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KLA-Tencor 針對 32 納米光刻控制推出新的 Archer 200 型疊對測量系統(tǒng)

2008-06-10
作者:KLA-Tencor 公司
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kla-tencor" title="kla-tencor">kla-tencor.com/">KLA-Tencor 公司納斯達克" title="納斯達克">納斯達克股票代碼KLAC今天推出最新型疊對測量系統(tǒng) Archer 200,它包含一個能夠顯著改善性能的增強型光學系統(tǒng)這對于幫助客戶在 32 納米設計規(guī)格節(jié)點達到雙次成圖光刻更嚴格的疊對要求至關(guān)重要??蛻暨€可以選擇在 Archer 200 上增加 KLA-Tencor 先進的散射測量技術(shù),以在達到其特定的 32 納米及更小線距測量要求中提供更大的靈活性。?? ?

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KLA-Tencor 疊對測量部的副總裁兼總經(jīng)理 Ofer Greenberger 表示“32 納米設計的疊對預算被拉到極限,特別是采用雙次成圖技術(shù),并且芯片制造商" title="芯片制造商">芯片制造商正在尋求提高其疊對系統(tǒng)的精度與速度。我們新的 Archer 200 系統(tǒng)延伸了我們熟知的光學成像技術(shù)的性能優(yōu)勢,可滿足 32 納米光刻控制的所有層要求,并且其許多增強功能都可以在安裝的 Archer 的廣大客層上進行升級,以獲得最大" title="最大">最大投資回報。我們與主要光刻供應商的密切關(guān)系已在高階疊對控制中產(chǎn)生重要的強化作用,能幫助芯片制造商實施雙次成圖的更先進的掃描曝光機校正與監(jiān)控?!?/SPAN> ?

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作為 KLA-Tencor 持續(xù)關(guān)注先進成像技術(shù),以推動公司疊對路線圖向前發(fā)展的一部分,其工程師對 Archer 200 系統(tǒng)的核心光學設計進行了重大改進。與上一代 Archer 系統(tǒng)相比,這些開發(fā)成果讓機臺匹配度提高 50% 以上,產(chǎn)能提高 25%。匹配是疊對測量中的一個關(guān)鍵衡量標準,因為不同系統(tǒng)必須實現(xiàn)幾乎完全相同的層對準。這個更強的光學系統(tǒng)還有一個重新設計的光路,能夠通過更多的光,因為測量越快,產(chǎn)能就越高。新的相機管理算法可以加速系統(tǒng)作業(yè)并降低噪音,進一步提高產(chǎn)能和精確度。 ?

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32 納米設計規(guī)格節(jié)點為疊對測量帶來了兩項獨特挑戰(zhàn)更高的芯片密度及光刻雙次成圖。為了克服這兩項挑戰(zhàn),客戶必須增加疊對抽樣,并更加高效地使用先進的疊對目標。Archer 200 讓芯片制造商能夠使用業(yè)界標準 AIM 目標,或者甚至能夠被插入芯片自身內(nèi)部不同位置的更小的“微 AIM (μAIM)”目標。這種更強的疊對目標能力能夠?qū)崿F(xiàn)最大的掃描曝光機對準,由此帶來最大的設備產(chǎn)能。 ?

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Archer 200 系統(tǒng)提供了一個可選模塊,該模塊具備先進的散射疊對 (SCOL) 測量功能。此選項可實現(xiàn)亞納米級總測量誤差,讓客戶能夠無需多個專屬系統(tǒng)即可使用 SCOL 技術(shù)開始工作。 ?

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Archer 200 系統(tǒng)已被美國、歐洲及韓國的多家包含邏輯電路內(nèi)存代工廠在內(nèi)的芯片制造商應用于 45 納米生產(chǎn)及 32 納米開發(fā)。 ?

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關(guān)于 KLA-TencorKLA-Tencor 是為半導體制造及相關(guān)行業(yè)提供良率管理和制程控制解決方案的全球領(lǐng)先企業(yè)。該公司總部設在美國加州的圣何塞市,銷售及服務網(wǎng)絡遍布全球。KLA-Tencor 躋身于標準普爾 500 強公司之一,并在納斯達克全球精選市場上市交易,其股票代碼為 KLAC。有關(guān)該公司的更多信息,請訪問 http://www.kla-tencor.com。?

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