基于ATE的千級數(shù)量管腳FPGA多芯片同測技術(shù)
所屬分類：技術(shù)論文
上傳者：wwei
文檔大?。?span>3523 K
標簽： 現(xiàn)場可編程門陣列 自動化測試系統(tǒng) 多芯片同測
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文檔介紹：隨著超大規(guī)模FPGA芯片技術(shù)發(fā)展，芯片管腳數(shù)量提升到1 000以上，如何實現(xiàn)超大規(guī)模多引腳FPGA芯片高效測試成為ATE在線測試難點。針對一款千級數(shù)量管腳超大規(guī)模的FPGA芯片，基于FPGA的可編程特性，采用多芯片有效pin功能并行測試和單芯片全pin電性能參數(shù)測試相結(jié)合的方法進行ATE測試，實現(xiàn)了千級數(shù)量管腳FPGA芯片的4芯片同測，測試效率提升3倍多。
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