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英特爾官網(wǎng)披露Intel 3 工藝節(jié)點(diǎn)技術(shù)細(xì)節(jié)

應(yīng)用更多EUV光刻,同功耗頻率提升至多18%
2024-06-20
來源:IT之家
關(guān)鍵詞: 英特爾 Intel3工藝 EUV光刻

6 月 19 日消息,作為 2024 IEEE VLSI 研討會(huì)活動(dòng)的一部分,英特爾近日在官網(wǎng)介紹了 Intel 3 工藝節(jié)點(diǎn)的技術(shù)細(xì)節(jié)。

Intel 3 是英特爾最后一代 FinFET 晶體管工藝,相較 Intel 4 增加了使用 EUV 的步驟,也將是一個(gè)長(zhǎng)期提供代工服務(wù)的節(jié)點(diǎn)家族,包含基礎(chǔ) Intel 3 和三個(gè)變體節(jié)點(diǎn)。

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其中 Intel 3-E 原生支持 1.2V 高電壓,適合模擬模塊的制造;而未來的 Intel 3-PT 進(jìn)一步提升了整體性能,并支持更精細(xì)的 9μm 間距 TSV 和混合鍵合。

英特爾宣稱,作為其“終極 FinFET 工藝”,Intel 3-PT 將在未來多年成為主流選擇,與埃米級(jí)工藝節(jié)點(diǎn)一同被內(nèi)外部代工客戶使用。

相較于僅包含 240nm 高性能庫(kù)(注:HP 庫(kù))的 Intel 4 工藝,Intel 3 引入了 210nm 的高密度(HD)庫(kù),在晶體管性能取向上提供更多可能。

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英特爾表示,其基礎(chǔ) Intel 3 工藝在采用高密度庫(kù)的情況下,可相較 Intel 4 工藝至多可提升 18% 頻率。

此外英特爾還宣稱基礎(chǔ)版 Intel 3 工藝密度也增加了 10%,實(shí)現(xiàn)了“全節(jié)點(diǎn)”級(jí)別的提升。

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而在晶體管上的金屬布線層部分,Intel 3 在 Intel 4 的 14+2 層外還提供了 12+2 和 19+2 兩種新選項(xiàng),分別面向低成本和高性能用途。

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具體到每個(gè)金屬層而言,英特爾在 Intel 3 的 M0 和 M1 等關(guān)鍵層上保持了與 Intel 4 相同的間距,主要是將 M2 和 M4 的間距從 45nm 降低至 42nm。


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