經(jīng)過(guò)十余年的發(fā)展，基于PC技術(shù)的高吞吐量、高實(shí)時(shí)同步和高可靠性的自動(dòng)化測(cè)試平臺(tái)PXI正在越來(lái)越多的領(lǐng)域發(fā)揮作用，從汽車(chē)ECU標(biāo)定與測(cè)量、模擬視頻和3D數(shù)字視頻測(cè)試、電子制造生產(chǎn)線測(cè)試、電動(dòng)汽車(chē)的電池管理系統(tǒng)測(cè)試、實(shí)時(shí)測(cè)試與硬件在環(huán)仿真應(yīng)用等。日前，第七屆“中國(guó)PXI技術(shù)和應(yīng)用論壇”（簡(jiǎn)稱PXI TAC）在深圳拉開(kāi)帷幕，大會(huì)就PXI技術(shù)在測(cè)試、控制和設(shè)計(jì)領(lǐng)域的最新技術(shù)和應(yīng)用展開(kāi)了多元討論。

　　NI中國(guó)區(qū)市場(chǎng)經(jīng)理朱君女士表示，PXI已經(jīng)是一個(gè)自動(dòng)化測(cè)試行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的平臺(tái)。目前全球PXI設(shè)備供應(yīng)商已經(jīng)超過(guò)70多家，一共發(fā)布超過(guò)10萬(wàn)套PXI系統(tǒng)，發(fā)布的模塊總數(shù)超過(guò)60萬(wàn)個(gè)。根據(jù)世界權(quán)威市場(chǎng)調(diào)研機(jī)構(gòu)Frost&Sullivan公司發(fā)布的報(bào)告顯示，PXI系統(tǒng)發(fā)布數(shù)量的年復(fù)合增長(zhǎng)率高達(dá)17.6%。作為一個(gè)開(kāi)放的、基于PC的平臺(tái)，PXI具有巨大的發(fā)展空間。

　　PXI架構(gòu)可以充分利用PC技術(shù)的高速發(fā)展，如高速的CPU、大容量的內(nèi)存、高分辨率的顯示器等，來(lái)不斷擴(kuò)展平臺(tái)的性能。例如，PC總線的發(fā)展從PCI到PCI Express （PCIe）極大地提高了數(shù)據(jù)帶寬,減少了對(duì)板載內(nèi)存的需求并且實(shí)現(xiàn)了更快的數(shù)據(jù)流傳輸?；赑CIe標(biāo)準(zhǔn)的PXI Express（PXIe）總線能夠充分利用更高帶寬這一優(yōu)點(diǎn)，為測(cè)試系統(tǒng)開(kāi)辟更多的應(yīng)用，包括高速串行總線、數(shù)字視頻、數(shù)字IF/RF和BER測(cè)試等。在此同時(shí)，PXI系統(tǒng)聯(lián)盟（PXISA）也一直針對(duì)自動(dòng)化測(cè)試的需求發(fā)布規(guī)范，例如為了滿足不斷加大的處理能力的要求，PXISA最近發(fā)布了PXI并行計(jì)算（PXI MultiComputing，簡(jiǎn)稱PXImc）規(guī)范。PXImc支持多處理器模塊在單一機(jī)箱中的使用，以擴(kuò)展處理能力，并為額外PXI特性，如增強(qiáng)冗余等進(jìn)行技術(shù)上的準(zhǔn)備。

　　PXI作為一種開(kāi)放式的平臺(tái)，便于集成其他技術(shù)。例如，通過(guò)導(dǎo)入FPGA技術(shù)，可將PXI用于高速實(shí)時(shí)控制，從而把PXI平臺(tái)的應(yīng)用范圍從測(cè)試測(cè)量擴(kuò)展到更廣泛的領(lǐng)域。此外，PXI能夠滿足絕大多數(shù)測(cè)試系統(tǒng)對(duì)于多種硬件平臺(tái)和總線的需求，提供所有常見(jiàn)的測(cè)量平臺(tái)和總線的軟硬件兼容性，能夠與傳統(tǒng)儀器以及VXI進(jìn)行集成，這不僅降低了傳統(tǒng)用戶的使用成本，保護(hù)其投資，還有利于后續(xù)的擴(kuò)展和集成。

　　在不久前發(fā)布的《自動(dòng)化測(cè)試技術(shù)展望2010》報(bào)告中，NI提出，自動(dòng)化測(cè)試領(lǐng)域?qū)⑾蛭鍌€(gè)方向繼續(xù)發(fā)展：1、采用標(biāo)準(zhǔn)化架構(gòu)；2、多通道RF測(cè)試；3、點(diǎn)對(duì)點(diǎn)高速傳輸與計(jì)算；4、實(shí)時(shí)測(cè)試；5、可重復(fù)配置的儀器。標(biāo)準(zhǔn)化架構(gòu)能夠解決從子系統(tǒng)到系統(tǒng)設(shè)計(jì)中的重復(fù)測(cè)試驗(yàn)證的問(wèn)題，能夠解決從開(kāi)發(fā)到量產(chǎn)過(guò)程中，在原型和生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)使用統(tǒng)一測(cè)試系統(tǒng)的問(wèn)題，同時(shí)，標(biāo)準(zhǔn)化架構(gòu)將有利于在全球化開(kāi)發(fā)環(huán)境下使用統(tǒng)一的測(cè)試系統(tǒng)，從而提高測(cè)試效率；多通道RF測(cè)試能夠滿足下一代無(wú)線通信系統(tǒng)測(cè)試要求從信號(hào)到軟件都能實(shí)現(xiàn)嚴(yán)格的并行同步的要求；點(diǎn)到點(diǎn)計(jì)算基于分布式架構(gòu)，可將多個(gè)儀器采集的數(shù)據(jù)直接流盤(pán)到系統(tǒng)中的FPGA進(jìn)行實(shí)時(shí)處理，系統(tǒng)其他資源可對(duì)這些數(shù)據(jù)進(jìn)行離線分析處理或更高級(jí)的運(yùn)算，以滿足不斷增加的復(fù)雜測(cè)試需求；實(shí)時(shí)測(cè)試能幫助工程師在整個(gè)開(kāi)發(fā)過(guò)程中實(shí)現(xiàn)嵌入式設(shè)計(jì)模型的重復(fù)利用；可重復(fù)配置基于FPGA技術(shù)，能夠?qū)崿F(xiàn)更高的性能和靈活性。