高精度高擺幅多工位ADC測試系統(tǒng)設(shè)計
所屬分類:技術(shù)論文
上傳者:zhoubin333
文檔大?。?span>5794 K
標簽: 自動測試設(shè)備 A/D 轉(zhuǎn)換器 動態(tài)參數(shù)測試
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文檔介紹:基于V93000 ATE設(shè)計了一種采用外加電源升壓變換模塊及可變增益儀器儀表運算放大器,以解決大輸入擺幅高精度多工位ADC的量產(chǎn)測試需求的測試方案。理論分析和測試驗證結(jié)果表明,該ADC測試系統(tǒng)可分別產(chǎn)生峰峰值超過29 V的Ramp波和正弦波測試信號,測試信號SNR優(yōu)于105 dB、THD優(yōu)于-103 dB,可以滿足16 bit、±10 V甚至以上高輸入擺幅多工位ADC的大批量量產(chǎn)測試需求。
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