USB3.0的物理層測試簡介與難點(diǎn)分析
所屬分類:技術(shù)論文
上傳者:serena
文檔大?。?span>921 K
標(biāo)簽: 接口IC
所需積分:0分積分不夠怎么辦?
文檔介紹:本文簡要介紹了USB3.0的物理層測試內(nèi)容和測試難點(diǎn)。力科的一致性測試軟件QualiPHY-USB3.0可以控制示波器、誤碼率測試儀PeRT3,快捷的、全自動(dòng)的測量USB3.0的所有測試項(xiàng)目,大大的簡化了工程師的測試與調(diào)試時(shí)間,是業(yè)內(nèi)最全面和 快捷的測試解決方案。
現(xiàn)在下載
VIP會(huì)員,AET專家下載不扣分;重復(fù)下載不扣分,本人上傳資源不扣分。