NIDays 2012再掀測試測量領域新浪潮
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上傳者：aet
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標簽： 前沿報道
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文檔介紹：2012年11月16日， 由美國國家儀器有限公司(National Instruments，簡稱NI)舉辦的一年一度的“NIDays全球圖形化系統(tǒng)設計盛會”中國站在北京萬達索菲特大飯店圓滿落幕。本屆NIDays吸引了近千名來自不同行業(yè)的工程師和二十多家行業(yè)媒體到會，通過精心挑選的技術講座、最新的產(chǎn)品與創(chuàng)新應用展示、精彩的互動交流等環(huán)節(jié)，向工程師們傳達了最新前沿技術信息以及NI在測試測量、控制和設計領域的應用革新。
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