NI-Hardware-in-the-Loop (HIL) Test System
所屬分類：解決方案
上傳者：wwei
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標(biāo)簽： NI HIL測(cè)試 硬件在環(huán)測(cè)試
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文檔介紹：NI-Hardware-in-the-Loop (HIL) Test System 硬件在環(huán)測(cè)試（Hardware in the Loop, HIL），是指將真的控制器連接仿真的被控對(duì)象（用實(shí)時(shí)仿真硬件來(lái)模擬），以一種高效、低成本的方式對(duì)控制器進(jìn)行全面測(cè)試。 乘著智能汽車的風(fēng)口，HIL（硬件在環(huán)測(cè)試）被業(yè)界所熟知。更早以前，HIL測(cè)試主要用于航空航天行業(yè)，隨著醫(yī)療、消費(fèi)電子行業(yè)越來(lái)越多使用嵌入式軟件，HIL測(cè)試逐漸在這些行業(yè)普及開(kāi)來(lái)。
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