《電子技術(shù)應(yīng)用》
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TI發(fā)布業(yè)內(nèi)首款80V半橋GaN FET模塊

2015-03-24
關(guān)鍵詞: 德州儀器TI GaNFET 電源方案

       近日,德州儀器推出了業(yè)內(nèi)首款80V、10A集成氮化鎵 (GaN) 場效應(yīng)晶體管 (FET) 功率級原型機。此次原型機由位于四方扁平無引線 (QFN) 封裝內(nèi)的一個高頻驅(qū)動器和兩個采用半橋配置的GaN FET組成,使之非常易于設(shè)計。如需了解更多信息,敬請訪問www.ti.com.cn/lmg5200-pr-cn。

       全新的LMG5200 GaN FET功率級原型機將有助于加快下一代GaN電源轉(zhuǎn)換解決方案的市場化,此方案為空間有限且高頻的工業(yè)應(yīng)用和電信應(yīng)用提供更高的功率密度和效率。

       TI高壓電源解決方案業(yè)務(wù)部副總裁Steve Lambouses表示:“過去基于GaN的電源設(shè)計面對的一大挑戰(zhàn)是與驅(qū)動GaN FET有關(guān)的不確定性,以及由封裝方式和設(shè)計布局布線所導致的寄生效應(yīng)。我們將采用先進、易于設(shè)計封裝的經(jīng)優(yōu)化集成模塊、驅(qū)動器和高頻控制器,組成的完整、可靠電源轉(zhuǎn)換生態(tài)系統(tǒng),從而使設(shè)計人員可以充分實現(xiàn)GaN技術(shù)在電源應(yīng)用方面的全部潛能。”

       實現(xiàn)GaN的優(yōu)勢

       通常情況下,使用GaN FET在高頻下進行開關(guān)的設(shè)計人員必須謹慎對待電路板布局布線,以避免振鈴和電磁干擾 (EMI)。TI的LMG5200雙80V功率級原型機極大地簡化了這個問題,同時又通過減少關(guān)鍵柵極驅(qū)動回路中的封裝寄生電感增加了功率級效率。LMG5200的特色就在于運用了高級多芯片封裝技術(shù),在優(yōu)化后還能夠支持頻率高達5MHz的電源轉(zhuǎn)換拓撲結(jié)構(gòu)。

       易于使用的6mmx8mm QFN 封裝無需底部填充,從而大大簡化了生產(chǎn)制造過程。封裝尺寸的減少進一步提升了GaN技術(shù)的應(yīng)用價值,并且有助于擴充GaN電源設(shè)計的用途,包括從高頻無線充電應(yīng)用到48V電信和工業(yè)設(shè)計的許多全新應(yīng)用。如需了解與TI完整GaN解決方案相關(guān)的更多信息,敬請訪問http://www.ti.com.cn/lsds/ti_zh/power-management/gate-driver-products.page。

LMG5200的關(guān)鍵特性和優(yōu)勢:

       · 最高功率密度。相對基于硅工藝的設(shè)計,首款集成80V半橋GaN功率級將功率損耗減少了25%,從而實現(xiàn)了單級轉(zhuǎn)換。

       · 增加可靠性的綜合GaN專用質(zhì)量保證計劃。如需了解更多內(nèi)容,敬請單擊此處。

       · 關(guān)鍵柵極驅(qū)動回路中的最低封裝寄生電感增加了功率級效率,并在減少EMI的同時提高dV/dt抗擾度。

       · 簡化的布局布線和可制造性。易于使用的QFN封裝免除了對于底部填充的需要,以解決高壓間隔方面的顧慮,從而提高了電路板的可制造性并降低了成本。

       工具和軟件

       除了訂購已上市的LMG5200評估模塊 (EVM),設(shè)計人員使用針對LMG5200的PSpice和TINA-TI模塊來仿真這項技術(shù)的性能和開關(guān)頻率優(yōu)勢,以便更快地開始設(shè)計工作。

       供貨情況

     目前可在TIStore中購買GaN功率級的原型機樣片。

     其他資源:

       · 查看TI GaN解決方案的綜合產(chǎn)品組合。

       · 下載以下白皮書:

       GaN模塊性能優(yōu)勢與硅工藝的對比。

       限定GaN產(chǎn)品可靠性的綜合方法。

       用GaN的發(fā)展前景推進電源解決方案不斷進步。

       · 加入德州儀器在線支持社區(qū),尋找解決方案,獲得幫助,并與同行工程師和TI專家分享知識和解決難題。


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