基于PKS體系的終端性能場景驗(yàn)證方法研究 | |
所屬分類:技術(shù)論文 | |
上傳者:zhoubin333 | |
文檔大小:3505 K | |
標(biāo)簽: 國產(chǎn)化 PKS 性能驗(yàn)證 | |
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文檔介紹:近年來計(jì)算機(jī)硬件軟件體系國產(chǎn)化發(fā)展迅速,中國電子主導(dǎo)構(gòu)建的通用技術(shù)架構(gòu)和生態(tài)體系Phytium Kylin Security (PKS)也越來越成熟。目前關(guān)于終端性能場景驗(yàn)證方法的研究大多基于非國產(chǎn)化體系設(shè)備,缺少針對(duì)性,很難完全發(fā)掘出國產(chǎn)計(jì)算機(jī)硬件軟件體系的問題。提出了一種基于PKS體系的終端性能場景驗(yàn)證方法研究,并對(duì)國內(nèi)常見的國產(chǎn)設(shè)備進(jìn)行了終端性能場景驗(yàn)證方法的對(duì)比測試,實(shí)驗(yàn)結(jié)果顯示提出的基于PKS體系的終端性能場景驗(yàn)證方法研究對(duì)于國產(chǎn)化設(shè)備可以進(jìn)行更加針對(duì)、深入的測試,同時(shí)滿足了國內(nèi)終端性能場景驗(yàn)證的需求,實(shí)現(xiàn)了國產(chǎn)設(shè)備系統(tǒng)化自主檢驗(yàn)。 | |
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