《電子技術(shù)應(yīng)用》
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深度解析LPC1100低功耗設(shè)計的七個秘密
Rob Cosaro
恩智浦半導(dǎo)體
摘要: 本文旨在討論Cortex-M0 LPC1100微控制器系列的低功耗特性,以及有利于降低電源能耗的系統(tǒng)設(shè)計技術(shù)。這里從七個方面揭示NXP1100低功耗設(shè)計的秘密。
Abstract:
Key words :

    ARM Cortex-M0內(nèi)核使LPC1100的功耗數(shù)據(jù)與當(dāng)前的低功耗微控制器保持一致,但這種內(nèi)核的處理效率遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于目前的8位和16位處理器。這可以降低電池供電應(yīng)用的平均電流,延長電池壽命,也可減少其他應(yīng)用的功率要求。基于M0的LPC1100將對低功耗應(yīng)用的功能造成重要影響。本文旨在討論Cortex-M0 LPC1100微控制器系列的低功耗特性,以及有利于降低電源能耗的系統(tǒng)設(shè)計技術(shù)。這里從七個方面揭示NXP1100低功耗設(shè)計的秘密。

一、微控制器低功耗設(shè)計考慮因素
    定義:為了理解微控制器的功耗,必須首先了解CMOS器件功耗的基本構(gòu)成。功耗主要有兩類:動態(tài)功耗和靜態(tài)功耗。
    動態(tài)功耗:

動態(tài)功耗

    圖1所示為一種簡單的CMOS反相器。當(dāng)反相器切換時,必須加載或釋放負(fù)載電容,結(jié)果會消耗功率。負(fù)載電容是互聯(lián)電容及其驅(qū)動的所有器件的柵電容的結(jié)合體。在反相器不切換狀態(tài)下,消耗功率的是器件的泄露電流。因此,在既定工藝幾何結(jié)構(gòu)下,功耗隨電壓的平方而變化,隨頻率呈線性變化。功耗隨頻率呈線性變化這一特性導(dǎo)致了一個經(jīng)常被引用的微控制器指標(biāo),即每MHz的電流消耗值。

一種簡單的CMOS反相器
圖1 一種簡單的CMOS反相器

    對于低功耗器件,該值表示為uA/MH z,范圍在200uA/MHz至300uA/MHz以上。 此類數(shù)值具有一定誤導(dǎo)性,因為其測量沒有一個統(tǒng)一的標(biāo)準(zhǔn)。關(guān)鍵在于既定電流消耗下完成了多少工作,另一個更全面的指標(biāo)是既定計算消耗了多少能量。由于這類指標(biāo)尚未被廣泛采用,因此,本文將使用uA/MHz指標(biāo)。

    數(shù)字CMOS結(jié)構(gòu)每MHz消耗的電流并不是器件所耗電流的全部,還有支持?jǐn)?shù)字域必不可少的模擬電路。
這些可分為計時組件、電源控制組件、存儲器和外設(shè)。計時組件、電源控制組件和存儲器組件都是微控制器平臺的組成部分,是必要組件,而模擬外設(shè)則是功能套件的一部分,因微控制器系列而異。

LPC1100中采用的計時組件
表1 LPC1100中采用的計時組件

    表1所示為LPC1100中采用的計時組件。表中功耗由低到高排列。就如所有模擬設(shè)計一樣,精確度和所耗電流之間始終存在折衷。對于這些組件,LPC1100有一個靈活的控制方案,可以在功耗與精確度之間取得平衡,以適應(yīng)具體應(yīng)用。

LPC1100中的電源控制組件
表2 LPC1100中的電源控制組件

    表2描述的是LPC1100中的電源控制組件。與計時組件一樣,這些組件也可根據(jù)應(yīng)用要求進(jìn)行定制。 

    內(nèi)核的電流消耗不只關(guān)乎頻率,還涉及到必要內(nèi)核支持模擬組件的失調(diào)電流。這種電流有時也稱為零赫茲電流。由于LPC1100擁有靈活的時鐘結(jié)構(gòu),這種電流并不固定。隨著頻率的降低,關(guān)閉產(chǎn)生所需工作頻率不必要的時鐘組件可能會降低失調(diào)電流。

    舉例來說,在0至1MHz頻率范圍內(nèi),LPC1100可工作于精確度稍低的低功耗振蕩器之上,然后啟動精確度更高的內(nèi)部R C振蕩器,以提供1到12 MHz的頻率。

二、漏電功耗
    漏電功耗指CMOS接口在數(shù)字邏輯未切換時加載的電流。該電流高度依賴于工藝節(jié)點以及節(jié)點庫的優(yōu)化方式。對于L P C1100,節(jié)點庫針對低漏電而優(yōu)化。為用戶提供不同的斷電選擇可以進(jìn)一步優(yōu)化漏電。除CMOS接口處的漏電功耗以外,還可對這些模式中的多種模擬功能進(jìn)行控制。

LPC1100的電源模式
表3:LPC1100的電源模式

三、休眠模式
    休眠模式下,內(nèi)核時鐘關(guān)閉,但用戶可以選擇繼續(xù)開啟外設(shè)。這種模式下的功耗不但包括漏電功耗,還包括處于開啟狀態(tài)的外設(shè)帶來的動態(tài)功耗。該模式下仍可接收數(shù)據(jù),但內(nèi)核會保留其狀態(tài),并在需要時繼續(xù)運行。

四、電模式
    數(shù)字邏輯的所有時鐘均關(guān)閉,可以控制模擬子系統(tǒng),設(shè)置靈活的喚醒時間,具體視應(yīng)用要求而定。當(dāng)所有模擬時鐘元件均被關(guān)閉時,則為最低功耗模式。喚醒時間取決于喚醒時鐘源的選擇。選擇低功耗振蕩器時,時間最快,選擇晶體振蕩器和PLL時,時間最慢。

五、深度斷電模式

    該模式下,除一個始終開啟的小型域之外,微控制器內(nèi)部的電源均被關(guān)閉。這個始終開啟的域有一組寄存器,可以存儲微控制器進(jìn)入深度斷電模式之前的狀態(tài)信息。從該模式喚醒既可使用喚醒引腳,也可使用復(fù)位。

六、代碼效率
    LPC1100采用了ARM出品的新型Cortex-M0內(nèi)核,對動態(tài)電流和漏電流均有較大影響。以簡單的指令集為主可降低動態(tài)電流。M0多使用Thum b指令。此類指令位寬16,內(nèi)核將其解釋為32位指令。內(nèi)核還采用了一種經(jīng)簡化的總線接口,可減少門數(shù)和時鐘。另外,內(nèi)核所用架構(gòu)有利于利用時鐘門控和經(jīng)簡化的庫元素。在滿足上述所有要求的情況下,內(nèi)核的額定功耗不到70u A/MHz。如前所述,這個數(shù)值意義不大,因為它不能說明用這部分電流可以完成多少工作。然而,M0內(nèi)核的額定性能為0.9 DMIPS/MHz,高于ARM7內(nèi)核。使用這種內(nèi)核可進(jìn)一步改善漏電流,因為門數(shù)與8位和16位內(nèi)核相等。
由于漏電流與門數(shù)成正比,因此內(nèi)核邏輯中的任何節(jié)省均可產(chǎn)生重大影響。

七、低功耗系統(tǒng)考慮因素

    微控制器電源模式的使用方式取決于具體應(yīng)用。如果始終有電源,只是容量有限,則可以始終使微控制器處于計時狀態(tài)。LPC1100可以快速更改頻率,具體視處理需求而定。LPC1100在30MHz時的額定電流消耗為6m A。當(dāng)以1MHz運行于低功耗內(nèi)部振蕩器時,該數(shù)值還可降至略高于200uA的水平。
    然而,需要降低功耗的許多應(yīng)用都必須依賴斷電和深度斷電模式。這些應(yīng)用在大部分時間都處于靜止?fàn)顟B(tài),等待處理數(shù)據(jù)。處理器必須能快速喚醒,處理所需數(shù)據(jù),然后返回靜止?fàn)顟B(tài)。許多此類應(yīng)用均采用電池供電,這種情況下,低平均電流對于延長電池壽命至關(guān)重要。為了降低平均電流,必須盡快處理數(shù)據(jù),以減少工作周期。由于M0是一種32位處理器,其計算執(zhí)行速度比小寬度處理器更快。

    下頁的圖2展示了處理性能是如何影響平均電流的。數(shù)據(jù)假定,峰值電流和斷電電流在各類處理器上都是相同的。M0內(nèi)核的功耗可以達(dá)到低位寬處理器平均電流的一半到四分之一。借助M0,LPC1100可實現(xiàn)200uA/MHz的峰值電流。

    低平均電流對延長電池壽命至關(guān)重要。這就意味著低靜態(tài)電流和小工作周期。LPC1100在深度斷電模式下的電流不到300n A,峰值電流僅為200uA/MHz。圖4所示即為工作周期對電池壽命的影響。用于此類計算的電池是一枚230mAh的鋰離子鈕扣電池。該坐標(biāo)圖顯示了靜態(tài)電流對電池壽命的影響,以及要使
電池壽命超過3年所需要的工作周期。平均電流假定峰值電流為2mA,即LPC1100的工作頻率為10MHz。圖中還包括啟動時間的影響,因為降低靜態(tài)電流會延長啟動時間。如果使用LPC1100深度斷電模式,在200毫秒的周期中,當(dāng)處理時間為1毫秒時,實現(xiàn)3年的電池壽命是可能的。

結(jié)論

    M0內(nèi)核使LPC1100的功耗數(shù)據(jù)與當(dāng)前的低功耗微控制器保持一致,但這種內(nèi)核的處理效率遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于目前的8位和16位處理器。這可以降低電池供電應(yīng)用的平均電流,延長電池壽命,也可減少其他應(yīng)用的功率要求?;贛0的LPC1100將對低功耗應(yīng)用的功能造成重要影響。

平均電流
圖3:平均電流
工作周期對電池壽命的影響
圖4:工作周期對電池壽命的影響

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