文獻標識碼: A
DOI:10.16157/j.issn.0258-7998.211819
中文引用格式: 胡長征,馬偉,高清運,等. 一種新型自毀芯片監(jiān)測和執(zhí)行電路的設計[J].電子技術應用,2022,48(2):23-27.
英文引用格式: Hu Changzheng,Ma Wei,Gao Qingyun,et al. Design of a new type of self-destruct chip monitoring and execution circuit[J]. Application of Electronic Technique,2022,48(2):23-27.
0 引言
當前自毀技術應用廣泛,在無人機的偵察系統(tǒng)、機密數(shù)據(jù)的存儲設備[1]以及關鍵芯片、電子政務和金融等領域都有很好的應用[2]。2016年,Jin-Woo Han等人提出了一種自毀式鰭片觸發(fā)器驅動的晶體管,在需要芯片自毀時,向觸發(fā)柵極施加觸發(fā)電壓,產生的靜電彎曲應力將破壞鰭片的源-漏延伸區(qū)域,使晶體管斷開,電路失去原本功能。2017年,解放軍海軍醫(yī)學研究所提出一種新的自觸發(fā)方法,這種方法是在監(jiān)測電路感知到設備外殼上的螺絲被擰下時[3],產生高電流信號使芯片燒毀。2018年長春聞鼓通信公司通過控制端發(fā)出自毀命令[4]時,芯片保護電路內部產生高壓擊毀芯片,以此達到防止信息泄露的目的。
在大多數(shù)自毀設計和應用中,自毀監(jiān)測的方式一直被忽視,導致自毀監(jiān)測方式單一,準確靈敏性較低。同時在監(jiān)測到自毀狀態(tài)到產生自毀信號,開始執(zhí)行自毀的整個過程時間較長,且其自毀程度不夠徹底,有時只能停止電路的正常工作,不能真正地破壞芯片數(shù)據(jù)的存儲模塊。
本設計針對自毀監(jiān)測方式和自毀信號產生速度的問題,基于閾值判斷等算法[5],提出了一種新型自毀芯片監(jiān)測和執(zhí)行電路系統(tǒng),可以通過封裝拆卸和上電時序[6],對芯片工作環(huán)境進行監(jiān)測,同時利用閾值判斷等算法對監(jiān)測數(shù)據(jù)進行分析和處理,產生自毀執(zhí)行信號,在較短的時間內執(zhí)行自毀。
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作者信息:
胡長征,馬 偉,高清運,胡偉波
(南開大學 電子信息與光學工程學院,天津300350)