Spectre X RF在大規(guī)模RFIC設(shè)計(jì)中的應(yīng)用 | |
所屬分類(lèi):技術(shù)論文 | |
上傳者:aetmagazine | |
文檔大?。?span>795 K | |
標(biāo)簽: SPECTRE X RF 模擬下變頻 大規(guī)模后仿驗(yàn)證 | |
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文檔介紹:隨著工藝尺寸的不斷縮小,電路規(guī)模的不斷復(fù)雜化以及版圖中寄生規(guī)模的不斷增大,在一些大規(guī)模的后仿驗(yàn)證過(guò)程中,Cadence公司提供的模擬全精度仿真器Spectre/APS/APS RF已不能滿(mǎn)足需求。針對(duì)這一問(wèn)題,Cadence于2019年推出APS的下一代模擬全精度仿真器Spectre X,在實(shí)際使用過(guò)程中發(fā)現(xiàn)其對(duì)普通模擬仿真性能提升明顯并且基本保持了APS的仿真精度。2020年,Cadence推出其APS RF的下一代仿真器Spectre X RF 仿真器。RF仿真在整體仿真驗(yàn)證流程中同樣占據(jù)很大一部分,在將其應(yīng)用到實(shí)際項(xiàng)目前,需要與APS RF對(duì)比其性能和速度。介紹了Spectre X RF的用法,并重點(diǎn)介紹在幾種采用不同工藝的RFIC設(shè)計(jì)中,仿真器Spectre APS RF與Spectre X RF仿真性能與精度的對(duì)比情況。 | |
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