基于聚類的密碼芯片頻域側(cè)信道分析 | |
所屬分類:技術(shù)論文 | |
上傳者:aetmagazine | |
文檔大?。?span>549 K | |
標(biāo)簽: 側(cè)信道分析 頻域 機(jī)器學(xué)習(xí) | |
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文檔介紹:能量跡的對齊問題是影響側(cè)信道分析成功率的關(guān)鍵因素之一,頻域側(cè)信道分析能夠有效解決能量跡在時(shí)域內(nèi)的對齊問題,但由于頻域內(nèi)一個點(diǎn)對應(yīng)著時(shí)域內(nèi)多個點(diǎn),頻域側(cè)信道分析通常需要比時(shí)域側(cè)信道分析更多的能量跡條數(shù)。為了減少頻域側(cè)信道分析所需能量跡條數(shù),提出基于聚類的密碼芯片頻域側(cè)信道分析方法,通過機(jī)器學(xué)習(xí)中的聚類算法分離出有效信號頻率后,再進(jìn)行側(cè)信道分析,從而減少所需能量跡條數(shù)。實(shí)驗(yàn)表明,所提方法能夠在不同程度上減少頻域側(cè)信道分析所需能量跡條數(shù)。 | |
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