基于JTAG的高效調(diào)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)
所屬分類：技術(shù)論文
上傳者：zhoubin333
文檔大?。?span>3530 K
標(biāo)簽： 調(diào)試系統(tǒng) JTAG接口 IEEE1149.1
所需積分：0分積分不夠怎么辦？
文檔介紹：為了給自研處理器芯片提供一種高效方便的調(diào)試方法，提出了一種基于JTAG的片內(nèi)調(diào)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)方法。該調(diào)試系統(tǒng)在遵循JTAG標(biāo)準(zhǔn)協(xié)議的基礎(chǔ)上，簡化片內(nèi)調(diào)試硬件模式設(shè)計(jì)，以較少的硬件開銷和精簡高效的專用調(diào)試指令設(shè)計(jì)，不僅實(shí)現(xiàn)了調(diào)試中斷、指令/數(shù)據(jù)斷點(diǎn)設(shè)置、單步執(zhí)行及寄存器/存儲器數(shù)據(jù)讀寫等基本調(diào)試功能，還支持現(xiàn)場保護(hù)與恢復(fù)、Trace Buffer、指令插入執(zhí)行等高級調(diào)試功能。經(jīng)實(shí)際芯片測試證明，該調(diào)試系統(tǒng)具有兼容JTAG協(xié)議、功能全面、靈活高效、結(jié)構(gòu)簡單、便于操作等特點(diǎn)。
現(xiàn)在下載
VIP會(huì)員，AET專家下載不扣分；重復(fù)下載不扣分，本人上傳資源不扣分。