數(shù)字電路中△I噪聲的危害 | |
所屬分類(lèi):技術(shù)論文 | |
上傳者:aet | |
文檔大?。?span>302 K | |
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文檔介紹:為適應(yīng)數(shù)字電子系統(tǒng)的發(fā)展需要,研究數(shù)字電路中△I噪聲的特性和抑制△I噪聲的技術(shù)變得越來(lái)越重要。在△I噪聲的產(chǎn)生過(guò)程及其基本特點(diǎn)的基礎(chǔ)上,研究了△I噪聲的主要危害。結(jié)果表明,△I噪聲主要引起數(shù)字系統(tǒng)的電源電壓波動(dòng)、電路內(nèi)部噪聲、輸出波形畸變和傳播延遲、功耗增加、輻射發(fā)射等問(wèn)題。 | |
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