文獻(xiàn)標(biāo)志碼:A
DOI: 10.16157/j.issn.0258-7998.223026
中文引用格式: 鄧佳偉,王琪,張梅娟,等. 多態(tài)性PCIE橋擴(kuò)展芯片的設(shè)計(jì)和硅后驗(yàn)證[J]. 電子技術(shù)應(yīng)用,2023,49(2):20-25.
英文引用格式: Deng Jiawei,Wang Qi,Zhang Meijuan,et al. Design and post-silicon verification of polymorphic PCIE bridge expansion chip[J]. Application of Electronic Technique,2023,49(2):20-25.
0 引言
PCIE是一種高速串行計(jì)算機(jī)擴(kuò)展總線標(biāo)準(zhǔn),由Intel在2001年提出,旨在替換老舊的PCI、PCI-X的總線標(biāo)準(zhǔn)。
PCIE屬于高速串行點(diǎn)對(duì)點(diǎn)雙通道高帶寬傳輸,所連接的設(shè)備分配獨(dú)享通道帶寬,不貢獻(xiàn)總線帶寬,主要支持主動(dòng)電源管理、錯(cuò)誤報(bào)告、端對(duì)端的可靠性傳輸、熱插拔等功能。PCIE有多種規(guī)格,從PCIE x1到x32。
芯片流片完成后,硅后系統(tǒng)測(cè)試開(kāi)始,驗(yàn)證人員依照系統(tǒng)集成的順序從底層單元開(kāi)始測(cè)試。驗(yàn)證前,需將芯片測(cè)試開(kāi)發(fā)板結(jié)合起來(lái),或?qū)⑿酒?qū)動(dòng)程序編程到開(kāi)發(fā)系統(tǒng)。隨后和設(shè)計(jì)人員和驗(yàn)證人員溝通。一旦驗(yàn)證出現(xiàn)問(wèn)題,需要驗(yàn)證人員評(píng)判缺陷情況,從軟件層面給出是否有可行補(bǔ)救方案。如果芯片存在最終無(wú)法避免的缺陷,該缺陷嚴(yán)重影響芯片功能,就需要在下個(gè)芯片周期中去修復(fù)該問(wèn)題[1]。
多態(tài)性指的是多種表現(xiàn)形態(tài),指同一事物通過(guò)不同的執(zhí)行方式實(shí)現(xiàn)了不同內(nèi)容的行為。換言之,同一個(gè)芯片通過(guò)不同的執(zhí)行流程,最后形成了不同的芯片功能。
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作者信息:
鄧佳偉,王琪,張梅娟,張明月,楊楚瑋
(中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第五十八研究所, 江蘇 無(wú)錫 214060)