ADI參考電路設(shè)計(jì)-儀器儀表選集 | |
所屬分類:解決方案 | |
上傳者:wwei | |
文檔大?。?span>13063 K | |
標(biāo)簽: ADI 參考電路設(shè)計(jì) 儀器儀表 | |
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文檔介紹:本選集包含超過48個(gè)參考電路設(shè)計(jì),專門用于解決測(cè)試和測(cè)量應(yīng)用中的模擬、混合信號(hào)和射頻(RF)設(shè)計(jì)挑戰(zhàn)。儀器儀表工程師可以將這些電路筆記用作獨(dú)立解決方案,或者作為更復(fù)雜電路和子系統(tǒng)的基礎(chǔ)。這些電路設(shè)計(jì)由ADI應(yīng)用專家針對(duì)功能和性能構(gòu)建和驗(yàn)證,包括: ? 豐富的文檔,以便與各種應(yīng)用一起使用。 ? 完整的設(shè)計(jì)和集成文件,可最大程度減少系統(tǒng)集成方面的問題。 ? 經(jīng)過工廠測(cè)試的評(píng)估硬件,可與幾個(gè)開發(fā)平臺(tái)實(shí)現(xiàn)快速原型制作。 這些設(shè)計(jì)有助于節(jié)省時(shí)間,降低設(shè)計(jì)風(fēng)險(xiǎn)并縮短產(chǎn)品上市時(shí)間。 | |
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