  筑波科技與美商 Teradyne 合作推廣 ETS 解決功率器件和功率模塊測試,并利用太赫茲及拉曼檢測分析技術,應對非破壞性 Wafer 材料測試、3DIC 高階封裝的測試挑戰(zhàn)。誠摯邀請業(yè)界先進至報名網站注冊蒞臨參與。

  日期:2024年04月17日(三) 13:00-17:40

  線上直播 (VIP邀請ONLY)

  VIP貴賓/講師陣容/主題:

  • 美商泰瑞達: 高士卿臺灣區(qū)總經理

  • 筑波科技 謝易錚 業(yè)務項目經理:車用半導體與寬能隙半導體應用市場趨勢

  • SEMI Taiwan/ 陽明交大光電工程研究所 郭浩中教授:第三代半導體在 Silicon Photonics 及光電異質整合之運用

  • 清華大學材料科學工程學系 嚴大任 教授兼全球長:Tip-enhanced Raman Spectroscopy (TERS) with Super Spectral and Spatial Resolution for Noninvasive Analyses

  • 筑波科技 許永周 項目經理:第三代半導體Wafer材料測試與挑戰(zhàn)

  • 陽明交大機械工程系 成維華教授兼副院長:氮化鎵功率晶體管之前瞻應用

  • 陽明交大電子研究所 洪瑞華教授:第三代氧化鎵電性之研發(fā)

  • 正齊半導體 柳焱佳 技術總監(jiān):車載功率模塊測試解決方案

  • 筑波科技 官暉舜博士/ 研發(fā)經理:3DIC 高階封裝的非破壞性測試新里程碑




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