文獻(xiàn)標(biāo)識(shí)碼: A
DOI:10.16157/j.issn.0258-7998.222635
中文引用格式: 張文文,唐映強(qiáng). 一種基于MCU芯片的FPGA原型驗(yàn)證平臺(tái)設(shè)計(jì)[J].電子技術(shù)應(yīng)用,2022,48(9):59-62.
英文引用格式: Zhang Wenwen,Tang Yingqiang. A FPGA prototype verification platform design based on MCU chip[J]. Application of Electronic Technique,2022,48(9):59-62.
0 引言
隨著對(duì)各種功能微控制單元(Microcontroller Unit,MCU)芯片的市場(chǎng)需求增加,怎么縮短MCU芯片開(kāi)發(fā)周期成為搶占市場(chǎng)一個(gè)關(guān)鍵難點(diǎn)。MCU芯片驗(yàn)證在研發(fā)中所占的比例越來(lái)越重,占據(jù)了整個(gè)研發(fā)周期的70%以上,縮短驗(yàn)證周期就是直接有效的辦法[1-3]。通常進(jìn)行前仿真驗(yàn)證功能,后仿真驗(yàn)證時(shí)序性能,而仿真速度太慢,在遇到問(wèn)題改設(shè)計(jì)后,如果只選擇驗(yàn)證修改部分的功能,驗(yàn)證覆蓋率達(dá)不到會(huì)減小流片的成功率。
用現(xiàn)場(chǎng)可編程邏輯門(mén)陣列(Programmable Gate Array,F(xiàn)PGA)驗(yàn)證功能可以比軟件仿真速度高出4~6個(gè)數(shù)量級(jí)[4],填補(bǔ)了仿真環(huán)境與實(shí)際芯片的巨大差距。對(duì)于仿真時(shí)間限制不能遍歷的情況,FPGA原型驗(yàn)證都可以輕松完成。同時(shí),F(xiàn)PGA可以給軟件設(shè)計(jì)人員提供硬件驗(yàn)證平臺(tái),軟件和芯片同時(shí)開(kāi)發(fā)可以加快產(chǎn)品的面市時(shí)間。
綜上可見(jiàn)FPGA原型驗(yàn)證平臺(tái)[5-7]的構(gòu)建在整個(gè)開(kāi)發(fā)過(guò)程的重要性。如何快速構(gòu)建FPGA原型驗(yàn)證平臺(tái),使其能擔(dān)此重任,正是本設(shè)計(jì)的初衷。
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作者信息:
張文文,唐映強(qiáng)
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